在電子產(chǎn)品開發(fā)的實(shí)踐過程中,往往會(huì)碰到很多干擾方面的問題,這些問題對(duì)產(chǎn)品的可靠性和性能指標(biāo)都會(huì)產(chǎn)生嚴(yán)重影響,同時(shí)需要大量時(shí)間和資源去進(jìn)行排查修正,成為產(chǎn)品量產(chǎn)的瓶頸。在測(cè)試測(cè)量產(chǎn)品設(shè)計(jì)中,共地干擾就是較為常見的一類干擾。
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