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活動 第十三屆國際電子測試與測量專業(yè)研討會
[導(dǎo)讀]時間：2009年11月11日
地點：上海新國際博覽中心W2-M9會議室
主辦單位：中國電子學(xué)會
中國電子器材總公司 會議日程時間演講題目演講人09:30-09:45中國電子學(xué)會領(lǐng)導(dǎo)致辭中國電子學(xué)會常務(wù)理事，
電子..
時間：2009年11月11日
地點：上海新國際博覽中心W2-M9會議室 |
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 會議背景 |
國家中長期發(fā)展的規(guī)劃綱要確定了核心電子器件、高端通用芯片及基礎(chǔ)軟件，極大規(guī)模集成電路制造技術(shù)及成套工藝等重大項目，要求緊密結(jié)合經(jīng)濟社會發(fā)展的重大需求，培育能形成具有核心自主知識產(chǎn)權(quán)、對企業(yè)自主創(chuàng)新能力的提高具有重大推動作用的戰(zhàn)略性產(chǎn)業(yè)。受益于國內(nèi)巨大的消費市場和中國制造業(yè)大國的地位，我國集成電路產(chǎn)業(yè)已經(jīng)連續(xù)多年保持高速增長。但是在我國目前集成電路產(chǎn)業(yè)格局中，測試是相對薄弱環(huán)節(jié)，國產(chǎn)集成電路設(shè)備市場占有率很低，研發(fā)嚴重滯后，與國外水平差距越來越大，已嚴重影響我國集成電路產(chǎn)業(yè)的發(fā)展。
為此，中國電子學(xué)會和中國電子器材總公司將于11月11日，在“第74屆中國（上海）電子展”期間聯(lián)合主辦 “2009集成電路測試技術(shù)研討峰會”，邀請來自臺灣、香港著名學(xué)者進行“兩岸三地”學(xué)術(shù)交流，共同探討集成電路最新測試技術(shù)、測試方法，以及高性能測試系統(tǒng)研發(fā)。
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| 組織結(jié)構(gòu) |
主辦單位：中國電子學(xué)會 中國電子器材總公司
承辦單位：中國電子學(xué)會電子測量與儀器分會
北京自動測試技術(shù)研究所
中電會展與信息傳播有限公司
支持媒體：《中國電子商情》 《電子測量與儀器學(xué)報》
《儀器儀表學(xué)報》 《國外電子測量技術(shù)》
《電子測量技術(shù)》 《電子測試》
中華電子網(wǎng) 中國儀器與測量網(wǎng) |
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| 會議內(nèi)容 |
· IC測試系統(tǒng)及設(shè)備
數(shù)字/模擬混合測試系統(tǒng)
SoC測試系統(tǒng)
存儲器測試系
LCD Driver測試系統(tǒng)
電源管理IC測試系統(tǒng)
半導(dǎo)體測試系統(tǒng)和設(shè)備
測試系統(tǒng)總線技術(shù)
測試系統(tǒng)接口技術(shù)
測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)、總線、接口標準
測試系統(tǒng)軟件及控制
虛擬測試與在線測試
RF及高速芯片測試系統(tǒng)
· IC 測試技術(shù)及方法
DFT（Design For Test, 可測性設(shè)計）
BIST(Built In Self Test，內(nèi)建自測試)
設(shè)計驗證與測試
掃描測試技術(shù)
IC診斷與調(diào)試技術(shù)
嵌入式系統(tǒng)測試技術(shù)
SoC測試標準及方法
IP核測試標準及方法
Sensor、MEMS、Microsystem測試技術(shù)
SiP與3D芯片測試技術(shù)
測試語言及轉(zhuǎn)換
· IC測試市場及產(chǎn)業(yè)分析
集成電路測試產(chǎn)業(yè)發(fā)展狀況與分析
集成電路測試設(shè)備市場狀況
集成電路測試設(shè)備技術(shù)發(fā)展與產(chǎn)業(yè)狀況
IC設(shè)計、制造與封裝技術(shù)的發(fā)展對測試提出的挑戰(zhàn)
專用IC測試系統(tǒng)的市場與發(fā)展機遇 |
