美國國家科學(xué)基金會和半導(dǎo)體研究聯(lián)盟共同資助耐故障電路與系統(tǒng)的研究

　　美國國家科學(xué)基金會和半導(dǎo)體研究聯(lián)盟今日宣布，共同資助一個包含18個項目的聯(lián)合計劃，以期解決耐故障電路與系統(tǒng)的設(shè)計挑戰(zhàn)。

　　這份價值600萬美元的三年期合作項目將支持18所美國大學(xué)的29個教師組開展研究，重點研究面向未來計算應(yīng)用的彈性電路與系統(tǒng)的各種設(shè)計問題。這些大學(xué)包括：德克薩斯大學(xué)、加利福尼亞大學(xué)、南加州大學(xué)、卡內(nèi)基梅隆大學(xué)、康涅狄格大學(xué)，猶他大學(xué)、德州農(nóng)工大學(xué)、伊利諾伊大學(xué)、斯坦福大學(xué)、密歇根大學(xué)、明尼蘇達(dá)大學(xué)、羅切斯特大學(xué)，科羅拉多州立大學(xué)，北卡州立大學(xué)、弗吉尼亞大學(xué)和西弗吉尼亞大學(xué)等。

　　微型電子器件構(gòu)成了當(dāng)前普遍的、越來越高效和復(fù)雜的電子系統(tǒng)。常見的例子包括手機、個人數(shù)字助理等通信設(shè)備、飛行控制系統(tǒng)、自主車輛、精密武器系統(tǒng)，以及心臟起搏器、心臟監(jiān)測器等體內(nèi)外微型醫(yī)療設(shè)備。這些系統(tǒng)的準(zhǔn)確運轉(zhuǎn)通常是生死攸關(guān)的大事，如起搏器的一個小故障可能威脅到病人的生命，飛行控制電路或自主車輛的意外失效可能導(dǎo)致一場事故。

　　多種原因可以導(dǎo)致高靈敏、自動化的機械設(shè)備偏離預(yù)期的行為或功能。這些原因包括設(shè)計缺陷、不受控的物理現(xiàn)象、制造工藝誤差、隨時間或其他外因的老化，甚至還可能包括篡改或惡意的設(shè)計。

　　通過資助芯片設(shè)計方面的基礎(chǔ)研究，國家科學(xué)基金會和半導(dǎo)體研究聯(lián)盟的聯(lián)合計劃重點研究自糾正或自愈合的耐故障系統(tǒng)，以使其在整個工作周期內(nèi)幾乎不會受到外部干擾。

　　國家科學(xué)基金會工程部負(fù)責(zé)人PramodKhargonekar表示，“隨著器件尺度越來越小及基本原理上的限制，項目將開發(fā)考慮到制造工藝偏差的全新設(shè)計方法，這也將解決當(dāng)前半導(dǎo)體行業(yè)面臨的緊迫問題。”

　　國家科學(xué)基金會計算機與信息科學(xué)工程部負(fù)責(zé)人FarnamJahanian表示，“新的基礎(chǔ)設(shè)計技術(shù)有可能大幅提高電子系統(tǒng)的可靠性。該計劃與半導(dǎo)體研究聯(lián)盟共同合作，為學(xué)術(shù)界開展開拓性、長期的基礎(chǔ)研究提供了機會。”

　　半導(dǎo)體研究聯(lián)盟執(zhí)行副總裁Steve Hillenius表示，“這種政府、產(chǎn)業(yè)和學(xué)術(shù)界的合作方式，將幫助大學(xué)解決關(guān)鍵計算問題的挑戰(zhàn)。彈性系統(tǒng)將對多個產(chǎn)業(yè)領(lǐng)域產(chǎn)生影響，提升他們的全球競爭力，有助于將研究推向應(yīng)用，建立細(xì)分市場。”