數(shù)字電路電源完整性測(cè)試系統(tǒng)配置和關(guān)鍵性能指標(biāo)

高速數(shù)字電路電源完整性精確測(cè)量一直是個(gè)難題，以前大部分研發(fā)單位和公司并不進(jìn)行這些電源完整性參數(shù)的測(cè)量。但是，隨著數(shù)字信號(hào)速率的不斷提升，特別是提升到10Gbps以上數(shù)量級(jí)后，電源完整性的測(cè)量成為關(guān)鍵測(cè)試項(xiàng)目之一。因而，近來(lái)不斷地遇到客戶(hù)咨詢(xún)電源完整性的測(cè)試方案，所以現(xiàn)在把電源完整性測(cè)試系統(tǒng)的配置和關(guān)鍵性能指標(biāo)整理如下。

1. 電源完整性測(cè)試系統(tǒng)配置：

DSO90254AE5061B(Opt: 005，3L5)N2873A(x2)1250-1250(x2),15442A85033E11667L8120-1840(x4)16201A(Opt:001),16195B16092A,16192A(16192A/B/C/D,16197A根據(jù)需要選擇）,16047E

2. 電源完整性測(cè)試系統(tǒng)關(guān)鍵性能指標(biāo)：

紋波測(cè)試能力：3mv(P-P)阻抗測(cè)試能力：1m歐姆---50K歐姆頻率范圍：5Hz--3GHz基本測(cè)試精度：+-2%SMD器件測(cè)試能力：頻率DC--3GHz引腳器件測(cè)試能力：頻率DC-110MHz直流偏置范圍：0--+-40VDC

3. 電源完整性測(cè)試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)的測(cè)試功能：

電源紋波測(cè)量直流-直流轉(zhuǎn)換器環(huán)路增益（幅度和相位）測(cè)量PDN（電源分配網(wǎng)絡(luò)）毫歐姆級(jí)阻抗測(cè)量濾波電容/旁路電容/磁珠等用于電源分配網(wǎng)絡(luò)的器件的阻抗和參數(shù)測(cè)量