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[導(dǎo)讀]  測試二極管的反向恢復(fù)特性通常需要復(fù)雜的測試設(shè)備。你必須能夠建立正向傳導(dǎo)條件、阻斷狀態(tài)和兩者之間的轉(zhuǎn)換。你還需要一種能夠從結(jié)果的微波中提取特征的手段??傊?,一個專家需要處理這個復(fù)雜的工作而不僅僅是例

  測試二極管的反向恢復(fù)特性通常需要復(fù)雜的測試設(shè)備。你必須能夠建立正向傳導(dǎo)條件、阻斷狀態(tài)和兩者之間的轉(zhuǎn)換。你還需要一種能夠從結(jié)果的微波中提取特征的手段??傊粋€專家需要處理這個復(fù)雜的工作而不僅僅是例行公事。這個事實說明了為什么工程師們普遍傾向于依靠公布的數(shù)據(jù)。

  你自己來檢查反向恢復(fù)時間是有利的,不過,前提是要做的測試是簡單明了的。這種格局將使你可以在相同的條件和試驗裝置下比較來自不同廠家的設(shè)備并且測試沒有這種規(guī)格的設(shè)備,如襯底二極管驅(qū)動集成電路、齊納二極管、整流標(biāo)準。(由于測試參數(shù)聯(lián)合的個數(shù),一個數(shù)據(jù)的直接對比是基本不可能的)。注意使反向恢復(fù)時間變短不一定很好。慢速的二極管可以同樣有用。它們可以產(chǎn)生小死亡時間、提高效率、轉(zhuǎn)換器并提供其他福利。

  這種設(shè)計理念呈現(xiàn)的是一個檢測器只使用少數(shù)便宜、基本的組件卻可以讓你檢查反向恢復(fù)時間。測試條件是固定而簡明的,為了規(guī)范化測試和為了對比的目的我們提供了一個共同的標(biāo)準。這些條件都符合99 %容易測試的設(shè)備。檢測器的正向電流足夠低這樣可以使小開關(guān)二極管足夠安全,但卻要求高到足以克服較大裝置的電容的影響。

  二極管電阻AND門是電路的

  核心。門口的二極管是被測器件(圖1 )。一個真正的二極管在過渡期后仍然保留導(dǎo)電的特性,通過R35產(chǎn)生一個正向脈沖。采用直接測量脈沖寬度,電路采用了精細的配置。網(wǎng)絡(luò)R19/C15平均數(shù)脈搏并且放大和顯示結(jié)果電壓。由于測量頻率固定為50千赫,正確的比例因子是一切必要的。

  一個真正的二極管也擁有正向電壓。Q3照顧由于采樣通過IC4A的正向電壓引起的問題并且清除通過R35的輸出電壓。改變放大器IC4a可以設(shè)置各種范圍。這樣的話,范圍排列為1、2.5、5。 這種測量方式的最大優(yōu)點就是不需要很快速的比較儀或者取樣器就可以處理直流電或者低頻信號,同樣可以解決數(shù)以百計的皮秒。

  IC3的內(nèi)置振蕩器產(chǎn)生時鐘。這個時鐘的頻率是800kHz并且在Q3可以下降到50kHz。一個可以選折的緩慢的模式對于那些低于5微秒的需要測試的機器來說是有用的。L1的插入使時鐘的頻率降低到80kHz并且允許你來測量像50微秒那樣快慢的反向翻轉(zhuǎn)時間。IC2產(chǎn)生測試波形并且在時鐘門上轉(zhuǎn)換50kHz的信號。由于取樣不發(fā)生在轉(zhuǎn)換的附近,所以不需要十分的快速和精確。C1 傳輸抽樣脈沖和提供一個由Q1緩沖的觸發(fā)的方便的信號。當(dāng)你連接一個示波鏡到被測設(shè)備的正極,你就可以很直觀的觀測波形。

  IC2B的腳8是一個一直沒有用過的輸出端擁有一個負電壓發(fā)生器,它作為IC4輸出端的偏置口讓他們達到一個真正的零。一個LED擔(dān)任了一個55v的參考,同時基于周圍溫度環(huán)境的反向恢復(fù)時間的因數(shù)提供了一些溫度補償。你可以對電路做一些調(diào)整。例如,沒有二極管的加入。你可以縮短重復(fù)這個程序直到讀取不是依賴位置的長短。這個調(diào)整由于放大器的偏移而與0結(jié)合到一起。

  現(xiàn)在,你可以消除VF的影響。你可以通過縮短調(diào)整測試點1和4 來調(diào)整0納秒,也可以調(diào)整RV2在10納秒范圍內(nèi)讀0。這一調(diào)整用一個在正向上的1至2納秒的典型偏移產(chǎn)生0納秒。在時間和電荷注入效應(yīng)的剩余歪斜造成這一偏移。通常這個偏移了應(yīng)該不算一個問題,因為它是小的、穩(wěn)定的和持續(xù)的。如果您需要絕對精度下降至皮秒,你就要測試一個已知的超快二極管,如FD700或BAY82。同時你需要調(diào)整0納秒來閱讀的實際值。如果你無法獲得這種二極管,總是可以隨意移動1.5納秒。這種調(diào)整通常足以達到±500皮秒的準確性。肖特基二極管是不合適的。不管他們的低恢復(fù)時間時間,因為他們相對高的電容和不可忽視的泄漏電流使他們創(chuàng)造了一個非零讀取值。低電容、混合機型二極管對于這一個測試太脆弱了。

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