• 基于ISO 11784／5的動(dòng)物識(shí)別標(biāo)簽設(shè)計(jì)

    在介紹ISO 11784／5動(dòng)物識(shí)別國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的基礎(chǔ)上，通過(guò)對(duì)動(dòng)物識(shí)別卡片結(jié)構(gòu)的詳細(xì)分析，以及對(duì)于可讀寫(xiě)射頻卡EM4205和讀寫(xiě)基站EM4095的說(shuō)明，給出一種利用EM4095基站將EM4205射頻卡仿真制作為動(dòng)物識(shí)別卡的設(shè)計(jì)方法。這種方法使得動(dòng)物標(biāo)簽卡的制作更為靈活，滿足了各動(dòng)物標(biāo)簽使用國(guó)家和領(lǐng)域?qū)ζ涠x的自由度需求，是一種先進(jìn)的卡片仿真設(shè)計(jì)方法。

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    2009-09-14
    ISO BSP CK CRC

  • Flash M25P64驅(qū)動(dòng)開(kāi)發(fā)與應(yīng)用

    M25P64是一款8 M字節(jié)串行Flash存儲(chǔ)器。利用其諸多特性可為大容量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)提供一種解決方案。介紹了M25P64的主要特點(diǎn)，工作原理，驅(qū)動(dòng)程序的開(kāi)發(fā)以及典型應(yīng)用實(shí)例。在其典型應(yīng)用實(shí)例中，基于SPI接口的數(shù)據(jù)存儲(chǔ) 系統(tǒng)能簡(jiǎn)單有效穩(wěn)定運(yùn)行。

  • 基于FPGA的多按鍵狀態(tài)識(shí)別系統(tǒng)設(shè)計(jì)

    為了實(shí)時(shí)獲取生產(chǎn)線上大量按鍵并發(fā)動(dòng)作狀態(tài)，提出一種基于FPGA的多按鍵狀態(tài)識(shí)別系統(tǒng)設(shè)計(jì)。該系統(tǒng)設(shè)計(jì)采用VHDL語(yǔ)言描述，有效地解決遠(yuǎn)距離、分散、多鍵并發(fā)狀態(tài)識(shí)別問(wèn)題，并減小電路板面積和單片機(jī)的信號(hào)連接，易于對(duì)大量按鍵并發(fā)輸入操作。給出了該系統(tǒng)設(shè)計(jì)方案的硬件電路設(shè)計(jì)和仿真結(jié)果。該設(shè)計(jì)已成功應(yīng)用于某項(xiàng)目中。

  • USB NI ELVIS平臺(tái)在高校教學(xué)中的創(chuàng)新應(yīng)用

    介紹了NI公司的帶USB接口的虛擬儀器技術(shù)教學(xué)和實(shí)驗(yàn)室套件(Educational Laboratory VirtualInstrumentation Suite，簡(jiǎn)稱(chēng)ELVIS)平臺(tái)；探討了該平臺(tái)在高校教學(xué)中的各種創(chuàng)新應(yīng)用。結(jié)果表明，該平臺(tái)比傳統(tǒng)教學(xué)裝置更具創(chuàng)新性和實(shí)踐性，因此必將在高校教學(xué)領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。

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    2009-09-11
    USB NI VI BSP

  • ECC技術(shù)在大容量智能Smart Media卡上的應(yīng)用

    分析了Smart Meclia(SM)智能卡的使用現(xiàn)狀，特別是大容量SM卡數(shù)據(jù)存儲(chǔ)系統(tǒng)的關(guān)鍵技術(shù)問(wèn)題。提出利用ECC編碼技術(shù)在SM卡實(shí)現(xiàn)DOS文件系統(tǒng)的ECC編碼，從而解決大容量SM卡在實(shí)際應(yīng)用中的關(guān)鍵技術(shù)問(wèn)題。

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    2009-09-11
    ECC SMART MEDIA BSP

  • 帶輔助DAC的雙路Σ-Δ轉(zhuǎn)換器的原理及應(yīng)用

    AD7729是AD公司出品的帶輔助DAC的雙路Σ-Δ模數(shù)轉(zhuǎn)換器，本文詳細(xì)介紹了該器件的工作原理、工作過(guò)程及功能特點(diǎn)，并給出了它與DSP的某些接口電路。

  • 高速數(shù)模轉(zhuǎn)換器TQ6124的原理與應(yīng)用

    TQ6124是Triquint Semiconductor公司生產(chǎn)的高速數(shù)模轉(zhuǎn)換器，它具有速度快、精度高、使用方便等特點(diǎn)。文中介紹了TQ6124的工作原理、使用方法和典型應(yīng)用，并結(jié)合實(shí)際應(yīng)用給出了設(shè)計(jì)要點(diǎn)及注意事項(xiàng)。

  • 基于CCl050的FSK發(fā)射電路設(shè)計(jì)

    介紹基于CCl050的FSK發(fā)射電路設(shè)計(jì)。該電路的工作頻率范圍為300~l 000 MHz，F(xiàn)SK調(diào)制，發(fā)射功率可編程設(shè)置為一20～12 dBm，給出CCl050的典型應(yīng)用電路，以及CCl050與微控制器接口電路，該FSK電路設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單，可工作在不同頻率。

  • Maxim DCL及PMU芯片組的應(yīng)用

    在傳統(tǒng)的半導(dǎo)體自動(dòng)化測(cè)試中，驅(qū)動(dòng)器/比較器／負(fù)載(Driver／Comparator／Load．簡(jiǎn)稱(chēng)DCL)和參數(shù)測(cè)量單元(Parametric Measurement Unit，簡(jiǎn)稱(chēng)PMU)通過(guò)“選擇繼電器”交替連接待測(cè)器件(Device UnderTesL簡(jiǎn)稱(chēng)DUT)。詳細(xì)說(shuō)明Maxim公司的DCL(MAX9961／62、MAX9967/68)和PMU (MAX9949/50、MAX9951／52)的獨(dú)特功能，能夠使用戶(hù)省去機(jī)械繼電器的成本和電路板空間，并能夠利用DCL盼驅(qū)動(dòng)電路提高傳統(tǒng)的小電流PMU的驅(qū)動(dòng)能力。

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    2009-09-10
    芯片組 DC MAXIM PMU

  • 全面了解數(shù)字溫度傳感器規(guī)范

    在規(guī)定限值內(nèi)運(yùn)行單個(gè)組件是先進(jìn)系統(tǒng)設(shè)計(jì)的部分要求。要使高度集成的先進(jìn)系統(tǒng)始終保持最佳運(yùn)行需要進(jìn)行系統(tǒng)監(jiān)控。具體來(lái)說(shuō)，監(jiān)控并維持最佳系統(tǒng)溫度將決定系統(tǒng)是否能保持穩(wěn)定。系統(tǒng)臨界溫度測(cè)量首先從選擇正確的數(shù)字溫度傳感器開(kāi)始。只要從精度、分辨率、功耗、接口和封裝要求考慮，大多數(shù)應(yīng)用均可找到合適的數(shù)字溫度傳感器。

  • FPGA 設(shè)計(jì)工具視點(diǎn)

    系統(tǒng)設(shè)計(jì)的理念需要集成不同領(lǐng)域的技術(shù)知識(shí)，在FPGA中更好地利用資源。隨著應(yīng)用對(duì)DSP功能的依賴(lài)程度越來(lái)越高，我們可讓處理器充分利用加速器的作用，從而大幅提高性能。

  • 基于CCS的DSP片外Flash直接燒寫(xiě)設(shè)計(jì)

    要可靠啟動(dòng)DSP系統(tǒng)中用戶(hù)代碼，關(guān)鍵是Flash正確可靠燒寫(xiě)。提出了一種基于CCS簡(jiǎn)單、容易理解的直接燒寫(xiě)方法。通過(guò)恰當(dāng)設(shè)置COFF代碼段，保存運(yùn)行地址必需的DATA，以在線編程的方式將保存的DATA燒寫(xiě)到外部Flash中。采用TMS320C6711 DSP試驗(yàn)板，對(duì)Flash燒寫(xiě)上電加載后，DSP能夠正確、穩(wěn)定的運(yùn)行。給出了直接燒寫(xiě)方法，操作簡(jiǎn)便，容易掌握，為DSP系統(tǒng)中Flash的燒寫(xiě)提供了一條有效解決途徑。

  • 基于DSP技術(shù)的變電站綜合自動(dòng)化系統(tǒng)簡(jiǎn)介

    回顧了變電站綜合自動(dòng)化的發(fā)展歷程，介紹了采用DSP技術(shù)的變電站綜合自動(dòng)化系統(tǒng)的設(shè)計(jì)思想及系統(tǒng)的主要特點(diǎn)。

  • 基于DSP的CAN總線接口設(shè)計(jì)

    本文詳細(xì)介紹了基于DSP的CAN總線網(wǎng)絡(luò)接口的軟硬件設(shè)計(jì)，該CAN總線接口使自行研制的交流變頻調(diào)速設(shè)備具備了遠(yuǎn)程網(wǎng)絡(luò)通訊能力。本文對(duì)CAN總線接口的實(shí)際設(shè)計(jì)有參考價(jià)值。

  • 基于LFSR優(yōu)化的BIST低功耗設(shè)計(jì)

    在BIST(內(nèi)建自測(cè)試)過(guò)程中，線性反饋移位寄存器作為測(cè)試矢量生成器，為保障故障覆蓋率，會(huì)產(chǎn)生很長(zhǎng)的測(cè) 試矢量，從而消耗了大量功耗。在分析BIST結(jié)構(gòu)和功耗模型的基礎(chǔ)上，針對(duì)test—per—scan和test—per—clock兩大BIST類(lèi)型，介紹了幾種基于LFSR(線性反饋移位寄存器)優(yōu)化的低功耗BIST測(cè)試方法，設(shè)計(jì)和改進(jìn)可測(cè)性設(shè)計(jì)電路，研究合理的測(cè)試策略和測(cè)試矢量生成技術(shù)，實(shí)現(xiàn)測(cè)試低功耗要求。

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