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是德科技推出適用于功率半導(dǎo)體的3kV高壓晶圓測試系統(tǒng)
是德科技(Keysight Technologies, Inc.)近日推出全新的 4881HV 高壓晶圓測試系統(tǒng)，進(jìn)一步擴(kuò)展了其半導(dǎo)體測試產(chǎn)品組合。該解決方案通過在一次性測試中高效完成高達(dá)3kV的高低壓參數(shù)測試，從而顯著提升了功率半導(dǎo)體制造商的生產(chǎn)效率。
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為什么要進(jìn)行芯片測試?芯片需要進(jìn)行哪些測試?
今天，小編將在這篇文章中為大家?guī)硇酒瑴y試的有關(guān)報(bào)道，通過閱讀這篇文章，大家可以對芯片測試具備清晰的認(rèn)識，主要內(nèi)容如下。
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晶圓探針測試工藝以及相關(guān)設(shè)備介紹
晶圓探針測試主要設(shè)備有探針測試臺，探針測試機(jī)，探針測試卡三部分，全部由測試系統(tǒng)應(yīng)用測試程序來執(zhí)行測試。
