現(xiàn)代儀器的質(zhì)量指標(biāo)與儀器的主要結(jié)構(gòu)參數(shù)之間有一定的制約關(guān)系。要使總目標(biāo)好,實際上就是一個多目標(biāo)優(yōu)化問題。但是目前還沒有見到對所有質(zhì)量指標(biāo)進(jìn)行優(yōu)化設(shè)計的例子,目前己發(fā)表的文獻(xiàn)有以下幾類。1。對某一個關(guān)鍵性
挑戰(zhàn)趣味測試,驗證您是存儲達(dá)人還是內(nèi)存大神
allegro軟件視頻技巧視頻全集45講
小 i 教你 usb,從入門到實踐
印刷電路板設(shè)計基礎(chǔ)
Allegro 高速PCB設(shè)計軟件使用技巧
內(nèi)容不相關(guān) 內(nèi)容錯誤 其它
本站介紹 | 申請友情鏈接 | 歡迎投稿 | 隱私聲明 | 廣告業(yè)務(wù) | 網(wǎng)站地圖 | 聯(lián)系我們 | 誠聘英才
ICP許可證號:京ICP證070360號 21IC電子網(wǎng) 2000- 版權(quán)所有 用戶舉報窗口( 郵箱:macysun@21ic.com 電話:010-82165003 )
京公網(wǎng)安備 11010802024343號