嵌入式系統(tǒng)發(fā)展趨勢(shì)如何?如何測(cè)試嵌入式系統(tǒng)?
嵌入式系統(tǒng)已經(jīng)是個(gè)老生常談的話題,隨著嵌入式系統(tǒng)的廣泛應(yīng)用,社會(huì)上對(duì)嵌入式系統(tǒng)工程師等相關(guān)人才的需求量也逐漸增多。為增進(jìn)大家對(duì)嵌入式系統(tǒng)的了解程度,本文將從三方面對(duì)嵌入式系統(tǒng)予以介紹:1.嵌入式系統(tǒng)三要素,2.嵌入式系統(tǒng)發(fā)展趨勢(shì),3.嵌入式系統(tǒng)測(cè)試。如果你對(duì)嵌入式系統(tǒng)具有興趣,不妨繼續(xù)往下閱讀哦。
一、嵌入式系統(tǒng)三要素
嵌入式系統(tǒng)的三個(gè)基本要素是嵌入性、專用性與計(jì)算機(jī)系統(tǒng)。
(1)嵌入性是把軟件嵌入到Flash存儲(chǔ)器中,
(2)專用性是指針對(duì)某個(gè)具體應(yīng)用領(lǐng)域和場(chǎng)合,量體裁衣式的定制適用該場(chǎng)合的專用系統(tǒng),
(3)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)是指必須具有計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的組成,核心是計(jì)算機(jī)系統(tǒng)。
三個(gè)要素決定了嵌入式系統(tǒng)是嵌入到對(duì)象體系中的一種專用的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)。
二、嵌入式系統(tǒng)發(fā)展趨勢(shì)
1. 嵌入式開發(fā)是一項(xiàng)系統(tǒng)工程,因此要求嵌入式系統(tǒng)廠商不僅要提供嵌入式軟硬件系統(tǒng)本身,同時(shí)還需要提供強(qiáng)大的硬件開發(fā)工具和軟件包支持。目前很多廠商已經(jīng)充分考慮到這一點(diǎn),在主推系統(tǒng)的同時(shí),將開發(fā)環(huán)境也作為重點(diǎn)推廣。
2. 網(wǎng)絡(luò)化、信息化的要求隨著因特網(wǎng)技術(shù)的成熟、帶寬的提高日益提高,使得以往單一功能的設(shè)備如電話、手機(jī)、冰箱、微波爐等功能不再單一,結(jié)構(gòu)更加復(fù)雜。
3. 未來(lái)的嵌入式設(shè)備為了適應(yīng)網(wǎng)絡(luò)發(fā)展的要求,必然要求硬件上提供各種網(wǎng)絡(luò)通信接口。傳統(tǒng)的單片機(jī)對(duì)于網(wǎng)絡(luò)支持不足,而新一代的嵌入式處理器已經(jīng)開始內(nèi)嵌網(wǎng)絡(luò)接口,除了支持TCP/IP協(xié)議,還有的支持IEEE1394、USB、CAN、Bluetooth或IrDA通信接口中的一種或者幾種,同時(shí)也需要提供相應(yīng)的通信組網(wǎng)協(xié)議軟件和物理層驅(qū)動(dòng)軟件。軟件方面系統(tǒng)系統(tǒng)內(nèi)核支持網(wǎng)絡(luò)模塊,甚至可以在設(shè)備上嵌入Web瀏覽器,真正實(shí)現(xiàn)隨時(shí)隨地用各種設(shè)備上網(wǎng)。
4. 精簡(jiǎn)系統(tǒng)內(nèi)核、算法,降低功耗和軟硬件成本。
5. 提供友好的多媒體人機(jī)界面。
下面,小編將對(duì)嵌入式系統(tǒng)測(cè)試加以介紹。
三、嵌入式系統(tǒng)測(cè)試
1.主控芯片測(cè)試
主控芯片測(cè)試主要是對(duì)主控芯片進(jìn)行定時(shí)器測(cè)試、寄存器測(cè)試、中斷測(cè)試和片內(nèi)RAM測(cè)試。寄存器測(cè)試是對(duì)一些特殊寄存器的功能進(jìn)行測(cè)試,以驗(yàn)證CPU寄存器是否能正常工作。中斷測(cè)試是人為產(chǎn)生一些硬件中斷,檢測(cè)主控芯片對(duì)中斷的反應(yīng),是否能及時(shí)標(biāo)志中斷寄存器的相應(yīng)標(biāo)志位。片內(nèi)內(nèi)存測(cè)試則遵循一般內(nèi)存測(cè)試規(guī)則。
2.PLD/FPGA簡(jiǎn)單測(cè)試
在寬帶交換機(jī)系統(tǒng)中,較大的FPGA常實(shí)現(xiàn)較復(fù)雜的功能。在測(cè)試時(shí)要對(duì)相關(guān)的功能進(jìn)行詳細(xì)的功能測(cè)試。而對(duì)于其它簡(jiǎn)單的小型PLD/FPGA則尋求自測(cè)的方法,在PLD或FPGA的編制過(guò)程中,適當(dāng)?shù)募尤胍恍┳詼y(cè)手段。當(dāng)主控芯片要測(cè)試它們時(shí),設(shè)置和讀取相應(yīng)的PLD或FPGA的測(cè)試接口,從而獲得測(cè)試結(jié)果。
3.內(nèi)存測(cè)試
內(nèi)存測(cè)試可分為三類:
a. 數(shù)據(jù)總線測(cè)試: 將0001循環(huán)左移并寫入內(nèi)存,然后讀出并比較測(cè)試。
b. 內(nèi)存區(qū)測(cè)試: 對(duì)內(nèi)存所有存儲(chǔ)單元進(jìn)行讀寫測(cè)試(讀寫5555H和AAAAH測(cè)試)。
c. 地址總線測(cè)試:對(duì)內(nèi)存所有存儲(chǔ)單元進(jìn)行地址累加測(cè)試。從RAM的基地址起,在每一個(gè)存儲(chǔ)單元(按照總線寬度)中寫入不同的值(遞增值),地址遞增,直至所有的存儲(chǔ)單元都保存不同的內(nèi)容,然后讀出并進(jìn)行檢驗(yàn)。
4.看門狗測(cè)試
在做任何一項(xiàng)硬件測(cè)試之前必須完成看門狗測(cè)試。這是因?yàn)橐豁?xiàng)硬件測(cè)試失敗之后需要重啟系統(tǒng),而硬件測(cè)試的失敗通常是以看門狗超時(shí)為判斷條件的。這就需要看門狗在硬件測(cè)試時(shí)能正常工作??撮T狗測(cè)試方法是設(shè)置并激活一個(gè)1秒的看門狗,等待1秒后系統(tǒng)重啟。
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