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[導(dǎo)讀]大多數(shù)傳導(dǎo) EMI 問題是由共模噪聲引起的。 此外,大多數(shù)共模噪聲問題是由電源中的寄生電容引起的。 開關(guān)電源本質(zhì)上具有高 dV/dt 的節(jié)點(diǎn)。將寄生電容與高 dV/dt 混合會(huì)產(chǎn)生 EMI 問題。當(dāng)寄生電容的另一端連接到電源的輸入端時(shí),少量電流會(huì)直接泵入電源線。

大多數(shù)傳導(dǎo) EMI 問題是由共模噪聲引起的。 此外,大多數(shù)共模噪聲問題是由電源中的寄生電容引起的。

開關(guān)電源本質(zhì)上具有高 dV/dt 的節(jié)點(diǎn)。將寄生電容與高 dV/dt 混合會(huì)產(chǎn)生 EMI 問題。當(dāng)寄生電容的另一端連接到電源的輸入端時(shí),少量電流會(huì)直接泵入電源線。

我們都記得在物理課上,兩個(gè)導(dǎo)體之間的電容與導(dǎo)體的表面積成正比,與它們之間的距離成反比。查看電路中的每個(gè)節(jié)點(diǎn),并密切注意具有高 dV/dt 的節(jié)點(diǎn)??紤]一下布局中該節(jié)點(diǎn)上有多少表面積以及從輸入線到電路板的距離。開關(guān) MOSFET 和緩沖電路的漏極是常見的罪犯。

盡量使用表面貼裝封裝。垂直放置的 TO-220 封裝中的 FET 具有來自漏極片的大量表面積,不幸的是,這通常恰好是具有最高 dV/dt 的節(jié)點(diǎn)。嘗試改用表面貼裝 DPAK 或 D2PAK FET。通過在 DPAK 接線片下方的底部 PCB 層上運(yùn)行主接地層,可以很好地屏蔽 FET 的底部,并大大降低寄生電容。

有時(shí)需要表面積用于散熱目的。如果我們必須使用帶散熱器的 TO-220 型 FET,請(qǐng)嘗試將散熱器連接到初級(jí)接地(而不是接地)。這將有助于屏蔽 FET 并減少雜散電容

我們還可以遵循這 4 個(gè)基本技巧可以幫助我們減輕 EMI 合規(guī)性方面的痛苦。 當(dāng)然,EMI 的話題范圍很廣,還有很多其他的技巧可以提及。 我們關(guān)注的是當(dāng)電源中組件的寄生電容直接耦合到電源的輸入線時(shí)會(huì)發(fā)生什么?,F(xiàn)在,讓我們看看最常見的共模 EMI 問題來源:電源變壓器。

問題來自初級(jí)和次級(jí)繞組之間的寄生電容,以及初級(jí)繞組上的高 dV/dt。這種繞組間電容的作用類似于電荷泵,導(dǎo)致雜散電流流向通常接地的次級(jí)側(cè)。這里有四個(gè)非常常見的技巧可以最大限度地減少這個(gè)問題。

1. 纏繞初級(jí),使最高 dV/dt 位于外層。 電壓電位隨每一匝而變化。例如,在反激式中,最大的電壓擺幅出現(xiàn)在連接到 FET 漏極的一端(見圖 1)。通過將“安靜”層保持在最近的次級(jí)層附近,可以將繞組間電容上的 dV/dt 降至最低。使用這種技術(shù),請(qǐng)注意,外部繞組現(xiàn)在可能成為有問題的噪聲源,可能會(huì)耦合到變壓器附近的其他物體。外部繞組周圍可能需要一個(gè)屏蔽繞組。

2. 在初級(jí)和次級(jí)繞組之間使用屏蔽繞組。 插入一端連接到輸入或輸入回路的單層繞組可將雜散電流從次級(jí)繞組分流并返回到它們的源極。這種技術(shù)的權(quán)衡是變壓器設(shè)計(jì)稍微復(fù)雜一些,并且漏感增加。

3. 在初級(jí)接地和次級(jí)接地之間使用一個(gè)“Y-電容器”。 該電容器為雜散電流提供返回初級(jí)的較低阻抗路徑。電源內(nèi)的這種本地路徑可防止這些電流以其他方式通過大地返回其源頭。但是,這里可以使用大電容有安全限制。

添加一個(gè)共模扼流圈。 有時(shí),提到的其他技術(shù)不足以將 EMI 降低到所需水平以下。添加共模扼流圈會(huì)增加共模阻抗,并且可以非常有效地降低傳導(dǎo)噪聲。這里的權(quán)衡是額外組件的成本。選擇共模扼流圈時(shí),請(qǐng)仔細(xì)檢查阻抗曲線與頻率的關(guān)系。在某些時(shí)候,所有扼流圈都會(huì)由于其自身的繞組間電容而變?yōu)殡娙菪浴?


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