芯片測試原理討論在芯片開發(fā)和生產(chǎn)過程中芯片測試的基本原理,一共分為四章,下面將要介紹的是最后一章。第一章介紹了芯片測試的基本原理,第二章介紹了這些基本原理在存儲器和邏輯芯片的測試中的應(yīng)用,
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