1、阻抗測試的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
之前貼過好多張阻抗測試的圖片,重新再貼一張給大家看看。阻抗并不是想象中穩(wěn)定的直線,而是波瀾起伏。在前端和后端會受到探頭或者開路的影響,中間由于生產(chǎn)制程的關(guān)系,也會有波動。
那么,我們怎么判斷測試結(jié)果呢?怎么確定生產(chǎn)的PCB阻抗是否滿足要求呢?首先來看看IPC規(guī)范,IPC2557A建議的測量區(qū)間是DUT的30%~70%區(qū)間。
再來看看Intel以及現(xiàn)在主流板廠的測試習(xí)慣,為了避開Launch區(qū)域以及反射區(qū)域的影響,測試區(qū)間建議是DUT的50%到70%區(qū)域。
用TDR來測試線路阻抗,我們首先要了解測試區(qū)間的要求,才能準(zhǔn)確理解測量得到的結(jié)果。
2、探頭對阻抗測試結(jié)果的影響
通常來說,TDR測試的時候,會用以下幾種探頭:
其中,板廠通常會用手持探棒點測,Probe的影響呈現(xiàn)感性。SI實驗室常用SMA來連接測試線纜,SMA在阻抗測試中可能呈現(xiàn)容性。兩種探頭對測試結(jié)果的影響如下圖所示:
由于Probe的感性或者容性影響,最終DUT的測試結(jié)果會有一點點的偏差。