宜普電源轉(zhuǎn)換公司(EPC)發(fā)布第十一階段可靠性測試報告 - 失效性測試顯示氮化鎵器件的穩(wěn)定性比硅功率MOSFET器件更具優(yōu)勢

繼第一至第十階段可靠性測試報告后，EPC公司的第十一階段可靠性測試報告進一步豐富知識庫。此報告對受測器件進行超過1230億元件-小時應(yīng)力測試，并且展示氮化鎵器件的穩(wěn)定性是硅功率器件所不能實現(xiàn)的。

EPC公司發(fā)布第十一階段可靠性測試報告，與工程師分享受測器件如何實現(xiàn)優(yōu)越的現(xiàn)場可靠性的策略 - 在廣闊測試條件下，采用失效性測試器件(test-to-fail)的反復(fù)測試方法，從而知道如何構(gòu)建更穩(wěn)固的產(chǎn)品以達到應(yīng)用所需，例如面向全自動駕駛車輛的激光雷達、LTE通信基站、汽車的車頭燈及衛(wèi)星等應(yīng)用。相關(guān)的視頻可以在優(yōu)酷下載或點擊這里 。

失效性測試器件的方法是比較數(shù)據(jù)表上所列出的器件限制值和應(yīng)用中產(chǎn)品的性能，從而知道器件的極限。最重要的是，可以知道器件固有的失效機理，從而找出失效的根本原因。如果知道器件在工作一段時間后的性能、溫度、電氣或機械應(yīng)力情況，工程師就可以知道該產(chǎn)品在一般工作條件下的實際安全工作壽命。

這個報告包含七個部分，每個部分描述各種不同的失效機理。

第一部分：影響eGaN®器件的柵極的固有失效機理

第二部分：動態(tài)導(dǎo)通電阻的固有機理

第三部分：安全工作區(qū)域(SOA)

第四部分：在短路情況下測試器件至失效

第五部分：采用專有的測試方法，長期置器件于激光雷達脈沖應(yīng)力條件下，測試及分析器件的可靠性

第六部分：機械力的應(yīng)力測試

第七部分：器件的現(xiàn)場可靠性

宜普電源轉(zhuǎn)換公司的首席執(zhí)行官兼共同創(chuàng)辦人Alex Lidow博士說:“氮化鎵(eGaN)器件實現(xiàn)量產(chǎn)已經(jīng)超過十年。這些器件在實驗室測試及在客戶的量產(chǎn)產(chǎn)品和應(yīng)用中，都展示出非常高的可靠性。我們的第十一階段可靠性測試報告旨在繼續(xù)實踐我們的承諾 -- 與工程師分享我們在這十年間所累積的數(shù)百萬個器件-小時的測試經(jīng)驗及五代技術(shù)的知識。這些可靠性測試讓我們進一步了解氮化鎵器件在廣闊的應(yīng)力測試條件下的性能?！?

Lidow博士繼續(xù)說，“可靠性測試的結(jié)果表明，氮化鎵器件是非常穩(wěn)定及可靠的，其技術(shù)改進的步伐，會進一步加快。EPC公司致力于開發(fā)符合非常嚴(yán)謹(jǐn)可靠性標(biāo)準(zhǔn)的氮化鎵器件并與功率轉(zhuǎn)換業(yè)界分享研究所得的結(jié)果?！?