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第十三屆國(guó)際電子測(cè)試與測(cè)量專業(yè)研討會(huì)

  • 時(shí)間：2000-11-09 15:01:36

[導(dǎo)讀]時(shí)間：2009年11月11日
地點(diǎn)：上海新國(guó)際博覽中心W2-M9會(huì)議室
主辦單位：中國(guó)電子學(xué)會(huì)
　　　　　中國(guó)電子器材總公司　 會(huì)議日程時(shí)間演講題目演講人09:30-09:45中國(guó)電子學(xué)會(huì)領(lǐng)導(dǎo)致辭中國(guó)電子學(xué)會(huì)常務(wù)理事，
電子..

時(shí)間：2009年11月11日
地點(diǎn)：上海新國(guó)際博覽中心W2-M9會(huì)議室
　
會(huì)議背景
國(guó)家中長(zhǎng)期發(fā)展的規(guī)劃綱要確定了核心電子器件、高端通用芯片及基礎(chǔ)軟件，極大規(guī)模集成電路制造技術(shù)及成套工藝等重大項(xiàng)目，要求緊密結(jié)合經(jīng)濟(jì)社會(huì)發(fā)展的重大需求，培育能形成具有核心自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)、對(duì)企業(yè)自主創(chuàng)新能力的提高具有重大推動(dòng)作用的戰(zhàn)略性產(chǎn)業(yè)。受益于國(guó)內(nèi)巨大的消費(fèi)市場(chǎng)和中國(guó)制造業(yè)大國(guó)的地位，我國(guó)集成電路產(chǎn)業(yè)已經(jīng)連續(xù)多年保持高速增長(zhǎng)。但是在我國(guó)目前集成電路產(chǎn)業(yè)格局中，測(cè)試是相對(duì)薄弱環(huán)節(jié)，國(guó)產(chǎn)集成電路設(shè)備市場(chǎng)占有率很低，研發(fā)嚴(yán)重滯后，與國(guó)外水平差距越來(lái)越大，已嚴(yán)重影響我國(guó)集成電路產(chǎn)業(yè)的發(fā)展。

為此，中國(guó)電子學(xué)會(huì)和中國(guó)電子器材總公司將于11月11日，在“第74屆中國(guó)（上海）電子展”期間聯(lián)合主辦 “2009集成電路測(cè)試技術(shù)研討峰會(huì)”，邀請(qǐng)來(lái)自臺(tái)灣、香港著名學(xué)者進(jìn)行“兩岸三地”學(xué)術(shù)交流，共同探討集成電路最新測(cè)試技術(shù)、測(cè)試方法，以及高性能測(cè)試系統(tǒng)研發(fā)。
　
組織結(jié)構(gòu)
主辦單位：中國(guó)電子學(xué)會(huì)　　　　　中國(guó)電子器材總公司
承辦單位：中國(guó)電子學(xué)會(huì)電子測(cè)量與儀器分會(huì)
　　　　　北京自動(dòng)測(cè)試技術(shù)研究所
　　　　　中電會(huì)展與信息傳播有限公司
支持媒體：《中國(guó)電子商情》　　　《電子測(cè)量與儀器學(xué)報(bào)》
　　　　　《儀器儀表學(xué)報(bào)》　　　《國(guó)外電子測(cè)量技術(shù)》
　　　　　《電子測(cè)量技術(shù)》　　　《電子測(cè)試》
　　　　　中華電子網(wǎng)　　　　　　中國(guó)儀器與測(cè)量網(wǎng)
　
會(huì)議內(nèi)容
· IC測(cè)試系統(tǒng)及設(shè)備
數(shù)字/模擬混合測(cè)試系統(tǒng)
SoC測(cè)試系統(tǒng)
存儲(chǔ)器測(cè)試系
LCD Driver測(cè)試系統(tǒng)
電源管理IC測(cè)試系統(tǒng)
半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)和設(shè)備
測(cè)試系統(tǒng)總線技術(shù)
測(cè)試系統(tǒng)接口技術(shù)
測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)、總線、接口標(biāo)準(zhǔn)
測(cè)試系統(tǒng)軟件及控制
虛擬測(cè)試與在線測(cè)試
RF及高速芯片測(cè)試系統(tǒng)

· IC 測(cè)試技術(shù)及方法
DFT（Design For Test, 可測(cè)性設(shè)計(jì)）
BIST(Built In Self Test，內(nèi)建自測(cè)試)
設(shè)計(jì)驗(yàn)證與測(cè)試
掃描測(cè)試技術(shù)
IC診斷與調(diào)試技術(shù)
嵌入式系統(tǒng)測(cè)試技術(shù)
SoC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)及方法
IP核測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)及方法
Sensor、MEMS、Microsystem測(cè)試技術(shù)
SiP與3D芯片測(cè)試技術(shù)
測(cè)試語(yǔ)言及轉(zhuǎn)換

· IC測(cè)試市場(chǎng)及產(chǎn)業(yè)分析
集成電路測(cè)試產(chǎn)業(yè)發(fā)展?fàn)顩r與分析
集成電路測(cè)試設(shè)備市場(chǎng)狀況
集成電路測(cè)試設(shè)備技術(shù)發(fā)展與產(chǎn)業(yè)狀況
IC設(shè)計(jì)、制造與封裝技術(shù)的發(fā)展對(duì)測(cè)試提出的挑戰(zhàn)
專用IC測(cè)試系統(tǒng)的市場(chǎng)與發(fā)展機(jī)遇