NI攜手孤波，助力韋爾半導(dǎo)體建立從實(shí)驗(yàn)室驗(yàn)證到量產(chǎn)的標(biāo)準(zhǔn)化測試流程

近日，全球領(lǐng)先的測試測量廠商N(yùn)I（National Instruments）宣布與上海孤波科技有限公司（簡稱孤波）、上海韋爾半導(dǎo)體股份有限公司（簡稱韋爾半導(dǎo)體）達(dá)成合作。孤波借助NI開放的LabVIEW平臺(tái)和模塊化的PXI硬件，開發(fā)出滿足韋爾半導(dǎo)體射頻芯片產(chǎn)品的測試方案，幫助韋爾半導(dǎo)體建立從實(shí)驗(yàn)室驗(yàn)證到量產(chǎn)的標(biāo)準(zhǔn)化測試流程，加速產(chǎn)品上市時(shí)間。

2020年新基建的提出，加速了各領(lǐng)域的智能化升級(jí)，受應(yīng)用端的驅(qū)動(dòng)，芯片行業(yè)迎來了新的發(fā)展期。在此背景下，NI、孤波和韋爾半導(dǎo)體三方的合作對于推動(dòng)半導(dǎo)體行業(yè)創(chuàng)新具有重要意義。韋爾半導(dǎo)體作為專注于半導(dǎo)體器件的設(shè)計(jì)和銷售公司，面臨著將產(chǎn)品迭代速度快，上市時(shí)間縮短的挑戰(zhàn)。未來，三方將共同探索，攜手打造高效的芯片測試模式，致力于優(yōu)化測試流程、縮短測試時(shí)間、降低測試成本。

作為致力于開發(fā)標(biāo)準(zhǔn)的半導(dǎo)體自動(dòng)化驗(yàn)證、測試軟件平臺(tái)的創(chuàng)新者，孤波將與NI共同推進(jìn)測試測量標(biāo)準(zhǔn)化流程在各行各業(yè)行業(yè)的落地。上海孤波科技有限公司總經(jīng)理周浩表示：“孤波打造基于LabVIEW和C#的易用的軟件平臺(tái)SIVA，結(jié)合NI的PXI和客戶自有的第三方臺(tái)式儀表，為客戶打造跨產(chǎn)品線，跨office，甚至跨BU的測試統(tǒng)一服務(wù)，統(tǒng)一測試標(biāo)準(zhǔn)，從而提高測試效率，加速客戶的產(chǎn)品開發(fā)和量產(chǎn)進(jìn)程?！?

上海韋爾半導(dǎo)體股份有限公司副總裁紀(jì)剛指出：“在NI的開放的PXI架構(gòu)和孤波易用的SIVA軟件的幫助下，韋爾半導(dǎo)體實(shí)現(xiàn)了多條產(chǎn)品線從實(shí)驗(yàn)室驗(yàn)證到量產(chǎn)的測試標(biāo)準(zhǔn)化和平臺(tái)復(fù)用，極大地降低了測試成本，提升了測試效率，從而幫助我們加快產(chǎn)品的迭代速度，更好地應(yīng)對快速的市場變化?！?

芯片越來越復(fù)雜，而芯片從研發(fā)到量產(chǎn)的周期卻越來越短，如何實(shí)現(xiàn)從實(shí)驗(yàn)室到量產(chǎn)整個(gè)環(huán)節(jié)的全面與快速驗(yàn)證，是工程師們面臨的一個(gè)重大挑戰(zhàn)。傳統(tǒng)的測試方法無法應(yīng)對現(xiàn)在的挑戰(zhàn)，為滿足日益復(fù)雜的測試需求，有效控制成本和測試時(shí)間，工程師需要現(xiàn)代化芯片測試（Modern Lab)方法，即基于標(biāo)準(zhǔn)化、高效的芯片實(shí)驗(yàn)室運(yùn)營流程方法。

NI 亞太區(qū)銷售總監(jiān)陳健忠強(qiáng)調(diào)：“Modern Lab的概念由NI首次提出，NI致力于將Modern Lab的理念帶入中國，幫助中國客戶建立這套標(biāo)準(zhǔn)化的測試流程，在芯片測試過程中建立標(biāo)準(zhǔn)和可遷移的架構(gòu)，幫助廠商實(shí)現(xiàn)在不同地區(qū)標(biāo)準(zhǔn)測試臺(tái)的部署和協(xié)同運(yùn)營，同時(shí)為未來新技術(shù)的研發(fā)提供充分的靈活性?！?

測試貫穿于芯片產(chǎn)業(yè)鏈的每個(gè)環(huán)節(jié)，隨著芯片產(chǎn)品多樣性和復(fù)雜性的增長，基于現(xiàn)代化的測試方法打造測試系統(tǒng)非常必要。NI和孤波將發(fā)揮各自獨(dú)特的優(yōu)勢，幫助韋爾半導(dǎo)體占領(lǐng)市場先機(jī)。