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微波暗室靜區(qū)性能測量及影響因素分析
摘 要 ：在天線、雷達(dá)等無線通信產(chǎn)品和電子設(shè)備的測試中，微波暗室是一個理想的場所，在民用、軍事及專項工程領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用，如何評估暗室的靜區(qū)性能也變得愈發(fā)重要。基于測量靜區(qū)反射電平的自由空間電壓駐波比（VSWR 法），給出了測量原理和具體的測量過程，以及測量系統(tǒng)的布置方案，并通過測量實例進(jìn)行驗證。結(jié)合實際測量中出現(xiàn)的問題，對可能影響測量結(jié)果的因素和需要注意的問題進(jìn)行了分析，并提出了相應(yīng)的解決方案， 對微波暗室的日常使用維護(hù)和微波暗室性能測量系統(tǒng)的組建具有一定的參考價值。
