MOSFET柵極充電機(jī)理是什么?MOSFET柵極驅(qū)動(dòng)電路的振蕩問題解析
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本文中,小編將對(duì)MOSFET柵極驅(qū)動(dòng)電路予以介紹,如果你想對(duì)它的詳細(xì)情況有所認(rèn)識(shí),或者想要增進(jìn)對(duì)它的了解程度,不妨請(qǐng)看以下內(nèi)容哦。
一、MOSFET柵極充電機(jī)理
對(duì)MOSFET施加電壓時(shí),其柵極開始積累電荷。下圖所示為柵極充電電路和柵極充電波形。將MOSFET連接到電感負(fù)載時(shí),它會(huì)影響與MOSFET并聯(lián)的二極管中的反向恢復(fù)電流以及MOSFET柵極電壓。此處不作解釋。
a、在t0-t1時(shí)間段內(nèi),柵極驅(qū)動(dòng)電路通過柵極串聯(lián)電阻器R對(duì)柵源電容Cgs和柵漏電容Cgd充電,直到柵極電壓達(dá)到其閾值Vth。由于Cgs和Cgd是并聯(lián)充電,因此滿足以下公式。
b、在t1-t2期間,VGS超過Vth,導(dǎo)致漏極中產(chǎn)生電流,最終成為主電流。在此期間,繼續(xù)對(duì)Cgs和Cg充電。柵極電壓上升時(shí),漏極電流增大。在 t2,柵極電壓達(dá)到米勒電壓,在公式(1)中用 VGS(pl)代替VGS(t2),可計(jì)算出VGS(pl).t2。在t0-t1期間,延遲時(shí)間t2和R(Cgs+Cgd)成正比。
c、在t2-t3期間,VGS(pl)電壓處的VGS受米勒效應(yīng)影響保持恒定。柵極電壓保持恒定。在整個(gè)主柵電流流過MOSFET時(shí),漏極電壓在t3達(dá)到其導(dǎo)通電壓(RDS(ON)×ID)。由于在此期間柵極電壓保持恒定,因此驅(qū)動(dòng)電流流向Cgd而非Cgs。在此期間Cgd(Qdg)中積累的電荷數(shù)等于流向柵電路的電流與電壓下降時(shí)間(t3-t2)的乘積:
d、在t3-t4期間,向柵極充電使其達(dá)到過飽和狀態(tài)。對(duì)Cgs和Cgd充電,直到柵極電壓(VGS)達(dá)到柵極供電電壓。由于開通瞬態(tài)已經(jīng)消失,在此期間MOSFET不會(huì)出現(xiàn)開關(guān)損耗。
二、MOSFET柵極驅(qū)動(dòng)電路的振蕩問題解析
為了使MOS管完全導(dǎo)通,需要盡量提高柵極的驅(qū)動(dòng)電流。那是不是柵極驅(qū)動(dòng)電流越大越好呢,即驅(qū)動(dòng)電路的內(nèi)阻越小越好?
在PCB layout過程中,走線一定會(huì)引入寄生電感和極小的等效串聯(lián)電阻,加之MOS管柵極的寄生電容。因此對(duì)MOS管柵極的驅(qū)動(dòng),其實(shí)就可以等效成對(duì)RLC串聯(lián)電路的驅(qū)動(dòng)。如下圖所示:
輸入5V/1MHz的方波信號(hào)Vin,測(cè)量到柵極電壓Vgs出現(xiàn)很嚴(yán)重的振鈴。這種振蕩帶來的危害可能是致命的,因?yàn)榇藭r(shí)MOSFET不再只有徹底導(dǎo)通或者徹底關(guān)斷兩種狀態(tài),而會(huì)反復(fù)進(jìn)入高阻導(dǎo)通狀態(tài)。從而使MOSFET發(fā)熱嚴(yán)重,并進(jìn)而燒毀MOSFET。
那為什么會(huì)出現(xiàn)上述的振蕩現(xiàn)象呢?學(xué)過二階電路的動(dòng)態(tài)響應(yīng)的動(dòng)作應(yīng)該就能理解,在RLC串聯(lián)電路中,當(dāng)R<√(L/C)時(shí),成為欠阻尼狀態(tài),振蕩一定會(huì)發(fā)生。 那有了理論武器的指導(dǎo),解決方法就很簡(jiǎn)單了,使得R>=√(L/C)時(shí),即過阻尼狀態(tài)(臨界阻尼實(shí)際應(yīng)用中基本不會(huì)出現(xiàn)),振蕩就會(huì)消失。 如下圖,在驅(qū)動(dòng)電路中增加一個(gè)串聯(lián)電阻(為了方便,直接將等效的寄生10mohm電阻改成10ohm),再觀察MOSFET柵極電壓波形振蕩現(xiàn)象消失。
至此,我們對(duì)MOSFET柵極驅(qū)動(dòng)電路的振蕩問題應(yīng)該有了比較直觀的理解。在實(shí)際解決這個(gè)問題的時(shí)候,我們需要優(yōu)先考慮減小pcb引線電感,即增加走線寬度或減小走線長(zhǎng)度。在電感無法減小的時(shí)候,才會(huì)采用增加一顆外部小電阻的方案。
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