優(yōu)化測(cè)試

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  • 優(yōu)化測(cè)試和調(diào)試流程：提升FPGA設(shè)計(jì)的可靠性

    在現(xiàn)代電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)中，F(xiàn)PGA（現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列）已成為實(shí)現(xiàn)高性能、高可靠性系統(tǒng)的關(guān)鍵組件。然而，隨著FPGA設(shè)計(jì)的復(fù)雜性不斷增加，測(cè)試和調(diào)試流程也面臨著巨大的挑戰(zhàn)。為了提升FPGA設(shè)計(jì)的可靠性和可維護(hù)性，優(yōu)化測(cè)試和調(diào)試流程顯得尤為重要。本文將探討如何通過(guò)內(nèi)建自測(cè)試、掃描鏈插入以及調(diào)試邏輯等方法來(lái)優(yōu)化FPGA的測(cè)試和調(diào)試流程，并結(jié)合示例代碼進(jìn)行說(shuō)明。

  • 如何通過(guò)優(yōu)化測(cè)試和調(diào)試流程來(lái)提高FPGA設(shè)計(jì)的可靠性

    在復(fù)雜多變的電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)領(lǐng)域，現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列（FPGA）以其高度的靈活性和可配置性，成為實(shí)現(xiàn)高性能、高可靠性系統(tǒng)的關(guān)鍵組件。然而，F(xiàn)PGA設(shè)計(jì)的復(fù)雜性也帶來(lái)了測(cè)試與調(diào)試的巨大挑戰(zhàn)。優(yōu)化測(cè)試和調(diào)試流程，不僅能夠有效提升FPGA設(shè)計(jì)的可靠性，還能加速產(chǎn)品上市時(shí)間，降低開(kāi)發(fā)成本。本文將從多個(gè)方面探討如何通過(guò)優(yōu)化測(cè)試和調(diào)試流程來(lái)提高FPGA設(shè)計(jì)的可靠性，并結(jié)合示例代碼進(jìn)行說(shuō)明。

  • TD商務(wù)終端的路測(cè)與優(yōu)化測(cè)試

    在中國(guó)移動(dòng)集團(tuán)公司每年組織的TD-SCDMA（以下簡(jiǎn)稱(chēng)TD）網(wǎng)絡(luò)自動(dòng)路測(cè)考核中，各省會(huì)城市、部分地級(jí)市都取得了不俗的成績(jī)，表明TD網(wǎng)絡(luò)已實(shí)現(xiàn)較好的連續(xù)覆蓋。但是，對(duì)于廣大的用戶(hù)來(lái)說(shuō)，TD終端在使用過(guò)程中總會(huì)遇到這樣