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[導(dǎo)讀]Key Issues of Micro-Electronic Package天水永紅器材廠 楊建生引言90年代前半期美國(guó)提出了第二代表面組裝技術(shù)的IC封裝技術(shù)--BGA(球柵陣列封裝),其進(jìn)一步的小型封裝為CSP(芯片規(guī)模封裝),在20世紀(jì)90年代末成為人們

Key Issues of Micro-Electronic Package天水永紅器材廠 楊建生

引言


90年代前半期美國(guó)提出了第二代表面組裝技術(shù)的IC封裝技術(shù)--BGA(球柵陣列封裝),其進(jìn)一步的小型封裝為CSP(芯片規(guī)模封裝),在20世紀(jì)90年代末成為人們關(guān)注的焦點(diǎn)。


球柵陣列封裝(BGA)


典型的球柵陣列封裝(BGA)是非常耐用的,如圖1所示。一旦被掉落到地板上之后,BGA可進(jìn)行組裝。這對(duì)PQFP封裝來(lái)說(shuō),在某種程度上是不可能的。BGA的先進(jìn)性為面積陣列形式,通常情況下較QFP在每一面積中提供較多的I/O數(shù)(如圖2所示)。當(dāng)I/O數(shù)大于250時(shí),BGA所占用的空間總是小于QFP,由于BGA的引線間距通常較類似的QFP寬松,組裝工藝較易,從而產(chǎn)生較高的效率。如果在組裝前測(cè)定與封裝相關(guān)的缺陷,那么此面積陣列封裝第一次通過(guò)的組裝效率可接近于小于1ppm/線水平。目前,BGA組裝最大的問(wèn)題是與封裝相關(guān)的缺陷問(wèn)題,這些問(wèn)題可能起因于焊球丟失、濕敏性、裝運(yùn)破壞及回流焊期間過(guò)度的翹曲。球尺寸方面存在非常大的變化,是大約從球到球的容積差異的2至3倍。一個(gè)焊點(diǎn)位置上雙層焊球及與金屬化相關(guān)的缺陷,諸如球和元件焊盤之間的貧焊。由于工藝問(wèn)題,BGA組裝的最堅(jiān)固的制造工藝提供最低的缺陷。然而,目前的組裝問(wèn)題仍困擾著面積陣列封裝制造業(yè)。這不足為怪,由于BGA封裝正常的成熟周期還未完成。

BGA封裝的構(gòu)造為在通常情況下,具有比等效的QFP較短的引線長(zhǎng)度,因此具有較好的電性能。不過(guò)BGA構(gòu)造引起的最大缺陷之一為成本問(wèn)題,BGA較QFP昂貴的主要原因是與元件載體基板有關(guān)的疊層板和樹脂的成本。BT樹脂、陶瓷和聚酰亞胺樹脂載體比QFPs包含有更昂貴的原始配料,而QFPs包含有低成本的模塑樹脂和金屬薄片引線框架。面積陣列載體的生產(chǎn)成本非常昂貴,是由于細(xì)線電路和化學(xué)處理工藝的緣故。另外,QFPs能夠使用的封裝硅材料與BGA封裝工藝相比,其工藝步驟所要求的高輸出精整壓模和多腔模壓較少。一旦形成高容積,面積陣列封裝的成本將下降,但也許不會(huì)下降到QFP的成本狀況。

就BGA封裝的成本而言,有發(fā)展前景的例外情況就是適中的I/O數(shù),即單層腔體向下型BGA封裝。在此類型的陣列中,封裝載體的焊球邊緣上,所有的電路無(wú)須通孔。因此,對(duì)每個(gè)BGA封裝而言,成本較高。BGA封裝極具優(yōu)勢(shì)的組裝效率將局部地彌補(bǔ)了這一差異。然而,當(dāng)QFP適用時(shí),在經(jīng)濟(jì)價(jià)值方面認(rèn)為BGA只有在下列條件下將是合理的。低于200I/Os時(shí),QFPs是適用的,相對(duì)來(lái)說(shuō)易于組裝。但高于200I/Os時(shí),情況正好是相反的。而當(dāng)QFP不適用時(shí),這種狀況將促使BGA廣泛的使用。并且極具可能的情況是高引線元件,使用高于200I/Os的BGA封裝。


BGA封裝的檢查與返修


BGA的檢查和返修也是日趨成熟的技術(shù)。雖然可進(jìn)行成品的檢查,但是要求精密的設(shè)備諸如X射線成像系統(tǒng)或超聲顯微鏡系統(tǒng)。隨著整個(gè)BGA封裝生產(chǎn)周期和經(jīng)驗(yàn)的不斷成熟,通過(guò)統(tǒng)計(jì)抽樣檢查所發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題會(huì)越來(lái)越少,從而使生產(chǎn)效率逐步提高。

返修也是一個(gè)值得考慮的問(wèn)題,BGA的返修主要是由于與元件相關(guān)的各種缺陷,因此同完成良好的制造工藝關(guān)系重大。因?yàn)檫B接頭位于封裝體的下面,返修比周邊上有引線器件的明接頭困難得多。BGA返修方面的一些關(guān)鍵性的問(wèn)題為:對(duì)拆卸部件的損壞,對(duì)替換部件的損壞,板與相鄰元件過(guò)熱,因局部加熱出現(xiàn)板的翹曲,適當(dāng)部位的清洗和制備。返修需要考慮的問(wèn)題包括:芯片溫度,返修周期內(nèi)元件上的溫度分布及板的溫度分布。如果所有需要的裝置都要購(gòu)買的話,BGA返修臺(tái)的費(fèi)用將是非常昂貴的。


清洗


BGA封裝的不利因素就是不能恰當(dāng)?shù)匕盐挥陉嚵蟹庋b底部的板表面的焊劑廢料洗掉。目前,高管腳數(shù)的面陣列封裝在尺寸大小方面接近于45mm ,因此,清洗問(wèn)題變得相當(dāng)關(guān)鍵。清洗要求使用的各種焊劑和焊膏可導(dǎo)致電失效,并且在高功率應(yīng)用中接地的性號(hào)會(huì)發(fā)生泄漏。為了減少殘存于封裝體底部未清除的焊劑廢料而導(dǎo)致的問(wèn)題,要求在大面積陣列封裝應(yīng)用中,使用免清洗焊劑/焊膏。采用各種溶劑的清洗系統(tǒng)可適當(dāng)?shù)厍逑碆GA封裝體的底部,但是將面臨各種環(huán)境限制和過(guò)高的成本問(wèn)題。


BGA的各種規(guī)格


目前適用的幾種規(guī)格的BGA封裝類型包括:塑料過(guò)模BGA(PBGA),有機(jī)帶式載體BGA(TBGA),陶瓷BGA(CBGA),陶瓷柱狀陣列(CGA),腔體型BGA,包括熱增強(qiáng)及芯片腔體朝下型,金屬體BGA(MBGA)。一般認(rèn)為,TBGA、CGA、CBGA封裝使用高熔融焊料合金(10Sn/90Pb),而大部分別的BGAs使用低熔融共晶焊料63Sn/37Pb或接近于低共熔的62Sn/36Pb/2Ag焊料合金。


有效性(利用率)


概括地說(shuō),在過(guò)去幾年中已通用的高于208個(gè)管腳、間距為0.5mm款式的QFPs ,應(yīng)用范圍不夠廣泛,更高管腳數(shù)的QFPs包括256個(gè)管腳、間距0.4mm,304個(gè)管腳、間距0.4mm的各個(gè)品種,應(yīng)用范圍也不夠廣泛。大部分QFPs為塑料和陶瓷殼體款式,通常各類塑料型器件適合于較高的引線數(shù)。另外,兩種較少使用的QFP類型為密封TAB型和金屬殼體型(高熱損耗)。隨著QFP封裝引線數(shù)的增加,其殼體尺寸急劇地增加,可以替代封裝尺寸增加的是更進(jìn)一步縮減引線間距。一些商用的0.3mm間距的器件已獲得成功,但是有限的封裝有效性和非常密的組裝工藝已防礙著大規(guī)模的器件組裝。通用的QFPs產(chǎn)品來(lái)源很多,包括IBM、Intel、Shinko、Seiko、Olin、Swire、IPAC 和Motorola 等公司。

BGAs在高于200I/O數(shù)水平的各種各樣的類型中是通用的,在塑料BGAs中,通用的封裝規(guī)格包括225、256、313、352、361和400I/O數(shù)的各種元件。各種熱增強(qiáng)型面陣列封裝包括479和503個(gè)管腳的類型。腔體向下型BGAs目前適用的為204、208、240、256、312、352、432、479、560和596等各種款式。提供的TBGAs的類型的管腳數(shù)分別為:240、342、432、647和736,并且可安裝散熱片或在封裝的后背部粘附一個(gè)金屬板。CBGAs典型地使用于非常高的管腳數(shù)的各種應(yīng)用,并且一般為高于1000I/O數(shù)。為了獲得高的熱損耗問(wèn)題的解決,近年來(lái)已開展進(jìn)行兩種金屬殼體型BGAs的嘗試。通用的BGAs封裝產(chǎn)品的供應(yīng)商主要包括:IBM、Motorola 、Citizen 、LSI Logic 、Amkor、 Anam 、Cassia、SAT、AT&T、National Semiconductor 、Olin and ASE 等公司。


發(fā)展趨勢(shì)


可預(yù)見,未來(lái)一段時(shí)間里,引線數(shù)低于200的PQFP將成為主要的封裝技術(shù)。當(dāng)引線數(shù)高于350時(shí),QFPs要得到廣泛的應(yīng)用是不可能的。在200到300I/O的各類器件之間,將繼續(xù)存在兩個(gè)封裝技術(shù)領(lǐng)域之間的競(jìng)爭(zhēng)。因此,小于0.5mm的QFP封裝工藝將被極具吸引力的BGAs封裝工藝所代替。然而,與PQFPs較適中的8%的年增長(zhǎng)率相比較,BGA的年增長(zhǎng)率將增大為每年25%。



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