探頭的測(cè)量結(jié)果分析

我們可以預(yù)測(cè)，如果用有接地引線的探頭去測(cè)量來(lái)自低源端電阻信號(hào)源的信號(hào)，會(huì)觀察到人為的振鈴和過(guò)沖現(xiàn)象。

通過(guò)圖3.6和圖3.7，可以比較我們的判斷和實(shí)際的測(cè)量結(jié)果。這些實(shí)驗(yàn)采用電容極低的FET型探頭，額定為1.7PF并聯(lián)電容，其3DB帶寬為1GHZ，連接到數(shù)字示波器TEKTRONIX11403。圖3.6中信號(hào)源的源端電阻為25歐，3IN長(zhǎng)的接地引線。中間波形采用的是裸探頭直接接觸測(cè)量點(diǎn)，接地線長(zhǎng)度也是3IN長(zhǎng)的接地引線。中是的波形采用的是裸探頭直接接觸測(cè)量點(diǎn)，接地線長(zhǎng)度也是3IN。顯然，只拿掉探頭的塑料夾子產(chǎn)生的影響很小。這此掃描波形顯示，在25歐源端電阻情況下的過(guò)沖約為15%，而在5歐源端電阻情況下的過(guò)沖則高達(dá)29%。

圖示的振鈴周期在2~6NS之間。我們可以很快知道電路的時(shí)間常數(shù)：

由0.63NS的LC電路時(shí)間常數(shù)得到的振鈴周期為：

到目前為止，測(cè)量結(jié)果和理論幾乎一致。那么兩個(gè)圖例中最下方的波形是什么呢？為什么這個(gè)波形會(huì)更好呢？

兩個(gè)圖例最下方的波形為我們解決過(guò)沖問(wèn)題提供了很好的思路。在下方的波形測(cè)量中，我們把探頭的外塑料殼去除，把接地引線拿掉，使探頭外部的金屬屏蔽層以及探頭頂端完全正確裸露，然后用一個(gè)刀片將探頭外屏蔽層和被測(cè)電路的地直接相連，盡量靠近信號(hào)測(cè)量點(diǎn)。這使得實(shí)際的接地線自感非常小。采用這種直接連到地線的方法，25歐源端電阻和10歐源端電阻的掃描波形在過(guò)沖方面都得到了明顯的改善。

我們可以預(yù)測(cè)，如果用有接地引線的探頭去測(cè)量來(lái)自低源端電阻信號(hào)源的信號(hào)，會(huì)觀察到人為的振鈴和過(guò)沖現(xiàn)象。

通過(guò)圖3.6和圖3.7，可以比較我們的判斷和實(shí)際的測(cè)量結(jié)果。這些實(shí)驗(yàn)采用電容極低的FET型探頭，額定為1.7PF并聯(lián)電容，其3DB帶寬為1GHZ，連接到數(shù)字示波器TEKTRONIX11403。圖3.6中信號(hào)源的源端電阻為25歐，3IN長(zhǎng)的接地引線。中間波形采用的是裸探頭直接接觸測(cè)量點(diǎn)，接地線長(zhǎng)度也是3IN長(zhǎng)的接地引線。中是的波形采用的是裸探頭直接接觸測(cè)量點(diǎn)，接地線長(zhǎng)度也是3IN。顯然，只拿掉探頭的塑料夾子產(chǎn)生的影響很小。這此掃描波形顯示，在25歐源端電阻情況下的過(guò)沖約為15%，而在5歐源端電阻情況下的過(guò)沖則高達(dá)29%。

圖示的振鈴周期在2~6NS之間。我們可以很快知道電路的時(shí)間常數(shù)：

由0.63NS的LC電路時(shí)間常數(shù)得到的振鈴周期為：

到目前為止，測(cè)量結(jié)果和理論幾乎一致。那么兩個(gè)圖例中最下方的波形是什么呢？為什么這個(gè)波形會(huì)更好呢？

兩個(gè)圖例最下方的波形為我們解決過(guò)沖問(wèn)題提供了很好的思路。在下方的波形測(cè)量中，我們把探頭的外塑料殼去除，把接地引線拿掉，使探頭外部的金屬屏蔽層以及探頭頂端完全正確裸露，然后用一個(gè)刀片將探頭外屏蔽層和被測(cè)電路的地直接相連，盡量靠近信號(hào)測(cè)量點(diǎn)。這使得實(shí)際的接地線自感非常小。采用這種直接連到地線的方法，25歐源端電阻和10歐源端電阻的掃描波形在過(guò)沖方面都得到了明顯的改善。