ATE是“自動化測試設(shè)備”的英文縮寫，是一種通過計算機控制進行器件、電路板和子系統(tǒng)等測試的設(shè)備。通過計算機編程取代人工勞動，自動化的完成測試序列。
ATE在60年代早期始于快捷半導(dǎo)體（Fairchild）。 那時Fairchild生產(chǎn)門電路器件（如14管腳雙列直插與非門IC）和簡單的模擬集成電路器件（如6管腳雙列直插運算放大器）。當時對于器件量產(chǎn)測試 是一個很大的問題。 Fairchild開發(fā)了計算機控制的測試設(shè)備，如5000C用于簡單模擬器件測試，Sentry 200用于簡單門電路器件測試。兩種機器都是由Fairchild自主開發(fā)的計算機FST2進行控制。FST2是一種簡單的24位，10MHz計算機。
70年代早期，器件開發(fā)由小規(guī)模集成電路過渡到中規(guī)模集成電路，又于80年代早期從大規(guī)模集成電路過渡到超大規(guī)模集成電路。對于器件制造商來說，這時計 算機控制的測試系統(tǒng)已經(jīng)成為主要的測試設(shè)備。Fairchild開發(fā)了Sentry 400, Sentry 600, Sentry 7, Sentry 8測試系統(tǒng)用于數(shù)字器件測試。
80年代中期，門陣列器件開發(fā)成功，測試方面要求達到256管腳，速度高于40MHz。
針對這一需求，F(xiàn)airchild 試圖開發(fā)Sentry 50，但是失敗了。Fairchild將其ATE部門賣給斯倫貝謝，成為斯倫貝謝測試系統(tǒng)公司。Fairchild將測試系統(tǒng)賣給斯倫貝謝以后，許多專家 離開了Fairchild加入Genrad，成立了Genrad西海岸系統(tǒng)公司。GR16 和 GR18數(shù)字測試系統(tǒng)由這里誕生了。這些新型的測試系統(tǒng)每個管腳有獨立的測試資源，管腳數(shù)最多達144。不久這些工程師離開Ganrad成立了 Trillium測試系統(tǒng)，并將其賣給LTX。之后這些工程師又離開了LTX，他們中的一些加入了科利登（Credence），其它人加入了其他的ATE 公司。
同一時期，泰瑞達的自動化測試設(shè)備在模擬測試和存儲器測試方面占據(jù)統(tǒng)治地位。90年代早期Intel開發(fā)成功高速、高管腳數(shù) 的單片處理器單元（MPU），隨之而來的是高速高管腳數(shù)的ATE。多媒體器件的出現(xiàn)使ATE變得更復(fù)雜，需要同時具有數(shù)字電路、模擬電路和存儲器電路的測 試能力，SoC測試系統(tǒng)應(yīng)運而生。
目前器件速度已經(jīng)達到1.6GHz，管腳數(shù)達到1024，所有的電路都集成到單個芯片。因此出現(xiàn)了真正系統(tǒng)級芯片測試的需求。
ATE可以由帶一定內(nèi)存深度的一組通道，一系列時序發(fā)生器及多個電源組成。這些資源是通過負載板把信號激勵到芯片插座上的芯片管腳。
ATE可分為以下幾種類型：
*數(shù)字測試系統(tǒng)—— 共享資源測試系統(tǒng)，每個管腳有獨立測試資源的測試系統(tǒng)。用來特性化測試集成電路的邏輯功能。如科利登的SC312和Quartet。
*線性器件測試系統(tǒng)——用來測試線性集成電路的測試系統(tǒng)。
*模擬測試系統(tǒng)——用來特性化測試集成電路的模擬功能。如科利登的ASL系列。
*存儲器測試系統(tǒng) － DRAM 測試系統(tǒng)，閃存測試系統(tǒng)。這些類型的自動化測試設(shè)備用于驗證內(nèi)存芯片。如科利登的Personal Kalos和Kalos系列，Agilent 的Versatest系列， Advantest的T5593?！ ?板測試系統(tǒng) － 板測試是用來測試整塊印制電路板，而不是針對單個集成電路。如泰瑞達的1800。
*混合信號測試系統(tǒng)——這種類型的系統(tǒng)資源用來測試集成電路的模擬及數(shù)字功能。 如科利登的Quartet系列。
*RF測試系統(tǒng)——用來測試射頻集成電路的測試。如科利登的ASL 3000RF和SZ-Falcon。
*SOC 測試系統(tǒng)—— 通常就是一個昂貴的混合信號集成電路測試系統(tǒng)，用來測試超大規(guī)模集成電路（VLSI）芯片；并且這種超大規(guī)模集成電路（VLSI）芯片的集成度比傳統(tǒng)的混 合信號芯片高得多。如科利登的Octet系列， Agilent的93000系列， Advantest的T6673。
ATE開發(fā) 是從簡單器件、低管腳數(shù)、低速測試系統(tǒng)（10 MHz, 64 pins）到中等數(shù)量管腳、中速測試系統(tǒng)（40 MHz, 256 pins）到高管腳數(shù)、高速（超過100 MHz, 1024 pins）并最終過渡到現(xiàn)在的SoC測試系統(tǒng)（1024 pin, 超過400MHz，并具備模擬、存儲器測試能力）。
未來的測試系統(tǒng)測試速度將超過1.6GHz，時序精度在幾百納秒范圍內(nèi)，并將數(shù)字、模擬、存儲器和RF測試能力集成于一臺測試系統(tǒng)。
這樣一臺測試系統(tǒng)的成本將非常高，因此需要使用一臺或多臺測試工作臺進行并行的器件測試。為了降低測試成本，芯片中將加入自測試電路。同時基于減少測試系統(tǒng)成本的考慮，模塊化的測試系統(tǒng)將取代通用的測試系統(tǒng)。
ATE是Automatic Test Equipment的縮寫，根據(jù)客戶的測試要求、圖紙及參考方案，采用MCU、PLC、PC基于VB、VC開發(fā)平臺，利用 TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技術(shù)開發(fā)、設(shè)計各類自動化測試設(shè)備。ATE的分類：
1 PCBA自動化測試
由DMM，程控電源，DAQ Card, 單片機，繼電器，PLC，氣缸，F(xiàn)ixture等組成的電信號自動采集系統(tǒng)，廣泛運用于ICT,FCT等測試設(shè)備。軟件部分采用NI LabVIEW編寫，全自動依次采集并判定PASS/FAIL,自動生成測試報表并上傳數(shù)據(jù)庫.
2 視覺檢測
基于高分辨率工業(yè)CCD和NI Vision的視覺測試系統(tǒng)，用于焊點判別，尺寸測量，角度測量，字符識別等。采用雙峰積分法，二值法處理圖片，運用幾何工具量取尺寸，運用特征碼識別對比圖片，具有較高的準確度。
3 LED畫面測試
Black&White display test
RGB display test
Color display test
Grey display test
4 LCD專業(yè)測試
基于光纖和顏色傳感器的LED測試系統(tǒng)，可測試RGB,發(fā)光強度，色坐標，色溫，波長等。支持多通道高速同時測試。
5 IC TEST
支持I2C,SPI等通訊模式的IC，可讀取Checksum并與燒錄文件比對。也可采用邊界掃描測試，對TDO，TDI，TMS，TCK，GND，加VDD和地，就可以測試IC的每個腳的好壞。
6 汽車電子測試
自動化測試系統(tǒng)在汽車電子方面得到了廣泛運用，如通過LED專業(yè)分析儀檢測汽車LED燈的顏色和亮度；通過RS232來驅(qū)動基板接收各種RF信號，并用示波器來檢測倒車雷達，車鎖等無線裝置；以及通過DMM來量取電壓信號和暗電流，對地阻抗等。
7 手機測試
GPS測試
藍牙測試
Audio測試
LCD測試
Camera測試
Keypad測試
8 其它
老化測試
烤箱測試
電視測試
冰箱測試
空調(diào)測試
MP3測試
音箱測試
醫(yī)療器械測試
下載文檔
