在電路設(shè)計中如何降低SAR ADC的功耗？

隨著醫(yī)療、消費電子和工業(yè)市場上的便攜式手持儀器儀表日趨向尺寸更小、重量更輕、電池(或每次充電)續(xù)航時間更長、成本更低且通常功能更多方向發(fā)展，低功耗已經(jīng)成為如今電池供電模數(shù)轉(zhuǎn)換器應(yīng)用的一項關(guān)鍵要求。即使是在非電池供電的應(yīng)用中，低功耗的好處也不容忽視，因為低功耗系統(tǒng)無需散熱器或風(fēng)扇也能工作，因而尺寸更小、成本更低，而且更加可靠，同時也“更加綠色環(huán)?！薄４送?，許多設(shè)計人員在設(shè)計產(chǎn)品時都面臨一個挑戰(zhàn)，即在增強(qiáng)產(chǎn)品功能或性能的同時降低或者至少不得超過當(dāng)前的功耗預(yù)算。

當(dāng)今市場上品種繁多的ADC則使得選擇符合特定系統(tǒng)要求的最佳器件變得更加困難。如果說低功耗是必須的條件，那么除了評估速度和精度等常見的轉(zhuǎn)換器性能特性之外，還需要考慮更多性能指標(biāo)。了解這些指標(biāo)以及設(shè)計決策會對功耗預(yù)算有何影響，對于確定系統(tǒng)功耗和電池壽命計算非常重要。

ADC的平均功耗是轉(zhuǎn)換期間所用功耗、不轉(zhuǎn)換時所用功耗以及各模式下所用時間的函數(shù)，如等式1所示。

(1)

PAVG= 平均功耗;PCONV= 轉(zhuǎn)換期間的功耗;PSTBY= 待機(jī)或關(guān)斷模式下的功耗;tCONV = 轉(zhuǎn)換所用時間;tSTBY = 處于待機(jī)或關(guān)斷模式的時間。

轉(zhuǎn)換期間所用功耗通常遠(yuǎn)大于待機(jī)功耗，因此如果處于待機(jī)模式的時間增加，平均功耗會顯著降低。逐次逼近(SAR)型轉(zhuǎn)換器尤其適合此類工作模式。

影響系統(tǒng)電源使用情況的最大因素之一是板上電源的選擇。對于便攜式應(yīng)用，系統(tǒng)通常由3 V紐扣式鋰電池直接供電。這樣就無需使用低壓差穩(wěn)壓器，從而節(jié)省電能、空間和成本。非電池應(yīng)用也可受益于具有低VDD電源電壓范圍的轉(zhuǎn)換器，因為功耗與輸入電壓成正比。為ADC選擇最低可接受VDD將可降低功耗。

針對低功耗應(yīng)用的所有ADC都具有關(guān)斷或待機(jī)模式，以便在閑置期間節(jié)省電能。ADC可以在單次轉(zhuǎn)換之間關(guān)斷，或者以高吞吐速率突發(fā)執(zhí)行一陣轉(zhuǎn)換，在這些突發(fā)之間關(guān)斷ADC.對于單通道轉(zhuǎn)換器，工作模式的控制功能可以集成到通信接口，或者在完成一次轉(zhuǎn)換后自動進(jìn)行。

將模式控制集成到通信接口的好處是可以減少引腳數(shù)量。這樣可以降低功耗，因為要驅(qū)動的輸入更少，同時漏電流也更小。此外，引腳數(shù)量越少，封裝尺寸也就越小，同時MCU所需的I/O也越少。無論采用何種控制方法，只要謹(jǐn)慎使用這些模式都能顯著節(jié)省電能。

顧名思義，關(guān)斷模式會關(guān)閉部分ADC電路，從而降低功耗。關(guān)斷后電路重新啟動轉(zhuǎn)換所需的時間決定可有效使用此類模式的吞吐速率。對于帶有內(nèi)部基準(zhǔn)電壓源的ADC，重新啟動時間將由基準(zhǔn)電容重新充電所需的時間決定。采用外部基準(zhǔn)電壓源的模數(shù)轉(zhuǎn)換器需要足夠的時間在重新啟動時正確跟蹤模擬輸入。

對于當(dāng)今市場上的所有ADC，功耗均與吞吐速率成正比。功耗由靜態(tài)功耗和動態(tài)功耗組成。靜態(tài)功耗是恒定的，動態(tài)功耗則和吞吐速率呈線性變化關(guān)系。因此，在滿足應(yīng)用要求的前提下盡可能選擇最低的吞吐速率可以省電。

微型化電子器件的發(fā)展使得便攜式醫(yī)療設(shè)備得到大力發(fā)展，這些設(shè)備通常由電池供電，作為其重要組成部分的模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)成為系統(tǒng)功耗主要來源之一，所以低功耗ADC成為熱門研究課題。隨著工藝尺寸的減小和電源電壓的降低，數(shù)字電路性能不變、功耗降低，而模擬電路的性能卻被弱化并且逐漸成為功耗主要來源。逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器(SARADC)結(jié)構(gòu)簡單，主要由數(shù)字電路構(gòu)成，成為低功耗系統(tǒng)的選擇之一。　　本論文研究并設(shè)計了適合于醫(yī)療應(yīng)用的低功耗SAR ADC，該SAR ADC也適用于所有低頻中等分辨率低功耗應(yīng)用場合，主要工作及創(chuàng)新點如下:　　1.完成了低功耗SAR ADC的設(shè)計，該系統(tǒng)基于TSMC0.18μm混合信號CMOS工藝，1V電源電壓供電。　　2.完成了SAR ADC系統(tǒng)的后仿真，在58.8 kS/s的采樣率下，功耗3.21μW，最大差分非線性誤差(DNL)和最大積分非線性誤差(INL)分別為0.75LSB和0.9LSB，輸入信號范圍0～1V，無雜散動態(tài)范圍(SFDR)和信噪失真比(SNDR)分別為73.4dB和60.3996dB(9.737ENOB)，品質(zhì)因數(shù)(FoM)為63.9998fJ/Conv-Step。　　3.設(shè)計了使用單調(diào)開關(guān)電容技術(shù)的DAC，一方面消除了對電容反復(fù)充放電的功耗，另一方面減少了最大電容的使用，相應(yīng)降低了DAC功耗和面積，達(dá)到了DAC功耗占系統(tǒng)總功耗1.5%和系統(tǒng)版圖面積僅259μm×165μm的效果?！　?.研究了數(shù)字失調(diào)校準(zhǔn)技術(shù)，降低了比較器失調(diào)的影響，不需要比較器失調(diào)校準(zhǔn)電路，相應(yīng)降低了系統(tǒng)功耗。設(shè)計了動態(tài)比較器，沒有靜態(tài)電流，降低了比較器功耗。

逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器(successive approximatiONregiSTer analog-to-digital converter，SAR ADC)是應(yīng)用于采樣速率低于5，MHz 的中高分辨率的常見結(jié)構(gòu)，其分辨率一般為8~16 位，因制造工藝與現(xiàn)代數(shù)字CMOS 工藝的兼容性好，且易于在較低的工藝成本下實現(xiàn)，所以廣泛應(yīng)用于現(xiàn)代超大規(guī)模集成電路與片上系統(tǒng)(system-on-chip，SOC)，如便攜式/電池供電儀表、筆輸入量化器、工業(yè)控制和數(shù)據(jù)/信號采集器等。

設(shè)計了一款10位低功耗SAR ADC，采用溫度計碼控制的開關(guān)邏輯結(jié)構(gòu)代替?zhèn)鹘y(tǒng)的開關(guān)陣列控制數(shù)模(digital-to-analog，D/A)轉(zhuǎn)換器的動作，從而提高了D/A 轉(zhuǎn)換器的線性度并降低了ADC 的功耗。ADC 在 250，kHz 的采樣速度下實現(xiàn)了10 位的模數(shù)轉(zhuǎn)換功能，功耗小于2，mW。

1 SAR ADC的結(jié)構(gòu)和工作原理

傳統(tǒng)SAR ADC 的結(jié)構(gòu)主要包括5 個部分，分別是：采樣保持電路、模擬比較器、D/A 轉(zhuǎn)換器、逐次逼近寄存器和邏輯控制單元。在很多實際電路中，采樣保持與D/A 轉(zhuǎn)換器合二為一。

SAR ADC 通過比較器對D/A 轉(zhuǎn)換器產(chǎn)生的參考電壓和采樣所得的模擬輸入電壓進(jìn)行比較，由逐次逼近寄存器逐次地決定每一位數(shù)字碼，直到完成最低有效位(least significant bit，LSB)的轉(zhuǎn)換。SAR ADC采用二進(jìn)制搜索算法來決定模數(shù)轉(zhuǎn)化過程中的數(shù)字碼值，N 位的SAR ADC需要進(jìn)行N 步的轉(zhuǎn)化。

在SAR ADC 中，數(shù)字模塊消耗的功耗較小，整個SAR ADC的功耗主要集中在3 個方面。

(1)對采樣保持電容的充放電。

(2)對D/A轉(zhuǎn)換器中二進(jìn)制加權(quán)電容的充放電。

(3)模數(shù)轉(zhuǎn)換過程中比較器所消耗的功耗。

有關(guān)降低SAR ADC 功耗的文獻(xiàn)通常針對以上3個方面來提出電路結(jié)構(gòu)的改進(jìn)方案，如在數(shù)模轉(zhuǎn)換器中采用特殊結(jié)構(gòu)的電容陣列以及采用功耗較低的動態(tài)比較器等。

為了降低ADC 的整體功耗，筆者設(shè)計的D/A 轉(zhuǎn)換器采用了電荷分配型的結(jié)構(gòu)。與其他同類型ADC的最大區(qū)別在于用溫度計碼的開關(guān)邏輯結(jié)構(gòu)代替了常用的二進(jìn)制碼開關(guān)來控制D/A 轉(zhuǎn)換器，從而合理優(yōu)化了電容陣列的開關(guān)邏輯結(jié)構(gòu)，減小了開關(guān)的動作頻率，既提高了D/A 轉(zhuǎn)換器的分辨率和線性度，同時又降低了整個系統(tǒng)的功耗。

2 基于開關(guān)邏輯結(jié)構(gòu)的D/A轉(zhuǎn)換器

2.1 D/A轉(zhuǎn)換器的基本原理

傳統(tǒng)型電荷分配型D/A 轉(zhuǎn)換器通常由一個二進(jìn)制加權(quán)電容陣列、一個與LSB 等值的電容和開關(guān)陣列組成，其轉(zhuǎn)換過程可以分為3 個階段。

(1)采樣階段：此時，所有電容的上極板接地，下極板接輸入電壓，這樣，上極板存儲了與輸入電壓成正比的電荷，這些電荷在D/A 轉(zhuǎn)換器的轉(zhuǎn)換過程中保持不變。

(2)保持階段：此階段，二進(jìn)制加權(quán)電容的上極板接地開關(guān)斷開，下極板接地，引起電容陣列上極板的參考電壓的變化。

(3)再分配階段：此時，逐次逼近寄存器的最高位被置為1，即最大的電容2N-1C 的下極板連接到基準(zhǔn)電壓Vref，在下一個時鐘周期來臨時，最大的電容的下極板的連接狀態(tài)是由比較器的比較結(jié)果決定的。同時次大的電容的下極板連接到基準(zhǔn)電壓Vref.這個過程將會進(jìn)行N 次，在每一個時鐘周期內(nèi)比較器的比較結(jié)果決定了原先被試探的電容的下極板接地或是接基準(zhǔn)電壓Vref，同時將比試探電容小一半的那個電容設(shè)為試探電容，直到整個轉(zhuǎn)換過程完成，即最小電容的下極板狀態(tài)被決定。

2.2 D/A轉(zhuǎn)換器的低功耗設(shè)計

所設(shè)計的開關(guān)邏輯結(jié)構(gòu)的D/A 轉(zhuǎn)換器如圖1 所示，其與傳統(tǒng)型D/A 的區(qū)別是將二進(jìn)制加權(quán)電容陣列進(jìn)行了分拆并加入了碼制轉(zhuǎn)換電路。碼制轉(zhuǎn)換電路將邏輯控制單元控制的寄存器的輸出二進(jìn)制碼轉(zhuǎn)化成為溫度計碼，以溫度計碼來控制整個二進(jìn)制加權(quán)電容陣列，以降低開關(guān)動作頻率。

以3 位D/A 轉(zhuǎn)換器為例來簡要說明。圖2(a)為三位的二進(jìn)制碼到溫度計碼的編碼轉(zhuǎn)換圖;圖2(b)為二進(jìn)制碼對應(yīng)單位開關(guān)輸入碼圖。由圖2 可知，一旦比較器的輸出為0，即在模數(shù)轉(zhuǎn)換過程中出現(xiàn)輸入信號比D/A 轉(zhuǎn)換器所產(chǎn)生的參考電壓小的情況，采用溫度計碼的開關(guān)邏輯結(jié)構(gòu)對減小開關(guān)動作頻率是有利的。將二進(jìn)制碼轉(zhuǎn)換為溫度計碼只需通過一個簡單的編碼轉(zhuǎn)換電路就可以實現(xiàn)。

2.3 D/A轉(zhuǎn)換器的功耗分析

對于電容陣列中的電容，只有當(dāng)其下極板連接到Vref 時，因充電產(chǎn)生功耗。設(shè)電容陣列的建立時間為T，則電容從Vref獲得的能量為：

由于電容兩端的電壓不能突變，故QC(0+)= QC(0-)，且 iref(t) = -dQC/ dt ，故：

所以，可以計算每一次開關(guān)動作時D/A 的功耗。為了減少計算量，仍以3 位D/A 轉(zhuǎn)換器為例，對兩種D/A 轉(zhuǎn)換器的功耗進(jìn)行比較，如圖3 所示，箭頭旁邊的數(shù)字為每一次開關(guān)動作時消耗的能量。圖3顯示當(dāng)比較器比較的結(jié)果為0 時，采用的結(jié)構(gòu)所消耗的功耗小于傳統(tǒng)的結(jié)構(gòu)。顯然，所設(shè)計的D/A 轉(zhuǎn)換器的平均功耗遠(yuǎn)小于傳統(tǒng)的D/A 轉(zhuǎn)換器。隨著ADC 位數(shù)的增加，這種平均功耗的降低效應(yīng)將會更加顯著。10 位SAR ADC和傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)的SAR ADC功耗對比如表1 所示，數(shù)據(jù)表明改進(jìn)的SAR ADC 相對于傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)下降了21.5%。