處理器測(cè)試性

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提高遙測(cè)信號(hào)處理器測(cè)試性的一種方法

　　可測(cè)試性定義為：產(chǎn)品能及時(shí)準(zhǔn)確地確定其狀態(tài)，隔離其內(nèi)部故障的設(shè)計(jì)特性，以提高產(chǎn)品可測(cè)試性為目的而進(jìn)行的設(shè)計(jì)被稱(chēng)為可測(cè)試性設(shè)計(jì)。可測(cè)試性是同可靠性、維修性相并列的一門(mén)新型學(xué)科，其發(fā)展和應(yīng)

測(cè)試測(cè)量
2018-06-21

遙測(cè)信號(hào) 處理器測(cè)試性