浪潮存儲重新定義SSD可靠性

（全球TMT2021年12月30日訊）浪潮在核心部件SSD領域歷經(jīng)多年探索，研發(fā)和打磨，推出了NVMe SSD產(chǎn)品，已經(jīng)在互聯(lián)網(wǎng)，通信，金融、政府、企業(yè)等關鍵領域?qū)崿F(xiàn)規(guī)模部署。

浪潮面向SLC/MLC/TLC/QLC等閃存顆粒自主開發(fā)出了NAND Prober HX9000系列分析治具，可以提供介質(zhì)特性分析、壽命檢測、穩(wěn)定性追蹤的NAND特性測試項目，采用了行業(yè)領先的智能高溫控制器和自主創(chuàng)新的P/E Block讀寫算法并行收集閃存介質(zhì)的實時狀態(tài)，支持NAND介質(zhì)High Level指令集和Low Level指令集，圖形化界面，全方位監(jiān)測介質(zhì)實時狀態(tài)，通過開放的API（Application Programming Interface，應用程序接口）接口，為用戶提供自定義的介質(zhì)特性控制、監(jiān)測和狀態(tài)數(shù)據(jù)收集服務，設備購置和擁有成本有效的進行了降低。

浪潮自研SSD通過NAND治具獲取精準的狀態(tài)數(shù)據(jù)并進行靈活的NAND特性算法分析，投入上千塊SSD進行真實測評，全面的NAND參數(shù)掌握，創(chuàng)新的特性分析算法和豐富的產(chǎn)品化經(jīng)驗，提前規(guī)避整盤的設計風險，不斷突破產(chǎn)品可靠性指標，使得平均無故障時間MTBF達到了260萬小時，可靠性相比業(yè)內(nèi)其他產(chǎn)品提升30%。

浪潮SSD產(chǎn)品開發(fā)或NAND Flash主控芯片研發(fā)中通過使用NAND Prober測試分析儀，提升了閃存主控芯片的設計、優(yōu)化了性能、提升了介質(zhì)壽命管控效率，有效提升主控芯片特性、優(yōu)化SSD整盤性能和可靠性，同時可以用于存儲介質(zhì)的新特性和新材料研究，支撐對傳統(tǒng)介質(zhì)新特性和新介質(zhì)新特性的測試、收集和分析，為未來產(chǎn)品的開發(fā)提供了重要參考。