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[導(dǎo)讀]研究了四種pin二極管電阻的溫度特性。結(jié)果表明二極管結(jié)面積的大小,也就是二極管結(jié)電容的大小,影響著二極管的表面復(fù)合和二極管的載流子壽命,決定了二極管的溫度性能。器件的鈍化方式和幾何結(jié)構(gòu)對(duì)二極管電阻的溫度性能影響不大。結(jié)電容為0.1~1.0 pF的微波二極管,具有正的溫度系數(shù),約為線性關(guān)系,結(jié)電容越大,電阻隨溫度變化越大。研究結(jié)果可以用來(lái)預(yù)測(cè)pin二極管開(kāi)關(guān)和衰減器的溫度性能,進(jìn)一步可以應(yīng)用于電路溫度補(bǔ)償設(shè)計(jì)。

0 引言
   
微波pin二極管是一種應(yīng)用非常廣泛的微波控制器件,可以用來(lái)制作微波開(kāi)關(guān)、微波衰減器、微波限幅器、微波移相器等。
    在各類(lèi)微波pin二極管電路應(yīng)用中,二極管電阻溫度特性強(qiáng)烈地影響著微波電路的溫度性能。pin二極管溫度效應(yīng)的研究包括對(duì)遷移率和載流子壽命的溫度特性的理論分析和實(shí)驗(yàn)研究。
    文中針對(duì)幾種不同結(jié)構(gòu)和鈍化材料的pin二極管,對(duì)其溫度性能進(jìn)行了研究,包括I區(qū)域載流子壽命與溫度的關(guān)系、遷移率與溫度的關(guān)系以及電阻與溫度的關(guān)系,研究表明:pin二極管電阻的溫度性能主要依賴(lài)于二極管結(jié)電容的大小。

1 理論分析
    在微波工作狀態(tài)下,pin二極管的電阻與正向電流以及半導(dǎo)體材料參數(shù)相關(guān)。可用簡(jiǎn)化表達(dá)式來(lái)表示

   
式中:W為I區(qū)的厚度;IF為正向電流;μ為I區(qū)雙極遷移率μ=μn+μp;τ為雙極載流子壽命。式中,遷移率和載流子壽命與溫度相關(guān),即對(duì)電阻的溫度性能有影響。
1. 1 遷移率
   
遷移率與溫度的關(guān)系比較復(fù)雜,但在一定的溫度范圍內(nèi),半導(dǎo)體體內(nèi)的雜質(zhì)已全部電離,本征激發(fā)還不十分明顯時(shí),載流子濃度基本不隨溫度變化,影響遷移率的諸多因素中,晶格散射起主要作用,遷移率隨溫度升高而降低。一些學(xué)者的研究結(jié)果表明,在一50~+200℃(223~473 K)內(nèi),遷移率和溫度的關(guān)系可表示為

   
式中:n值為2~2.2;t0為常溫,通常定為25℃(298 K)。
1.2 少數(shù)載流子壽命
   
少數(shù)載流子壽命不僅受到體內(nèi)復(fù)合的影響,更為重要的是,很大程度上受表面狀態(tài)的影響,τ是一個(gè)結(jié)構(gòu)靈敏參數(shù),是體內(nèi)復(fù)合和表面復(fù)合的綜合結(jié)果,可表示為

   
式中:τv是體內(nèi)復(fù)合壽命;τs是表面復(fù)合壽命。
    研究發(fā)現(xiàn):載流子壽命隨溫度的增加而增加,可表示為

   
式中m稱(chēng)之為載流子壽命因子。
1.3 載流子壽命因子與電阻
   
比較式(2)和式(4),在一50~+200℃(223~473 K)內(nèi)(微波pin二極管通常的工作溫度范圍),令n=2,則得到微波pin二極管電阻的溫度特性為

   
由式(5)可以看出,電阻的溫度特性取決于遷移率和少數(shù)載流子壽命溫度特性的綜合結(jié)果。
    圖1是以載流子壽命因子m為參數(shù),由式(5)得到的歸一化電阻與溫度的關(guān)系曲線。圖1表明,pin二極管的電阻可以隨載流子壽命的增加而增加,也可以是減少或保持不變,當(dāng)m=2時(shí),pin二極管的電阻不隨溫度變化。

    影響載流子壽命因子m值的因素很多,包括:二極管幾何結(jié)構(gòu)(I區(qū)域的寬度、結(jié)直徑、結(jié)形狀等)、表面鈍化材料的電學(xué)性質(zhì),以及本征層的載流子濃度等。這些因素中,由于pin二極管的工區(qū)域的載流子濃度一般不高于1014cm-3,當(dāng)外延材料雜質(zhì)濃度穩(wěn)定且缺陷很少時(shí),外延材料參數(shù)對(duì)載流子壽命因子的影響可以忽略。需要重點(diǎn)研究的是二極管幾何結(jié)構(gòu)、表面鈍化材料對(duì)壽命因子m值的影響。


2 實(shí)驗(yàn)和分析
2.1 實(shí)驗(yàn)
   
研究了以下幾種不同結(jié)構(gòu)和鈍化材料的pin二極管電阻的溫度性能。
    二極管A:臺(tái)式結(jié)構(gòu),鉛玻璃鈍化,結(jié)電容小,I層厚度為21μm;
    二極管B:臺(tái)式結(jié)構(gòu),Si3N4/Si02復(fù)合介質(zhì)膜鈍化,結(jié)電容最小,擊穿電壓低,I層厚度為5μm;
    二極管C:平面結(jié)構(gòu),Si3N4/Si02復(fù)合介質(zhì)膜鈍化,結(jié)電容大,I層厚度為13μm;
    二極管D:臺(tái)式結(jié)構(gòu),玻璃鈍化,結(jié)電容最大,I層厚度為85μm。
    表l和表2是四種二極管的常溫和高低溫下電參數(shù)測(cè)試結(jié)果。

2.2 數(shù)據(jù)分析
   
根據(jù)式(5)和表1、2中的數(shù)據(jù),計(jì)算各溫度下的m值,得到上述四種pin二極管的平均結(jié)電容值(Ci)和m平均值(m),如表3。并根據(jù)表3,得到壽命因子與二極管結(jié)電容的關(guān)系曲線和趨勢(shì)線,見(jiàn)圖2。

    分析上述數(shù)據(jù),不同的二極管有著不同的載流子壽命因子m值,但m值與二極管的擊穿電壓、器件結(jié)構(gòu)以及鈍化材料沒(méi)有太大的關(guān)系,擊穿電壓高二極管的壽命因子不一定大或小,而結(jié)電容相近的二極管,即便鈍化方式不同,但卻有著相近的m值。也就是說(shuō),結(jié)電容的大小對(duì)m值的影響最大。究其原因,結(jié)面積的大小直接影響著二極管載流子的表面復(fù)合,對(duì)二極管在不同溫度下載流子壽命的大小起著決定性的作用,即在式(1)中,雖然沒(méi)有結(jié)電容的因子,但式中載流子壽命τ與pin二極管的結(jié)面積密切相關(guān),且隨著pn結(jié)面積的減少而減小。
    由圖2中的趨勢(shì)線可以看出,載流子壽命因子m與結(jié)電容的關(guān)系近似為線性關(guān)系。當(dāng)結(jié)電容達(dá)到0.9 pF時(shí),載流子壽命因子m=1,由式(4)可知,此時(shí)二極管的電阻與溫度的關(guān)系約為線性關(guān)系,即溫度的上升,導(dǎo)致二極管電阻值的線性增加。m值小于2,根據(jù)式(5)得到:微波pin二極管的溫度系數(shù)是正值,溫度上升,導(dǎo)致了二極管電阻的增加。
2.3 不同Cj下,電阻與溫度的關(guān)系
   
根據(jù)式(5)和圖2趨勢(shì)線得到的m值,得到二極管歸一化電阻和溫度的關(guān)系曲線,該曲線可以用來(lái)預(yù)計(jì)二極管在不同溫度下的電阻。如圖3。

2.4 Rf與Rs
    上述測(cè)試數(shù)據(jù)中,采用的二極管的電阻值是正向微分電阻。二極管電阻的測(cè)試有兩種方法,分別得到正向微分電阻Rf和微波串聯(lián)電阻Rs。Rf的測(cè)量對(duì)檢驗(yàn)二極管金屬化工藝質(zhì)量更直觀,Rs對(duì)pin管應(yīng)用電路設(shè)計(jì)更方便一些。
    正向微分電阻的測(cè)量是在直流偏置If=(O~100)mA下,疊加50 Hz/5 mA的交流信號(hào),該信號(hào)提供一個(gè)較小的△I,從而獲得一個(gè)△V,則Rf=△V/△I,這種辦法模擬了微波使用狀態(tài);微波串聯(lián)電阻Rs的測(cè)量是在直流偏置If=(10~100)mA下,通常是10、50、100 mA三種偏置狀態(tài),采用隔離度測(cè)量法或反射系數(shù)測(cè)量法來(lái)測(cè)量計(jì)算得到Rs。
    可以證明:當(dāng)RjωCj《l時(shí),二極管的電阻與頻率基本無(wú)關(guān),Rf≈Rs。微波電路中使用的二極管的結(jié)電容不大,通常小于1 pF,在If=(10~100)mA內(nèi),Ri通常小于10 Ω,完全能夠滿足RjωCj《1。因此,上述關(guān)于Rf的研究結(jié)果同樣適用于微波串聯(lián)電阻Rs、Rf和Rs均可以用來(lái)表征微波pin二極管在微波狀態(tài)下的電阻性能,只是兩者的測(cè)試方式不同。
    以Model A為例,測(cè)量正向微分電阻Rf與微波串聯(lián)電阻Rs,并進(jìn)行了對(duì)比,見(jiàn)表4。測(cè)試使用WB-201型正向微分電阻測(cè)試儀和Agilent4287A RFLCR METER。由以下數(shù)據(jù)可以看出,當(dāng)正向電流較大時(shí),Rf≈Rs;正向電流較小時(shí),由于正向微分電阻測(cè)試儀器內(nèi)的交流小信號(hào)幅度不是很小,導(dǎo)致與Rs的測(cè)試誤差較大。

2.5 應(yīng)用
   
應(yīng)用上述結(jié)果可以預(yù)計(jì)pin開(kāi)關(guān)、電調(diào)衰減器等微波pin二極管電路的溫度特性。
    以并聯(lián)結(jié)構(gòu)微波pin二極管開(kāi)關(guān)為例,研究其隔離度與溫度的變化。在負(fù)偏置情況下,pin二極管結(jié)電容基本不隨溫度變化,其對(duì)隔離度的影響可以忽略不計(jì),隔離度隨溫度變化的主要因素是二極管的電阻。
    對(duì)于并聯(lián)結(jié)構(gòu)的pin二極管微波開(kāi)關(guān),其隔離度ISO可表示為

   
式中:G是二極管的導(dǎo)納,G=1/Z;Y0=1/Z0=0.02Ω。并假定二極管的正向工作電流IF下,Rt0=1.4Ω;雙金絲并聯(lián)引線電感(L1=L2=0.15 nH),工作頻率f=3 GHz,則X=ωL=1.413Ω,如不考慮互感,貝Zf0=0.7+j1.413(Ω),Yf0=a+jb=(0.353 8一j 0.357 1)Ω。
    根據(jù)表3,Cj=0.105 pF時(shí),m=1.510;Cj=0.594 pF時(shí),m=1.198。根據(jù)式(5)、(6),編制了簡(jiǎn)單的計(jì)算軟件,得到這兩種不同結(jié)電容pin二極管開(kāi)關(guān)隔離度的溫度特性,見(jiàn)圖4。

3 結(jié)論
    研究結(jié)果表明,微波pin二極管的電阻的溫度性能微觀上受載流子壽命、電子遷移率、表面狀態(tài)等諸多因素的影響,其綜合結(jié)果表現(xiàn)為二極管電容值對(duì)二極管的電阻的影響最大,微波pin二極管的鈍化方式和幾何結(jié)構(gòu)對(duì)其電阻的溫度性能影響不大。結(jié)電容為0.1~1.0 pF的微波二極管即使鈍化方式不同,其電阻都具有正的溫度系數(shù),溫度的升高導(dǎo)致二極管電阻的增加,約為線性關(guān)系。結(jié)電容越小,則m值越接近于2,電阻隨溫度的變化越??;反之,變化越大。
    研究結(jié)果可以用來(lái)預(yù)計(jì)pin二極管開(kāi)關(guān)的隔離度、衰減器衰減量的溫度性能,通過(guò)溫度補(bǔ)償設(shè)計(jì),制作出溫度性能優(yōu)良的pin二極管微波電路。

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