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fiu

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使用故障植入單元(FIU)進(jìn)行電子測(cè)試

1. 為何需要硬件故障植入？在許多硬件在環(huán)(HIL)試系統(tǒng)中，硬件故障植入用于在電子控制單元(ECU)與系統(tǒng)其他部分之間添加信號(hào)故障，進(jìn)而測(cè)試、特性描述或驗(yàn)證ECU在特定失效條件下的性能。故障植入通常用

測(cè)試測(cè)量
2018-06-25

電子測(cè)試故障植入單元 fiu

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