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SAS的測試項(xiàng)目和測試碼型
SAS規(guī)范定義了不同的測試點(diǎn)，以適應(yīng)不同的測試內(nèi)容的要求。這里面包括可以通過測試夾具測試到的測試點(diǎn)IT/CT以及在電纜或背板末端的IR/CR，在芯片內(nèi)部的發(fā)射端在封裝之前的芯片Die上的測試點(diǎn)ET，以及
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