自上世紀(jì)50年代以來(lái),隨著微電子技術(shù)、通信技術(shù)及計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò)技術(shù)的發(fā)展和大規(guī)模集成電路的廣泛應(yīng)用,電子設(shè)備數(shù)字電路故障維修越來(lái)越復(fù)雜,測(cè)試難度越來(lái)越大。與此同時(shí),數(shù)字電路的測(cè)試與診斷研究也取得了突破性的進(jìn)
自上世紀(jì)50年代以來(lái),隨著微電子技術(shù)、通信技術(shù)及計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò)技術(shù)的發(fā)展和大規(guī)模集成電路的廣泛應(yīng)用,電子設(shè)備數(shù)字電路故障維修越來(lái)越復(fù)雜,測(cè)試難度越來(lái)越大。與此同時(shí),數(shù)字電路的測(cè)試與診斷研究也取得了突破性的進(jìn)
O 引 言 通常意義的的集成電路測(cè)試,只是施加測(cè)試以判斷被測(cè)電路是否存在故障,并不對(duì)故障進(jìn)行定位、確定故障類型、明確故障發(fā)生的根本原因。隨著集成電路技術(shù)的飛速發(fā)展,對(duì)集成電路測(cè)試提出了更高的要求,必須