電阻式觸摸屏多點(diǎn)觸摸技術(shù)的原理分析
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(文章來(lái)源:顯示網(wǎng))
觸摸屏作為一種人機(jī)交互界面,已大量取代了以往的鍵盤(pán)、鼠標(biāo)等人機(jī)溝通方式。電阻式觸摸屏以其低廉的價(jià)格,穩(wěn)定的性質(zhì)更成為主打選擇的觸摸屏之一。在日常應(yīng)用中,經(jīng)常需要同時(shí)對(duì)多點(diǎn)進(jìn)行操作。然而,觸摸屏的觸摸點(diǎn)之間會(huì)互相影響,而得出錯(cuò)誤的觸摸點(diǎn)坐標(biāo)。本文優(yōu)化了兩點(diǎn)觸摸的判斷算法,實(shí)現(xiàn)了多點(diǎn)觸控的正確識(shí)別和定位處理。經(jīng)試驗(yàn)驗(yàn)證表明可以實(shí)現(xiàn)圖像的放大、縮小、旋轉(zhuǎn)等功能。
多點(diǎn)觸控,是指能同時(shí)正確識(shí)別和定位兩個(gè)或兩個(gè)以上的觸摸操作,能夠獨(dú)立判斷每個(gè)觸摸點(diǎn)的操作意義,并實(shí)現(xiàn)相應(yīng)功能的技術(shù)。這是一種擺脫了傳統(tǒng)的輸入設(shè)備,簡(jiǎn)單而方便的人機(jī)交互操作模式。多點(diǎn)觸控技術(shù)目前有兩種[1]:多點(diǎn)觸控手勢(shì)識(shí)別和多點(diǎn)觸控位置識(shí)別。
目前市面上出現(xiàn)較多的方式是多點(diǎn)觸控手勢(shì)識(shí)別。手指同時(shí)觸摸屏幕多點(diǎn)時(shí),能夠識(shí)別每個(gè)手指移動(dòng)的方向,能夠進(jìn)行旋轉(zhuǎn)、縮放、平移等操作,但還不能夠判斷出每個(gè)手指的具體位置。但兩點(diǎn)觸摸甚至多點(diǎn)觸摸時(shí),X、Y 軸上會(huì)產(chǎn)生多個(gè)最大值,此時(shí)系統(tǒng)無(wú)法判斷觸摸點(diǎn)的準(zhǔn)確位置。通常把并不是真正觸摸的點(diǎn)叫做“鬼點(diǎn)”。
多點(diǎn)觸控位置識(shí)別才是真正意義上的多點(diǎn)觸控技術(shù),可以識(shí)別到觸摸點(diǎn)的具體位置,沒(méi)有“鬼點(diǎn)”的現(xiàn)象。這種觸控技術(shù)基于互電容檢測(cè)方式,通過(guò)行列交叉處耦合電容Cm 的變化判斷觸摸點(diǎn)。手指觸摸時(shí)行列之間的互電容減小,可以判斷觸摸點(diǎn)存在,并且準(zhǔn)確判斷每一個(gè)觸摸點(diǎn)位置。
實(shí)現(xiàn)兩點(diǎn)觸摸,每個(gè)工作單元必須彼此獨(dú)立,并且觸摸點(diǎn)只能在同一個(gè)工作單元中。圖給出了電阻式觸摸屏實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)觸摸的方法:在X1 電極上加上電壓,由Y1,Y2,Y3 電極讀取A、B、C 觸摸單元所檢測(cè)到的X 坐標(biāo);在以后的各個(gè)始終周期依次讀取X2,X3 的坐標(biāo)。獲得所有觸摸單元的X 坐標(biāo)后,再依次給Y 電極加上電壓,以獲得各個(gè)觸摸單元的Y 坐標(biāo),從而實(shí)現(xiàn)兩點(diǎn)觸摸。
當(dāng)觸摸屏表面有觸摸點(diǎn)時(shí),上層的ITO 導(dǎo)電層向下凹陷,發(fā)生形變,并接觸到下層的ITO,接觸點(diǎn)的兩層ITO 導(dǎo)電層之間存在一個(gè)電阻,當(dāng)觸摸的壓力越大時(shí),之間的電阻阻值就越小。通過(guò)計(jì)算相應(yīng)阻值,可以得到觸摸位置,但是想要正確識(shí)別出兩點(diǎn)觸摸的位置,就必須先剔除非觸摸點(diǎn)。所謂非觸摸點(diǎn),就是指沒(méi)有意愿的接觸點(diǎn)。這些觸摸點(diǎn)是隨機(jī)的,而且是非有效觸摸。比如,觸摸力度較輕時(shí),觸摸屏ITO 導(dǎo)電層的電阻處在接通與未接通的臨界點(diǎn),類(lèi)似這樣的觸摸點(diǎn)就是非觸摸點(diǎn)。這在沒(méi)有意志支配的情況下產(chǎn)生的接觸點(diǎn),對(duì)整個(gè)檢測(cè)沒(méi)有意義的,所以必須將它們剔除。
考慮到非觸摸點(diǎn)的隨機(jī)性,兩次測(cè)量的方法可將其剔除。若第一次測(cè)量的結(jié)果是有效值,但第二次測(cè)量的結(jié)果超出了整個(gè)觸摸屏的阻值所規(guī)定的范圍,是一個(gè)很大的值,則視其為無(wú)效值,該點(diǎn)即為非接觸點(diǎn),必將其剔除。反之,如果第二次測(cè)量的結(jié)果在整個(gè)觸摸屏的阻值所規(guī)定的范圍內(nèi),則視其為有效值,是有效的觸摸點(diǎn)。
觸摸屏幕的壓力大小不同,ITO 導(dǎo)電層的電阻值也不同,也就是說(shuō)輕觸或重觸觸摸屏,產(chǎn)生的電阻是不同的??刂菩酒梢?u>測(cè)試出接觸電阻的阻值大小,但是沒(méi)法分辨出是輕觸,還是重觸,這只會(huì)影響判斷觸摸點(diǎn)的準(zhǔn)確性,從而會(huì)影響整個(gè)觸摸屏的可靠性。
在現(xiàn)階段的方案中, 接觸電阻和壓力成為影響觸點(diǎn)坐標(biāo)準(zhǔn)確性的重要因素。如果接觸電阻不大于方阻,不會(huì)影響坐標(biāo)顯示的準(zhǔn)確性;如果大于方阻,就會(huì)出現(xiàn)跳躍點(diǎn)。比如,輕觸觸摸屏上的某一點(diǎn),會(huì)造成電路接通不完全,對(duì)整個(gè)電路來(lái)說(shuō),它表現(xiàn)為測(cè)量電阻大,測(cè)得的值比實(shí)際值要大,那么它的坐標(biāo)將會(huì)向后跳躍。與其相反的,如果是用力的重觸觸摸屏上的某一點(diǎn)時(shí),坐標(biāo)會(huì)前移。由此可見(jiàn)輕觸或重觸對(duì)接觸電阻的測(cè)量值影響很大,接觸電阻和壓力成反比。
查閱過(guò)一些四線電阻式觸摸屏的技術(shù)手冊(cè)后發(fā)現(xiàn):他們通常使用接觸電阻小于2kΩ 這個(gè)測(cè)試條件,來(lái)測(cè)試最小壓力這個(gè)參數(shù)。在正常力度的壓力下, 一般接觸電阻為2kΩ;如果壓力更小, 接觸電阻則會(huì)大于2kΩ。由此可見(jiàn),實(shí)際測(cè)量結(jié)果與所施加的壓力存在動(dòng)態(tài)變化,如果加在同一點(diǎn)上的力量是變化的,那么測(cè)量出的坐標(biāo)點(diǎn)就是不確定的,所以這種測(cè)量方法仍然必須改進(jìn)。
在此,分解一次完整的觸摸過(guò)程:(1) 手指接觸到觸摸屏表面,(2)手指對(duì)觸摸屏逐步增加壓力,(3) 壓力保持,(4) 抬起手指,(5) 手指的壓力逐步減小,(6) 手指離開(kāi)觸摸屏,整個(gè)觸摸過(guò)程完成。分解過(guò)程之后可以發(fā)現(xiàn),在這個(gè)過(guò)程中,手指對(duì)屏幕的壓力并不是一個(gè)恒定不變的量。所以,細(xì)分整個(gè)過(guò)程,把不同時(shí)期得到的壓力和接觸電阻全部采樣,然后求取平均值,那么這個(gè)值將更加接近實(shí)際數(shù)據(jù),這就是用求平均值的最根本原因。用求平均值的方法可以模擬整個(gè)觸摸過(guò)程,從而排除掉前期接觸、后期接觸或者中間接觸時(shí)壓力不穩(wěn)等情況。
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