一種基于FPGA的準(zhǔn)單輸入調(diào)變序列生成器設(shè)計(jì)
1.引言 隨著集成電路復(fù)雜度越來(lái)越高，測(cè)試開(kāi)銷(xiāo)在電路和系統(tǒng)總開(kāi)銷(xiāo)中所占的比例不斷上升，測(cè)試方法的研究顯得非常突出。目前在測(cè)試源的劃分上可以采用內(nèi)建自測(cè)試或片外測(cè)試。內(nèi)建自測(cè)試把測(cè)試源和被測(cè)電路都集成在芯片的內(nèi)部，對(duì)于目前SOC級(jí)的芯片測(cè)試如果采用內(nèi)建自測(cè)試則付出的硬件面積開(kāi)銷(xiāo)則是很大的，同時(shí)也增加了芯片設(shè)計(jì)的難度：因此片外測(cè)試便成為目前被普遍看好的方法。由于FPGA具有可重構(gòu)的靈活性，利用FPGA來(lái)作為測(cè)試源實(shí)現(xiàn)片外測(cè)試就是一種非常有效的手段。 由于偽隨機(jī)模式測(cè)試只需要有限個(gè)數(shù)的輸入向量便可達(dá)到很高的故障覆蓋率因而在作為測(cè)試源設(shè)計(jì)中得到了廣泛應(yīng)用，采用CPLD來(lái)實(shí)現(xiàn)偽隨機(jī)測(cè)試序列生成器的設(shè)計(jì)[1]為提供了電子系統(tǒng)測(cè)試信號(hào)提供了一種簡(jiǎn)單的方法。在可測(cè)試設(shè)計(jì)中同時(shí)也要考慮低功耗的問(wèn)題，考慮功耗的主要原因是在測(cè)試模式下電路的功耗要遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于正常模式。因?yàn)椴捎猛耆膯屋斎胩儨y(cè)試序列所需要的測(cè)試序列長(zhǎng)度太長(zhǎng)而沒(méi)有實(shí)際應(yīng)用價(jià)值，這樣獲得準(zhǔn)單輸入跳變測(cè)試序列的測(cè)試生成器一直是低功耗設(shè)計(jì)中一種非常有效的方法，本文針對(duì)一種產(chǎn)生準(zhǔn)單輸入跳變測(cè)試序列的低功耗測(cè)試生成器[2]的缺點(diǎn)提出了改進(jìn)設(shè)計(jì)方案，并且利用EDA技術(shù)在FPGA芯片上進(jìn)行了設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)。 2.低功耗測(cè)試生成器的設(shè)計(jì) 本文給出的低功耗測(cè)試產(chǎn)生器改進(jìn)方案是在文獻(xiàn)[2]的測(cè)試產(chǎn)生器的基礎(chǔ)上再利用ROM中的種子對(duì)LFSR的再播種實(shí)現(xiàn)的。因?yàn)樵械凸臏y(cè)試產(chǎn)生器是以L(fǎng)FSR為基礎(chǔ)的，其產(chǎn)生的準(zhǔn)單輸入跳變測(cè)試序列只能覆蓋被測(cè)電路中的易測(cè)故障;要達(dá)到1 0 0%的故障覆蓋率，就必須對(duì)被測(cè)電路中剩余的抗偽隨機(jī)故障和難測(cè)故障采用少量的確定模式測(cè)試集來(lái)覆蓋;折疊集[3]就是其中一種有效的確定模式測(cè)試集，利用存儲(chǔ)在ROM中的折疊種子對(duì)LFSR多次再播種就可以產(chǎn)生所需要的折疊測(cè)試序列。由于在折疊集內(nèi)部各個(gè)測(cè)試向量之間由于存在相關(guān)性，按照一定規(guī)律排序后就可以將南一個(gè)折疊種子產(chǎn)生的折疊集變換成單輸入跳變測(cè)試序列：這樣由不同的折疊種子產(chǎn)生的測(cè)試向量序列就是準(zhǔn)單輸入跳變測(cè)試序列。 3.FPGA的設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn) 在FPGA的設(shè)計(jì)輸入時(shí)采用Verilog HDL語(yǔ)言來(lái)設(shè)汁所要求的測(cè)試生成器模塊，我們以n=8的LFSR為例，以下給出了設(shè)計(jì)源碼。通過(guò)使用MaxplusII1 0.2軟件在A(yíng)LTERA公司的FPGA芯片F(xiàn)LEX EPF1OK 10LC84-4進(jìn)行了仿真，圖2給出了仿真波形，驗(yàn)證了設(shè)計(jì)的正確性。
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