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[導(dǎo)讀] 設(shè)計(jì)人員往往忽略高容量、多層陶瓷電容(MLCC)隨其直流電壓變化的特性。所有高介電常數(shù)或II類電容(B/X5R R/X7R和F/Y5V特性)都存在這種現(xiàn)象。然而,不同類型的MLCC變化量區(qū)別很大。Mark Fortunato曾經(jīng)寫過

設(shè)計(jì)人員往往忽略高容量、多層陶瓷電容(MLCC)隨其直流電壓變化的特性。所有高介電常數(shù)或II類電容(B/X5R R/X7R和F/Y5V特性)都存在這種現(xiàn)象。然而,不同類型的MLCC變化量區(qū)別很大。Mark Fortunato曾經(jīng)寫過一篇關(guān)于該主題的文章,給出的結(jié)論是:您應(yīng)該核對(duì)電容的數(shù)據(jù)資料,確認(rèn)電容值隨偏壓的變化。但如果數(shù)據(jù)資料中未提供這一信息又該如何呢?您如何確定電容在具體應(yīng)用條件下變小了多少?


對(duì)電容與偏壓關(guān)系進(jìn)行特征分析的理論

圖1所示為一種測(cè)量直流偏壓特性的電路。該電路的核心是運(yùn)算放大器U1(MAX4130)。運(yùn)放作為比較器使用,反饋電阻R2和R3增加滯回。D1將偏置設(shè)置在高于GND,所以不需要負(fù)電源電壓。C1和R1從反饋網(wǎng)絡(luò)連接至輸入負(fù)端,使電路作為RC振蕩器工作。電容C1為被測(cè)對(duì)象(DUT),作為RC振蕩器中的C;電位計(jì)R1為RC振蕩器中的R。



圖1:對(duì)電容與偏壓關(guān)系進(jìn)行特征分析的電路。


運(yùn)放輸出引腳的電壓波形Vy以及R、C之間連接點(diǎn)的電壓Vx如圖2所示。當(dāng)運(yùn)放輸出為5V時(shí),通過R1對(duì)C1進(jìn)行充電,直到電壓達(dá)到上限,強(qiáng)制輸出為0V;此時(shí),電容放電,直到Vx達(dá)到下限,從而強(qiáng)制輸出恢復(fù)為5V。該過程反復(fù)發(fā)生,形成穩(wěn)定振蕩。



圖2. VX和VY的振蕩電壓。


振蕩周期取決于R、C,以及上門限VUP和下門限VLO:


由于5V、VUP和VLO固定不變,所以T1、T2與RC成比例(通常稱為RC時(shí)間常數(shù))。比較器門限是Vy、R2、R3及D1正向偏壓(Vsub>Diode)的函數(shù):



式中,VUP為Vy= 5V時(shí)的門限,VLO為Vy = 0V時(shí)的門限。給定參數(shù)后,這些門限的結(jié)果大約為:VLO為0.55V,VUP為1.00V。

Q1和Q2周圍的電路將周期時(shí)間轉(zhuǎn)換為比例電壓。工作原理如下。MOSFET Q1由U1的輸出控制。T1期間,Q1導(dǎo)通,將C3電壓箝位至GND;T2期間,Q1關(guān)斷,允許恒定電流源(Q2、R5、R6和R7)對(duì)C3進(jìn)行線性充電。隨著T2增大,C3電壓升高。圖3所示為三個(gè)周期的C3電壓。




圖3:T1期間,C3箝位至GND;T2期間,對(duì)其進(jìn)行線性充電。


C3電壓(VC3)平均值等于:


由于I、C3、α和β均為常數(shù),所以C3的平均電壓與T2成比例,因此也與C1成比例。

低通濾波器R8/C4對(duì)信號(hào)進(jìn)行濾波,低失調(diào)運(yùn)放U2 (MAX9620)對(duì)輸出進(jìn)行緩沖,所以,允許使用任何電壓表進(jìn)行測(cè)量。測(cè)量之前,該電路需要進(jìn)行簡(jiǎn)單校準(zhǔn)。首先將DUT安裝到電路,將VBIAS設(shè)定為0.78V (VLO和VUP的平均值),所以DUT上的實(shí)際平均(DC)電壓為0V。調(diào)節(jié)電位計(jì)R1時(shí),輸出電壓隨之變化。調(diào)節(jié)R1,直到輸出電壓讀數(shù)為1.00V。在這種條件下,C3的峰值電壓為大約2.35V。可更改偏置電壓,輸出電壓將顯示電容值的變化百分比。例如,如果輸出電壓為0.80V,在特定偏置電壓下的電容值將為偏置為0V時(shí)的80%。

在一塊小PCB上搭建圖1電路。首先使用一個(gè)10μF電容進(jìn)行測(cè)量。圖4和圖5分別顯示了0V和5V偏壓條件下的信號(hào)。




圖4:VBIAS = 0V時(shí)的測(cè)量結(jié)果,Ch1 = Vx;Ch2 = Vy;Ch3 = VC3。調(diào)節(jié)R1,使電壓表讀數(shù)為1.000V。

圖5. VBIAS = 5V時(shí)的測(cè)量結(jié)果。由于電容值減小,振蕩周期已經(jīng)明顯縮短。Ch1 = Vx;Ch2 = Vy;Ch3 = VC3。電壓表讀數(shù)為0.671V。


0V偏壓時(shí),調(diào)節(jié)電位計(jì)R1,使電壓表讀數(shù)為1.000V。5V偏壓時(shí),電壓表讀數(shù)為0.671V,說明電容值為原來的67.1%。利用高精度計(jì)數(shù)器,也測(cè)得總周期T。0V偏壓下的T為4933?s,5V偏壓下為0V,說明電容值為原來的66.5% (即3278μs/4933μs)。這些值非常一致,證明電路設(shè)計(jì)可高精度測(cè)量電容值隨偏壓的變化關(guān)系。

現(xiàn)在執(zhí)行第二項(xiàng)測(cè)量,從Murata提供的樣本中抽取2.2μF/16V電容(型號(hào)為GRM188R61C225KE15)。本次測(cè)量中,在0V至16V整個(gè)工作范圍內(nèi)記錄電容值。通過測(cè)量電路的輸出電壓和實(shí)際振蕩周期,確定相對(duì)電容。此外,從Murata Simsurfing工具采集數(shù)據(jù);該工具可根據(jù)Murata的測(cè)量值提供具體器件的直流偏置特性。結(jié)果如圖6所示。兩條測(cè)量數(shù)據(jù)曲線所示的結(jié)果幾乎完全相同,證明時(shí)間-電壓轉(zhuǎn)換電路在較大動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)工作良好。Simsurfing工具得到的數(shù)據(jù)與我們的測(cè)量結(jié)果之間存在一定差異,但曲線的形狀相似。





圖6:2.2μF/16V MLCC的相對(duì)電容與偏置電壓的關(guān)系曲線。電容值被標(biāo)準(zhǔn)化至0V偏壓下的電容值。藍(lán)色曲線基于電路輸出電壓的測(cè)量值;紅色曲線基于振蕩周期測(cè)量值;綠色曲線基于Murata Simsurfing工具提供的特征數(shù)據(jù)。


總結(jié)

利用介紹的電路、雙電源和電壓表,很容易測(cè)量高電容MLCC的直流偏壓特征。簡(jiǎn)單的實(shí)驗(yàn)室測(cè)試能夠證明電容值隨偏置電壓的變化。

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