安捷倫的檢測創(chuàng)新在兩項重要會展中贏得工業(yè)獎

安捷倫科技（NYSE:A）近日宣布，公司最近推出的檢測創(chuàng)新在四月份的兩項重要會展中贏得幾項工業(yè)獎。在Nepcon Shanghai 2008上，Agilent Medalist x6000自動X射線檢測解決方案贏得SMT China雜志頒發(fā)給檢測（AXI門類）的第二屆SMT China遠見獎。今年早些時候，Medalist x6000也榮獲Test and Measurement World 雜志2008 年最佳測試獎的榮譽獎。作為Medalist VTEP v2.0 供電無矢量測試套件組成部分的Agilent網(wǎng)絡(luò)參數(shù)測量技術(shù)，也在Nepcon Shanghai 2008上贏得測試系統(tǒng)∕設(shè)備門類中的電子制造（EM）亞洲創(chuàng)新獎。Agilent 公司的覆蓋擴展技術(shù)是VTEP V2.0供電套件中最新增添的有限接入解決方案，在拉斯維加斯的APEX展會上被選定為 IPC創(chuàng)新技術(shù)中心獎的勝出者。行業(yè)主導(dǎo)出版物和組織把這些獎項授予市場上最富創(chuàng)新的技術(shù)、應(yīng)用、產(chǎn)品和服務(wù)。Agilent 測量系統(tǒng)部營銷總監(jiān)NK Chari表示：“對業(yè)界認可我們在檢測領(lǐng)域的創(chuàng)新，我們深感榮幸，我們要通過不斷創(chuàng)新推出最完整的成套檢測解決方案，以幫助制造商應(yīng)對技術(shù)和商務(wù)的挑戰(zhàn)?！逼渌畔?Agilent Medalist x6000自動X射線檢測系統(tǒng)是世界上最快的3-D在線AXI解決方案。它能降低轉(zhuǎn)換成本和資金投入，更把缺陷覆蓋率提高到95%以上。制造商在為克服各種有限接入問題而尋找通用的工具套件時，AgilentMedalist VTEP v2.0供電無矢量測試套件是領(lǐng)先的在線測試武庫。它包括另一項獲獎技術(shù) — iVTEP — 可用于測試超小封裝的器件，以及網(wǎng)絡(luò)參數(shù)測量和覆蓋擴展。Agilent 也提供業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的自動焊膏和光學(xué)檢測解決方案，如下一代光學(xué)系統(tǒng)，低對比度元件定位，固態(tài)建模模型，以及改進的焊膏分析算法。在AOI產(chǎn)業(yè)中，這些能力可幫助制造商提供最高的故障覆蓋率，速度和靈活性。