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[導(dǎo)讀]為了驗(yàn)證飛機(jī)供電系統(tǒng)的設(shè)計(jì)制造是否滿足給定的要求,必須對(duì)其供電品質(zhì)進(jìn)行系統(tǒng)的測(cè)試[1] 。南京航空航天大學(xué)航空電源重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室研制了基于VXI總線的飛機(jī)電源性能參數(shù)測(cè)試系統(tǒng),該系統(tǒng)能進(jìn)行實(shí)時(shí)、高精度的多路信號(hào)測(cè)

為了驗(yàn)證飛機(jī)供電系統(tǒng)的設(shè)計(jì)制造是否滿足給定的要求,必須對(duì)其供電品質(zhì)進(jìn)行系統(tǒng)的測(cè)試[1] 。南京航空航天大學(xué)航空電源重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室研制了基于VXI總線的飛機(jī)電源性能參數(shù)測(cè)試系統(tǒng),該系統(tǒng)能進(jìn)行實(shí)時(shí)、高精度的多路信號(hào)測(cè)量,研制工作中,本人參與組建、調(diào)試了硬件系統(tǒng)、編制了軟件處理程序、對(duì)系統(tǒng)誤差與隨機(jī)誤差進(jìn)行了分析與處理,最終使該系統(tǒng)性能穩(wěn)定、精度高,可滿足飛機(jī)電源系統(tǒng)的測(cè)量工作,能為飛機(jī)電源的定型制造提供依據(jù)。本文重點(diǎn)介紹該測(cè)試系統(tǒng)的誤差分析與處理。

  1 飛機(jī)電源性能參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)簡(jiǎn)介

  飛機(jī)電源性能參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)工作流程如圖1所示。

  

 

  本系統(tǒng)的精度取決于輸入輸出接口(調(diào)理電路)、A/D轉(zhuǎn)換器的精度、軟件處理精度,當(dāng)然,采樣頻率和采樣周期也是決定性因素之一。根據(jù)誤差的性質(zhì)和特點(diǎn),一般將其分為粗大誤差、隨機(jī)誤差和系統(tǒng)誤差3類(lèi)。本文分別研究了該系統(tǒng)中的3類(lèi)誤差處理方法。

  2 粗大誤差的處理

  本系統(tǒng)中粗大誤差的出現(xiàn)可能源于飛機(jī)電源系統(tǒng)中偶然出現(xiàn)的毛刺,它的存在大大影響測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性.我們采用一階差分方程

  xt′=xt-1+(xt-1-xt-2) 式中為xt′為t時(shí)刻的預(yù)測(cè)值;xt-1為t時(shí)刻前1個(gè)采樣點(diǎn)的值;xt-2為t時(shí)刻前2個(gè)采樣點(diǎn)的值。

  由式(1)可知,t時(shí)刻的值可以用xt-1和xt-2時(shí)刻的取值來(lái)推算。當(dāng)數(shù)據(jù)采樣頻率比物理量變化的最高頻率大得多時(shí),這種預(yù)測(cè)方法有足夠的精度。我們用t時(shí)刻的預(yù)測(cè)值和t時(shí)刻的實(shí)際數(shù)據(jù)值進(jìn)行比較,然后來(lái)判斷t時(shí)刻的實(shí)際數(shù)據(jù)值是否為奇異項(xiàng)。其判斷的準(zhǔn)則是.給定一個(gè)誤差窗口W,若t時(shí)刻的實(shí)際數(shù)據(jù)為xt,當(dāng)|xt-xt′|>W時(shí),則認(rèn)為此采樣值不符合正常變化規(guī)律,是奇異項(xiàng)。一般誤差窗口的大小要根據(jù)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的采樣頻率和物理量的變化特性決定[2] 。

  根據(jù)上述理論,編寫(xiě)交、直流穩(wěn)態(tài)電壓和電流測(cè)量數(shù)據(jù)奇異項(xiàng)的檢出程序。設(shè)定相對(duì)誤差為10%,用差分方程計(jì)算出某點(diǎn)的預(yù)測(cè)值與該點(diǎn)實(shí)際采樣值比較,若相對(duì)誤差大于10%,則該點(diǎn)為奇異項(xiàng)。檢出奇異項(xiàng)后就在該點(diǎn)位置上補(bǔ)上一個(gè)與預(yù)測(cè)值相等的數(shù)據(jù)點(diǎn)。

  3 克服隨機(jī)誤差的軟件處理方法

  在實(shí)際的被測(cè)信號(hào)中,往往含有各種噪聲和干擾,它們來(lái)自被測(cè)信號(hào)本身、傳感器、電磁干擾或A/D變換器的量化效應(yīng)等,其振幅和相位隨時(shí)間的變化是不規(guī)則的,因此它們對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響屬于隨機(jī)誤差的范疇。這里利用微處理器功能,對(duì)測(cè)量的結(jié)果采用一定的軟件處理方法,可以減小測(cè)量中的隨機(jī)誤差。對(duì)于某被測(cè)量n次獨(dú)立的、無(wú)系統(tǒng)誤差的等精密度測(cè)量,得到n個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)x1,x2,…,xn,則被測(cè)量最可能的估計(jì)值為全部測(cè)量數(shù)據(jù)的算術(shù)平均值,這稱之為算術(shù)平均值原理,即

  

按算術(shù)平均值原理等精密度重復(fù)測(cè)量可使隨機(jī)誤差對(duì)最后結(jié)果的影響減小到最低限度。

 

  本系統(tǒng)在計(jì)算電壓、電流有效值、諧波含量、電壓調(diào)制參數(shù)時(shí),皆盡量提高采樣頻率、增加測(cè)試周期,盡可能地減小隨機(jī)誤差。[!--empirenews.page--]4 系統(tǒng)誤差的分析與處理

 

  4.1 LEM型電流、電壓傳感器引起的誤差

  本系統(tǒng)凋理電路中的傳感器有多個(gè)LEM霍爾模塊型電流傳感器、LEM模塊型電壓傳感器。電壓、電流傳感器所產(chǎn)生的誤差,一方面由其自身的精度引起,另一方面還受傳感器的使用正確與否和外磁場(chǎng)干擾的影響。

  LEM霍爾電壓、電流傳感器的線性度好,精度高,但使用不當(dāng)也會(huì)引起測(cè)量誤差,如當(dāng)直流電流通過(guò)原邊線圈時(shí),傳感器尚未接電源,或者次級(jí)線圈開(kāi)路,使次級(jí)線圈回路不能提供相應(yīng)的補(bǔ)償電流,造成聚磁環(huán)磁化,產(chǎn)生剩磁,從而影響測(cè)量精度。

  本系統(tǒng)一方面將LEM模塊放人磁場(chǎng)屏蔽罩中以避免外磁場(chǎng)的干擾,另一方面嚴(yán)格遵守系統(tǒng)測(cè)試操作程序,使整個(gè)系統(tǒng)只有在傳感器接通電源的條件下才有可能開(kāi)始測(cè)試,以避免聚磁環(huán)被磁化。

  經(jīng)過(guò)多次重復(fù)測(cè)量,測(cè)量結(jié)果見(jiàn)表1,證實(shí)了調(diào)理電路存在系統(tǒng)誤差。此系統(tǒng)誤差有這樣幾個(gè)來(lái)源:5A電流傳感器誤差為±0.5%;PM3300功率分析儀測(cè)量誤差為±0.05%;采樣電阻的精度為±0.1%;接線誤差等。在這里將每路輸出用輸入值=輸出值÷(1-0.4%)的方法來(lái)減小系統(tǒng)誤差,實(shí)踐證明此方法是行之有效的。

  

 

  4.2 非同步采樣引起的誤差

  同步采樣是指被測(cè)周期信號(hào)f(t)在時(shí)間區(qū)間[t0,t0+T]內(nèi)按等間隔Ts,采樣N+1個(gè)點(diǎn),它要求:1)采樣間隔相等;2)采樣間隔乘以N(N為每周期的采樣點(diǎn)數(shù))應(yīng)嚴(yán)格等于被測(cè)信號(hào)的周期,即Ts×N=T。如果恰好等于被測(cè)信號(hào)的1個(gè)周期,則為理想化的同步采樣,當(dāng)采樣點(diǎn)數(shù)符合采樣定理時(shí),不存在同步采樣誤差[4-5] 。但在實(shí)際的微機(jī)測(cè)試中,被測(cè)信號(hào)周期和采樣間隔一般以微處理器的計(jì)數(shù)值表示,為正整數(shù),在除法運(yùn)算時(shí)會(huì)產(chǎn)生舍入誤差,這樣,采樣間隔Ts≠T/N,從而引起同步誤差(稱周期誤差),其大小為:

  △T=N×Ts-T 如圖2,設(shè)測(cè)試系統(tǒng)的第1個(gè)采樣點(diǎn)在基頻的α1點(diǎn)。,第N個(gè)采樣點(diǎn)在α點(diǎn),由于同步誤差△T的存在,α1≠α2,這時(shí)實(shí)際采樣間隔為:

  

 

  由此可見(jiàn),同步誤差是由于測(cè)試系統(tǒng)所用的微處理器的系統(tǒng)頻率不能無(wú)限高,其計(jì)數(shù)周期不能無(wú)限小、電網(wǎng)電壓的波動(dòng)等因素引起的。

  

實(shí)際工作中,不可能做到同步采樣,這就引起了非同步采樣誤差。當(dāng)存在同步誤差時(shí),采樣起始點(diǎn)位置與有效值、有功功率測(cè)量方法誤差有關(guān)系。選擇適當(dāng)?shù)牟蓸悠鹗键c(diǎn)位置可減小甚至可消除同步誤差對(duì)信號(hào)有效值、有功功率的影響。在“最佳采樣起始點(diǎn)”附近采樣時(shí),誤差很小,工程實(shí)現(xiàn)方便。傳統(tǒng)的“恰過(guò)零點(diǎn)采樣”是一種不利于抑制同步誤差影響的方法。

 

  利用HP VEE中任意波形發(fā)生器產(chǎn)生標(biāo)準(zhǔn)波形進(jìn)行仿真實(shí)驗(yàn),可以得出:測(cè)量正弦波信號(hào)的有效值“最佳采樣起始點(diǎn)”在0°左右;測(cè)量正弦波的諧波含量,“最佳采樣起始點(diǎn)”在60°左右。表2為不同采樣起始點(diǎn)同步誤差與有效值誤差、有功功率測(cè)量誤差的關(guān)系。

  在計(jì)算功率時(shí),對(duì)電壓、電流采樣的同時(shí)性要求很高,如果電壓、電流采樣不同時(shí),相差t時(shí)間,則測(cè)得的功率中將有非同時(shí)采樣誤差:

  δ=|wttanρ|×100%

  式中ρ-功率因數(shù)角;w-采樣信號(hào)的角頻率[6] 。

  由式(5)知,隨著功率因數(shù)的減小,非同時(shí)采樣誤差將急劇增大,因此系統(tǒng)應(yīng)充分考慮這一誤差。因使用1個(gè)A/D轉(zhuǎn)換器無(wú)法完成對(duì)電壓信號(hào)和電流信號(hào)同時(shí)采樣的任務(wù),所以本系統(tǒng)采樣時(shí)同時(shí)啟動(dòng)3個(gè)A/D轉(zhuǎn)換器,讓電壓模擬量和電流模擬量分別進(jìn)人A/D轉(zhuǎn)換器,從而使非同時(shí)采樣誤差對(duì)系統(tǒng)精度的影響達(dá)到最小程度。

  5 結(jié)論

  設(shè)備選擇是關(guān)鍵,誤差處理也很重要。通過(guò)以上的誤差處理,該測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)量精度如下。

  穩(wěn)態(tài)電壓:±1.0%

  瞬態(tài)電壓:±0.5%

  穩(wěn)態(tài)頻率:±0.4%

  電流:±1.0%

  相移:±0.5°

  功率:±1.5%

  實(shí)踐證明,該系統(tǒng)能為國(guó)產(chǎn)飛機(jī)電源系統(tǒng)的設(shè)計(jì)定型提供有力的依據(jù)。

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