半導(dǎo)體制程技術(shù)持續(xù)精進(jìn),隨之而來的制程偏移(ProcessVariation)及小尺寸效應(yīng),恐導(dǎo)致設(shè)計結(jié)果的不確定性,因此如何建立完善的統(tǒng)計模型(StatisticalModel),同時在ICDesign的階段能夠正確地應(yīng)用統(tǒng)計模型,并且可以
半導(dǎo)體制程技術(shù)持續(xù)精進(jìn),隨之而來的制程偏移(ProcessVariation)及小尺寸效應(yīng),恐導(dǎo)致設(shè)計結(jié)果的不確定性,因此如何建立完善的統(tǒng)計模型(StatisticalModel),同時在ICDesign的階段能夠正確地應(yīng)用統(tǒng)計模型,并且可以進(jìn)
半導(dǎo)體制程技術(shù)持續(xù)精進(jìn),隨之而來的制程偏移(ProcessVariation)及小尺寸效應(yīng),恐導(dǎo)致設(shè)計結(jié)果的不確定性,因此如何建立完善的統(tǒng)計模型(StatisticalModel),同時在ICDesign的階段能夠正確地應(yīng)用統(tǒng)計模型,并且可以進(jìn)
半導(dǎo)體制程技術(shù)持續(xù)精進(jìn),隨之而來的制程偏移(ProcessVariation)及小尺寸效應(yīng),恐導(dǎo)致設(shè)計結(jié)果的不確定性,因此如何建立完善的統(tǒng)計模型(StatisticalModel),同時在ICDesign的階段能夠正確地應(yīng)用統(tǒng)計模型,并且可以進(jìn)