DDR 測(cè)試系列之二—— WaveScan 技術(shù)分離 DDR2 的讀寫周期

測(cè)量DDR2存儲(chǔ)設(shè)備需要把讀/寫的訪問周期分離開來。在DDR2中通過Strobe和Data總線之間的關(guān)系可以區(qū)分出來讀和寫的操作。如圖1所示，在讀操作時(shí)Data和Strobe的跳變是同步的，而在寫操作時(shí)Strobe的跳變則領(lǐng)先于Data。我們利用這種時(shí)序上的差異就可以分離出讀操作和寫操作。在圖1中，較低幅值的“讀”操作時(shí)，Data跳變與Strobe跳變同時(shí)發(fā)生，較高幅值的“寫”操作時(shí)，Strobe信號(hào)會(huì)領(lǐng)先于Data信號(hào)約750ps跳變。

力科的 WaveScan波形搜索與掃描特性可以通過選擇Strobe和掃描疊加（ScanOverlay）圖中滿足條件的波形之間的時(shí)序關(guān)系找出Data信號(hào)。 圖2是這種功能的一個(gè)例子。WaveScan的對(duì)話框設(shè)置為搜索建立時(shí)間（Hold Time）在500ps到1ns(750 ±250 ps)之間的波形。對(duì)話框右邊的標(biāo)簽用來鑒別Strobe和Data信號(hào)。注意“Hold Clock”和“Hold Data”兩個(gè)對(duì)話框標(biāo)簽，測(cè)量是對(duì)這兩個(gè)信號(hào)邊沿設(shè)定的。
WaveScan會(huì)在左邊顯示的表格中列出每次捕獲中符合測(cè)量條件的所有波形特征。觸摸列表時(shí)會(huì)自動(dòng)的對(duì)被選擇的特征放大顯示。這個(gè)例子中顯示的是一組“寫”操作狀態(tài)的縮放。每個(gè)符合測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)的操作就像顯示出來的那樣用一個(gè)紅色方框描繪出輪廓。

WaveScan把測(cè)量過濾中所有符合測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)的波形累積起來形成掃描疊加的軌跡圖（圖2中間的軌跡）。這幅余輝圖包含了全部捕獲的歷史波形軌跡。我們現(xiàn)在就可以對(duì)被選擇出來的整個(gè)波形組在掃描疊加軌跡圖上應(yīng)用測(cè)量參數(shù)進(jìn)行測(cè)量。你也可以在被選擇波形的縮放軌跡上應(yīng)用測(cè)量參數(shù)進(jìn)行測(cè)量。

圖3顯示的是一個(gè)“risetime ”參數(shù)應(yīng)用在掃描疊加軌跡中的例子。掃描疊加軌跡圖僅僅包括由WaveScan隔離出來的寫操作周期。

圖4 顯示的是另一項(xiàng)測(cè)量技術(shù)。在這里，被選定的一組寫周期用掃描縮放（ScanZoom）分離出來。參數(shù)門限進(jìn)一步隔離出僅有12個(gè)寫周期并僅在信號(hào)正邊沿測(cè)量出兩個(gè)信號(hào)的時(shí)間差（P4）。

WaveScan為您提供了一種可以測(cè)定DDR2設(shè)備的工具。