如何做好PCB上的高速信號(hào)阻抗測(cè)試
利用TDR(Time Domain Reflectometry) 時(shí)域反射計(jì)測(cè)試PCB板、線纜和連接器的特征阻抗是IPC( 美國(guó)電子電路與電子互連行業(yè)協(xié)會(huì)) 組織指定的特征阻抗量測(cè)方法，在電子測(cè)量領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用和普及。但是，TDR也是電子設(shè)備，通常情況下，和其它電子設(shè)備一樣，帶寬越高，對(duì)靜電放電(ESD)/ 電氣過(guò)載壓力(EOS) 就越敏感，所以使用高帶寬TDR（如18GHz 以上）的多數(shù)行業(yè)客戶可能都經(jīng)歷過(guò)TDR 的ESD/EOS 損壞。特別是PCB 制造行業(yè)，因?yàn)門DR的使用頻率比較高，靜電損壞，不管是否包含EOS，這樣的損壞常常會(huì)給生產(chǎn)效率和成本控制帶來(lái)較大影響，所以甚至有的客戶開(kāi)始考慮用其它設(shè)備替代TDR。但考慮到TDR阻抗測(cè)試方法的時(shí)域特性以及其高的測(cè)試效率、測(cè)試精度和測(cè)試一致性等優(yōu)點(diǎn)，它一直是IPC-TM-650 規(guī)范和HDMI,USB-IF, VESA Displayport 等工業(yè)組織指定的、權(quán)威的特征阻抗測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。
大多數(shù)有經(jīng)驗(yàn)工程師都了解，大部分ESD/EOS是瞬間產(chǎn)生的，且由于實(shí)驗(yàn)室環(huán)境溫度的變化、一起操作人員的使用經(jīng)驗(yàn)以及被測(cè)產(chǎn)品駐留靜電等偶發(fā)因素的影響，ESD/EOS是不可能被完全避免的，所有的電子量測(cè)設(shè)備比如：示波器、信號(hào)源和 VNA 都有明確具體的防 ESD/EOS 要求，電子量測(cè)設(shè)備性能越高端，對(duì)應(yīng)的防 ESD/EOS 要求就越高。同時(shí)，ESD/EOS 對(duì)電子測(cè)量設(shè)備的影響是可以不斷累積的，大量重復(fù)的 ESD/EOS 造成的靜電累積會(huì)逐漸損傷該測(cè)量設(shè)備，最終造成其量測(cè)功能惡化。
因此，如何更有效的防止ESD/EOS對(duì)產(chǎn)品和量測(cè)設(shè)備可能造成的損壞？作為測(cè)試、測(cè)量和監(jiān)視技術(shù)的全球領(lǐng)導(dǎo)者，泰克憑借豐富的測(cè)試測(cè)量產(chǎn)品種類，全面的產(chǎn)品特性與功能，最優(yōu)惠的產(chǎn)品價(jià)格，以及不斷創(chuàng)新的解決方案贏得了全球80%工程師的信賴，在PCB制造業(yè)測(cè)試上，泰克又有哪些改善案例與我們分享？點(diǎn)擊了解詳情（http://www.ofweek.com/topic/company/tek/serialdata.html），還能免費(fèi)獲得泰克最新產(chǎn)品手冊(cè)，最完善、最全面的解決方案，幫助工程師們輕松應(yīng)對(duì)復(fù)雜的測(cè)試測(cè)量任務(wù)！
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