提速30%！HarmonyOS NEXT自動(dòng)化測(cè)試開(kāi)發(fā)效率提升

軟件測(cè)試作為軟件生命周期中不可缺少的組成部分，對(duì)提高軟件質(zhì)量起著重要作用。當(dāng)一款全新的應(yīng)用在到達(dá)用戶(hù)之前，將會(huì)根據(jù)不同的時(shí)機(jī)開(kāi)展單元測(cè)試、集成測(cè)試、專(zhuān)項(xiàng)測(cè)試以及上架測(cè)試等測(cè)試活動(dòng)，以便開(kāi)發(fā)人員在反復(fù)測(cè)試中，持續(xù)優(yōu)化應(yīng)用使用體驗(yàn)。而以上測(cè)試活動(dòng)，都離不開(kāi)自動(dòng)化測(cè)試框架。隨著HarmonyOS應(yīng)用測(cè)試能力的發(fā)展，HarmonyOS NEXT自動(dòng)化測(cè)試能力更加強(qiáng)大。

繼2022年DevEco Testing Hypium測(cè)試框架發(fā)布基礎(chǔ)測(cè)試框架及能力增強(qiáng)的SDK，并提供基礎(chǔ)錄制回放工具后，DevEco Testing Hypium團(tuán)隊(duì)通過(guò)對(duì)上百位測(cè)試人員進(jìn)行調(diào)研，了解到不同階段的測(cè)試人員在應(yīng)用測(cè)試過(guò)程中訴求不同。今年，為匹配新手測(cè)試人員以及資深測(cè)試人員的不同需求，進(jìn)一步提升測(cè)試人員自動(dòng)化開(kāi)發(fā)效率，HarmonyOS NEXT版本配套的DevEco Testing Hypium能力更加豐富。

高頻預(yù)置模版降低學(xué)習(xí)成本輕松上手

對(duì)于新手測(cè)試人員來(lái)說(shuō)，相對(duì)缺少移動(dòng)端應(yīng)用自動(dòng)化測(cè)試經(jīng)驗(yàn)，不熟悉主流測(cè)試框架，對(duì)于業(yè)界服務(wù)開(kāi)發(fā)輔助工具了解有限。想要完成HarmonyOS應(yīng)用測(cè)試能力，測(cè)試工具就需要具備工具低門(mén)檻、易上手、自動(dòng)化API易理解等特點(diǎn)。

由此DevEco Testing Hypium為新手測(cè)試人員提供了高頻預(yù)置模版，幫助開(kāi)發(fā)者快速上手HarmonyOS NEXT自動(dòng)化測(cè)試。借助高頻預(yù)置模版，測(cè)試人員可快速插入常用代碼，當(dāng)前模版已支持插入應(yīng)用管理、桌面操作、開(kāi)關(guān)管理、循環(huán)與條件等代碼，確保大幅度降低新手測(cè)試人員學(xué)習(xí)成本。

高級(jí)智能測(cè)試工具逐一解決測(cè)試痛點(diǎn)

對(duì)于資深測(cè)試人員來(lái)說(shuō)，對(duì)移動(dòng)端應(yīng)用自動(dòng)化測(cè)試及主流測(cè)試框架則有著更豐富的經(jīng)驗(yàn)，相比新手測(cè)試人員，資深測(cè)試人員更需要高級(jí)智能的測(cè)試工具來(lái)解決控件/定位不準(zhǔn)、UI反復(fù)變化等痛點(diǎn)問(wèn)題。針對(duì)以上測(cè)試痛點(diǎn)，DevEco Testing Hypium為資深測(cè)試人員提供了增強(qiáng)版錄制回放能力、UIViewer工具及腳本開(kāi)發(fā)助手工具。

其中增強(qiáng)版錄制回放工具相對(duì)于基礎(chǔ)版本性能獲得大幅度提升，針對(duì)自動(dòng)化開(kāi)發(fā)控件定位不準(zhǔn)的問(wèn)題，借助輔助控件智能定位手段，快速選擇唯一定位控件，大幅提升回放成功率；

全新UIViewer工具可支持控件信息實(shí)時(shí)瀏覽，讓頁(yè)面獲取速度大幅度提升，提高控件信息獲取效率，同時(shí)發(fā)布的30+實(shí)用工具集合，在投屏器上即可完成應(yīng)用/文件管理、截圖、開(kāi)關(guān)機(jī)等常見(jiàn)操作，為HarmonyOS NEXT測(cè)試腳本的開(kāi)發(fā)提供了便捷。

此外，DevEco Testing Hypium腳本生成助手還支持選中控件快速生成「控件是否存在」、「文本是否符合預(yù)期」等檢查點(diǎn)，減少腳本開(kāi)發(fā)過(guò)程中的重復(fù)工作，提升測(cè)試自動(dòng)化效率。

DevEco Testing Hypium通過(guò)提供以上測(cè)試能力集，有效解決測(cè)試開(kāi)發(fā)常見(jiàn)痛點(diǎn)、提升腳本開(kāi)發(fā)效率及開(kāi)發(fā)體驗(yàn)，讓HarmonyOS NEXT自動(dòng)化測(cè)試效率有效提升30%。在未來(lái)HarmonyOS NEXT將持續(xù)優(yōu)化開(kāi)發(fā)測(cè)試工具，為不同的開(kāi)發(fā)者提供更完備、更成熟的解決方案，為HarmonyOS開(kāi)發(fā)者帶來(lái)更好的體驗(yàn)。