集成電路測試(IC測試)主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開,保證產(chǎn)品的質量與可靠性。隨著集成電路的飛速發(fā)展,其規(guī)模越來越大,對電路的質量與可靠性要求進一步提高,集成電路的測試方法也變得越來越困難。
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