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[導(dǎo)讀]以標準(IEC標準和其他國際標準、國家標準、部頒標準)、開發(fā)規(guī)格書、企業(yè)標準、測試規(guī)范為依據(jù),以測試數(shù)據(jù)為準繩,站在用戶的角度上對電源系統(tǒng)進行評測,將功能缺陷與故障隱患暴露在測試階段。

1、測試基本原則

以標準(IEC標準和其他國際標準、國家標準、部頒標準)、開發(fā)規(guī)格書、企業(yè)標準、測試規(guī)范為依據(jù),以測試數(shù)據(jù)為準繩,站在用戶的角度上對電源系統(tǒng)進行評測,將功能缺陷與故障隱患暴露在測試階段。

模塊指標盤踞以開發(fā)規(guī)格書和企業(yè)標準為準,當測試項目在開發(fā)規(guī)格書和企業(yè)標準中未明確界定時,以測試規(guī)范中系統(tǒng)指標的默認參考指標或行業(yè)標準為準。

測試工作不受項目開發(fā)組態(tài)度與思路及其他干擾測試過程因素的影響,獨立按照測試流程進行。

對于樣機階段的模塊測試(模塊的優(yōu)化測試例外),首先進行環(huán)路的測試,環(huán)路測試不合格,測試結(jié)束,模塊退回項目組修改以后,重新提交測試申請,轉(zhuǎn)入下一循環(huán)的測試。

樣機測試中,如果因測試問題較嚴重,已影響模塊測試工作的順利進行,需停止測試,方允許在受測試系統(tǒng)上進行修改,項目開發(fā)組對問題進行修改并完成自測試后,重新提交測試申請,轉(zhuǎn)入下一循環(huán)的測試。其余情況下,測試問題只能在第二套樣機上進行修改及測試,并進行記錄。在下一測試階段,對修改后的測試問題進行系統(tǒng)驗證并進行其他項目測試。

中試測試著重設(shè)計產(chǎn)品的復(fù)制結(jié)果——復(fù)制品性能、指標的達標情況。

2、技術(shù)指標說明

開發(fā)規(guī)格書或企業(yè)標準的指標低于業(yè)界相關(guān)的規(guī)定時,需修改開發(fā)規(guī)格書或企業(yè)標準,否則依據(jù)業(yè)界標準判定開發(fā)規(guī)格書或企業(yè)標準不合格,并提請總體辦重新對開發(fā)規(guī)格書或企業(yè)標準進行評審。

(1)指標界定

部標為最低標準,當開發(fā)規(guī)格書優(yōu)于部標、國標或國際標準時,以開發(fā)規(guī)格書和企業(yè)標準為準:未作特殊說明的指標為開發(fā)規(guī)格書、項目任務(wù)書及相關(guān)標準中界定的指標要求,是產(chǎn)品必須具備的基本指標。

(2)牽引指標

遵照“以測試技術(shù)牽引開發(fā)技術(shù)”的原則,向國際標準靠攏,用以牽引公司產(chǎn)品技術(shù)的發(fā)展類指標。

3、不合格測試項目分類原則

3.1 A類問題(致命問題):

威脅用戶人身或財產(chǎn)安全的所以項目;

引起產(chǎn)品不能正常工作或性能嚴重劣化的所以項目。

3.2 B類問題(嚴重問題):

技術(shù)指標未能達到產(chǎn)品開發(fā)規(guī)格書或企業(yè)標準要求的項目;

各種非破壞性極限情形下(如極限瞬態(tài)等)可能導(dǎo)致產(chǎn)品損壞的項目;

環(huán)路測試裕量不足。

3.3 C類問題(一般問題):

不影響產(chǎn)品功能與性能之項目,如:產(chǎn)品外觀及標志未合格項目、測試規(guī)范沒有界定的測量點的局部溫升等項目;

技術(shù)指標未達到牽引指標之項目;

裕量測試不足之測試項目(環(huán)路裕量測試不足屬嚴重問題)。

3.4 D類問題(討論問題):

研究性測試未合格項目;

開發(fā)規(guī)格書(或企業(yè)標準)及測試規(guī)范中均未明確界定的項目;

對于測試項目不合格結(jié)束,送測方與測試方存在分歧且無判定參考依據(jù)的測試項目;

測試中發(fā)現(xiàn)的問題對于用戶影響不能確認的。

4、產(chǎn)品判斷準則

4.1 合格判定

無A、B不合格項,C類不合格向不大于3項,判定模塊合格。

4.2 不合格判定

A、B類問題,一項不合格,即判定模塊不合格;

C類問題,三項(不含三項)以上不合格,即判定模塊不合格。

4.3 D類問題判定

由總體組和專家組,參照技術(shù)、市場、生產(chǎn)、成本等等限制條件確定其對系統(tǒng)合格與否的影響。

對D類問題的判定結(jié)果,由總體組和專家組負責,不記如測試部的評定指標范圍。

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