EN50383標準簡介－場強的測量方法

場強的測試方法包括面的掃描和體積的掃描。通過這些方法能直接或者間接的知道電場或者磁場的場強。
2面掃描方法
如圖面掃描方法的測試示意圖：

其中：Rmes是被測物基準點到測試探頭的距離
面掃描即掃描以Rmes為半徑的球表面的場強分布情況，一般來說定義被測物旋轉的角度為方位角φ，探頭的旋轉角度為仰角θ。通過被測物的旋轉和探頭的旋轉來實現(xiàn)測試目的。
測試步驟：
1.確認天線探頭，測試系統(tǒng)及設備正常運行，安置被測物在適當?shù)奈恢谩?br /> 2.系統(tǒng)中設定合適的輸出功率及測試頻率。
3.當被測物每旋轉Δφ方位角，探頭從θi到θmax（imin=1）測量得到數(shù)值。重復測量直到φi=φmax（imin=1）。
4.根據(jù)測量得到的數(shù)據(jù)得出被測物的指標。
此方法最終測量得到的數(shù)據(jù)為在一定距離被測物輻射出的場強，適合于進行天線OTA測試及無源天線的參數(shù)指標測試。

3 體積掃描
如圖體積掃描方法的測試示意圖：

其中：R是被測物到全向探頭的距離
體積掃描通過近場的測試得到被測物的場強。使用的探頭為全向探頭。
測試步驟：
1.確認天線探頭，測試系統(tǒng)及設備正常運行，安置被測物在適當?shù)奈恢谩?br /> 2.系統(tǒng)中設定合適的輸出功率及測試頻率。
3.對被測物進行3D掃描，并且在不同的角度分別選擇電場探頭和磁場探頭進行測試，分別測量E場和H場的場強。
4.根據(jù)測量得到的數(shù)據(jù)得出被測物的指標。
此方法根據(jù)不同形狀的產(chǎn)品測試的距離R不同，測試數(shù)據(jù)為全向的電場強和磁場強，適合進行SAR測試。