高速PCB設(shè)計(jì)仿真講座十三

2.2.5 使用SI Audit 進(jìn)行核查 在Database Setup Advisor－SI Models窗口中點(diǎn)擊 “Next” 按鈕， 將進(jìn)入Database Setup Advisor－SI Audit窗口，點(diǎn)擊該窗口的中央的“SI Audit”按鈕， Net Audit 窗口就會(huì)彈出，該窗口主要的功能就是檢查要仿真的網(wǎng)絡(luò)設(shè)置情況，相應(yīng)網(wǎng)絡(luò)的器件模型是否賦全，疊層設(shè)置的參數(shù)信息等等。假設(shè)需要對(duì) TC總線有仿真要求，我們對(duì)TC*信號(hào)檢查一下，在網(wǎng)絡(luò)過(guò)濾器中輸入TC*，按鍵盤Tab 鍵，選擇TC1 網(wǎng)絡(luò)并點(diǎn)擊Audit selected Net按鈕，彈出的窗口如下：圖 2－21 Net Audit 圖解說(shuō)明窗口對(duì)于缺少模型的元件，需要返回上一步驟賦模型的窗口中進(jìn)行添加，如果沒(méi)有錯(cuò)誤就可以關(guān)閉 Net Audit 窗口了，在Database Setup Advisor－SI Audit窗口中點(diǎn)擊“Finish”按鈕結(jié)束仿真設(shè)置向?qū)А?2.3 設(shè)置 IO管腳的測(cè)試條件和邏輯門限值 在給器件賦好模型后，我們還有一個(gè)需要經(jīng)常修改的地方，就是模型參數(shù)中的測(cè)試條件，這是因?yàn)橥黄骷牟煌δ艿?IO管腳可能使用的是同一個(gè) IOCell模型，廠家在測(cè)試這些管腳的功能參數(shù)時(shí)可能使用了不同的測(cè)試條件，因此我們?cè)趯?duì)不同的管腳所在的網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行仿真時(shí)，必須根據(jù)該管腳實(shí)際測(cè)試條件進(jìn)行設(shè)置。執(zhí)行 Analyze ->SI/EMI Sim ->Library…啟動(dòng) Signal Analysis Library Browser 界面，選中你所需設(shè)置的器件，再啟動(dòng) Model Browser界面。選中所需管腳，點(diǎn)擊 Editor，啟動(dòng) IOCell Editor界面，如圖 2－29 所示。其中有四個(gè)標(biāo)簽，我們會(huì)經(jīng)常修改的是 Delaymeasurement標(biāo)簽，該標(biāo)簽的內(nèi)容必須根據(jù)DATASHEET的數(shù)據(jù)進(jìn)行填寫。 因?yàn)楝F(xiàn)在公司有統(tǒng)一的 IBIS模型庫(kù)，DATASHEET有這些參數(shù)的已加上了，但往往有些粗糙的DATASHEET沒(méi)有給出這些參數(shù)，此時(shí)使用該器件的設(shè)計(jì)人員必須向廠家咨詢獲得該參數(shù)，否則仿真將無(wú)法進(jìn)行。圖 2-22 修改 IO管腳的測(cè)試條件另外，除了 DelayMeasurement標(biāo)簽需要設(shè)置外，通常還需要設(shè)置輸入緩沖器模型 Input Section標(biāo)簽中Logic Thresholds 的 High和 low值，如圖 2-23 所示。2.4 差分驅(qū)動(dòng)器的設(shè)置 當(dāng)仿真差分線時(shí)，可以將差分線一起提取拓樸，這就要將兩個(gè)驅(qū)動(dòng)器一起提取 IO模型，這需要在模型中作些修改： 執(zhí)行 Analyze ->SI/EMI Sim ->Model，啟動(dòng) Signal Model Assignment界面，如圖 2-24 所示。選中你所需設(shè)置的器件，再啟動(dòng) IBIS Device Model Editor 界面。點(diǎn)擊需要設(shè)置成差分對(duì)的一個(gè)管腳，將自動(dòng)彈出IBIS Device Pin Data 界面，如圖 2－25 所示。對(duì)于差分對(duì)，在 Diff Pair Date 下面，選擇 Type類型，如反向還是不反向，然后在 Mate Pin中填入耦合管腳，如 3，圖 2-26 所示，這樣就將2 和3 兩個(gè)管腳組成了一對(duì)，提取拓樸時(shí)會(huì)一起提出。圖 2-24 Signal Model Assignment 界面圖 2-25 IBIS Device Model Editor界面圖 2-26 IBIS Device Pin Data 界面