觸控按鍵產(chǎn)品應用推陳出新，終端產(chǎn)品朝向智能化趨勢發(fā)展，市場邁入高速成長階段，合泰半導體(HOLTEK)全新推出資源更豐富、效能更高的5V寬電壓Arm® Cortex®-M0+ 觸控單片機HT32F542xx系列，型號為HT32F54231、HT32F54241、HT32F54243、HT32F54253，頻率最高可達60MHz，提供最多28個觸控鍵，適合用于智能家電、數(shù)字電子鎖、工業(yè)控制等市場。
此系列單片機除了帶有更穩(wěn)定及可靠的電容式觸控引擎核心硬件外，同時具備USART/UART/SPI/I2C等標準通信接口，讓設計者易于連接各類傳感器、無線模塊等來擴展產(chǎn)品功能，進而開發(fā)各類智能型家用電器及物聯(lián)網(wǎng)終端設備。
HOLTEK新推出32-bit Arm® Cortex®-M0+ 單片機 (合泰)
觸控按鍵感應依原理大致可區(qū)分為：電阻式、電感式、電容式、紅外線式、表面聲波式等，目前市場主要以電容式為主。終端應用產(chǎn)品除了要實現(xiàn)觸控功能，同時做到穩(wěn)定及符合EMC規(guī)范、則是技術上的挑戰(zhàn)。合泰協(xié)助客戶在觸控按鍵應用的開發(fā)初期，先建立正確的測試程序，避免掉潛在性能問題隨貨銷售而導致客訴，諸如AC供電或各種環(huán)境下遭遇的電源高頻干擾、潮濕、水氣等，都極易造成觸控按鍵誤動作或失效現(xiàn)象。
影響觸控穩(wěn)定性的原因及完善的測試方法：
常見干擾源
常見干擾：電壓波動、溫度/濕度變化、電磁干擾(RF天線、對講機等)、電源干擾(電機啟動、日光燈啟動)等，都有可能引起觸控不穩(wěn)定。
完善的測試
以下測試方法基本可以營造出一般電子設備的使用環(huán)境，只要通過這些項目的測試，設計出來的觸控產(chǎn)品都是相對穩(wěn)定可靠的。
1. 功能測試：操作觸控按鍵的過程，同時將工作電壓從高調到低，再從低調到高反復做測試。
2. 潮濕環(huán)境測試：利用水蒸氣讓待測的觸控面板上結滿露水，或者把觸控面板靠近空調出風口，濕度越高電容值越高，相反地，濕度越低則電容值越低。
3. 溫度測試：用烘箱或熱風加熱，放入冰箱或冰柜制冷測試，設備充足的情況下還可以用專業(yè)的溫度箱測試。
4. 電源干擾測試：測試EFT脈沖群抗擾度，標準IEC61000-4-4、GB/T 17626.4，測試射頻場感應的傳導騷擾抗擾度：標準IEC61000-4-6、GB/T 17626.6。
5. 空間輻射測試：測試射頻電磁場輻射抗擾度試驗，標準IEC 61000-4-3、GB/T 17626.3，測試場強在3~10V/m之間。
6. ESD測試：標準IEC61000-4-2、GB/T 17626.6。
合泰半導體(HOLTEK)自2006年開始研發(fā)設計觸控按鍵IC，基于提供客戶全面且專業(yè)的技術服務，于2008年成立「優(yōu)方科技」，雙方共同致力于觸控感應解決方案的研究與發(fā)展，迄今積累十多年經(jīng)驗，每年協(xié)助客戶量產(chǎn)數(shù)量多達2億臺。2022年全新推出32-bit HT32F542xx系列的觸控單片機，期望未來在觸控應用市場中，提供客戶從快速導入開發(fā)設計、終至成品量產(chǎn)出貨的專業(yè)技術服務及完整解決方案。
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