系統(tǒng)電源循環(huán)通斷的測(cè)試儀研究

上電循環(huán)測(cè)試非常重要，因?yàn)樗鼫y(cè)試的是用戶環(huán)境。設(shè)計(jì)不良的系統(tǒng)板或芯片會(huì)造成上電循環(huán)測(cè)試失敗。此外，對(duì)系統(tǒng)板工作臺(tái)測(cè)試時(shí)，上電循環(huán)測(cè)試的設(shè)置可能需要采用沉重而昂貴的商用電源。當(dāng)你需要同時(shí)測(cè)試多塊系統(tǒng)板時(shí)，情況更加糟糕。

本設(shè)計(jì)實(shí)例描述了一個(gè)簡(jiǎn)單而廉價(jià)的上電循環(huán)電路，它只用少量元件（圖1）。電源輸入電壓來(lái)自一個(gè)廉價(jià)開(kāi)關(guān)電源適配器的直流電。這種電源適配器通常為系統(tǒng)板提供電源。電路使用一個(gè)12V供電。將電源單元的插頭插入電源插座J1。于是來(lái)自J2的電路輸出電壓連接到系統(tǒng)板，去做上電循環(huán)。12V電源通過(guò)電阻R5和R6，它們用于限制通過(guò)繼電器開(kāi)關(guān)S1和S2的電流。

在上電起動(dòng)時(shí)，繼電器S2的觸點(diǎn)為常閉，使來(lái)自R6的12V電源經(jīng)過(guò)電阻R1和R2為電容C1充電。與晶體管Q2串聯(lián)的電阻R8增加電容C1的充放電周期。一旦C1充電到2V，則晶體管Q2導(dǎo)通。這個(gè)動(dòng)作是在晶體管Q2基射結(jié)上施加一個(gè)約0.7V的電壓，使Q2導(dǎo)通。當(dāng)晶體管Q2導(dǎo)通時(shí)，它為S2的線圈提供了一個(gè)低阻路徑，因此為繼電器賦能，使S2的觸點(diǎn)2B閉合。

此時(shí)，12V電源將其路徑切換到觸點(diǎn)2B，并使光耦的二極管導(dǎo)通，使內(nèi)部晶體管導(dǎo)通。然后，光耦驅(qū)動(dòng)晶體管Q1。當(dāng)Q1導(dǎo)通時(shí)，它為S1的線圈提供一個(gè)路徑，使繼電器賦能，因此將12V電源連接到輸出電壓。電路將輸出電壓連接到系統(tǒng)板的電源上，使電路板上電。系統(tǒng)保持通電約45s。在上電期間，電容C1通過(guò)R2、Q2和R8緩慢放電。當(dāng)晶體管基極上的電壓低于晶體管的導(dǎo)通電壓時(shí)，C1使晶體管Q2關(guān)斷。然后，觸點(diǎn)2B連接到觸點(diǎn)2A，重復(fù)這個(gè)循環(huán)。

電路的關(guān)斷時(shí)間大約為17s。續(xù)流二極管D1和D2用于降低通過(guò)繼電器線圈的電流快速變化時(shí)產(chǎn)生的瞬變大電壓。