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[導(dǎo)讀]EDA工具是集成電路設(shè)計(jì)和制造流程的支撐,是集成電路設(shè)計(jì)方法學(xué)的載體,也是連接設(shè)計(jì)和制造兩個(gè)環(huán)節(jié)的紐帶和橋梁。集成電路企業(yè)需要在EDA工具的幫助下完成設(shè)計(jì)和制造的過程,故根據(jù)EDA工具使用階段可以分為集成電路制造類EDA工具和集成電路設(shè)計(jì)類EDA工具兩個(gè)主要大類。其中制造類EDA...

EDA 工具是集成電路設(shè)計(jì)和制造流程的支撐,是集成電路設(shè)計(jì)方法學(xué)的載體,也是連接設(shè)計(jì)和制造兩個(gè)環(huán)節(jié)的紐帶和橋梁。

集成電路企業(yè)需要在 EDA 工具的幫助下完成設(shè)計(jì)和制造的過程,故根據(jù) EDA 工具使用階段可以分為集成電路制造類 EDA 工具和集成電路設(shè)計(jì)類 EDA 工具兩個(gè)主要大類。

其中制造類 EDA 工具主要用于集成電路制造的工藝平臺(tái)開發(fā)階段及晶圓生產(chǎn)階段,設(shè)計(jì)類 EDA 工具主要用于集成電路的設(shè)計(jì)階段(數(shù)字集成電路 EDA、模擬集成電路 EDA 屬 于設(shè)計(jì)類 EDA 按電路類型的分類方式),其對(duì)應(yīng)的關(guān)鍵環(huán)節(jié)如下圖:

圖:集成電路設(shè)計(jì)和制造流程、關(guān)鍵環(huán)節(jié)及相應(yīng) EDA 支撐關(guān)系

EDA 工具的細(xì)分門類情況及其具體作用

根據(jù)上述集成電路設(shè)計(jì)和制造流程的主要階段、關(guān)鍵環(huán)節(jié)圖,可將各 EDA 工具支撐的相應(yīng)關(guān)鍵環(huán)節(jié)進(jìn)行進(jìn)一步細(xì)分,其所屬的細(xì)分門類、具體作用及市場 主要供應(yīng)方如下:

圖:EDA 工具的主要大類及細(xì)分門類示意圖

1、集成電路制造類 EDA 工具

集成電路制造類 EDA 工具主要指晶圓廠(包括晶圓代工廠、IDM 的制造部 門等)在工藝平臺(tái)開發(fā)階段和晶圓生產(chǎn)階段使用的,用于支撐其完成半導(dǎo)體器件 /制造工藝開發(fā)、器件建模和 PDK、集成電路制造等環(huán)節(jié)的 EDA 工具。

該等工具能夠幫助晶圓廠完成半導(dǎo)體器件和制造工藝的設(shè)計(jì),建立半導(dǎo)體器件的模型并通 過 PDK 或建立 IP 和標(biāo)準(zhǔn)單元庫等方式提供給集成電路設(shè)計(jì)企業(yè),并在后續(xù)根據(jù)物理實(shí)現(xiàn)后的設(shè)計(jì)文件完成制造時(shí),優(yōu)化制造流程,提高量產(chǎn)良率。

2、集成電路設(shè)計(jì)類 EDA 工具

集成電路設(shè)計(jì)類 EDA 工具主要指集成電路設(shè)計(jì)企業(yè)在集成電路設(shè)計(jì)階段使 用的,用于支撐其基于晶圓廠提供的 PDK 或 IP 和標(biāo)準(zhǔn)單元庫進(jìn)行的電路設(shè)計(jì), 對(duì)設(shè)計(jì)結(jié)果進(jìn)行電路仿真及驗(yàn)證,并進(jìn)行設(shè)計(jì)優(yōu)化,最終通過物理實(shí)現(xiàn)形成設(shè)計(jì)文件的 EDA 工具。該等工具能夠幫助集成電路設(shè)計(jì)企業(yè)自動(dòng)化地完成主要設(shè)計(jì) 環(huán)節(jié),提高設(shè)計(jì)效率和設(shè)計(jì)質(zhì)量,優(yōu)化設(shè)計(jì)以提升產(chǎn)品的性能等指標(biāo),并對(duì)集成電路的功能運(yùn)行進(jìn)行模擬,以驗(yàn)證功能和性能指標(biāo),保障芯片達(dá)到設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)和較高量產(chǎn)良率,并縮短產(chǎn)品上市時(shí)間。

集成電路設(shè)計(jì)類 EDA 工具通常有兩種分類方式,按電路類型分類和按應(yīng)用 場景分類。

①按電路類型分類?

按電路類型分類屬于傳統(tǒng)的分類,該方式根據(jù)集成電路處理的信號(hào)不同,分為數(shù)字集成電路設(shè)計(jì)類 EDA 工具(“數(shù)字 EDA 工具”)和模擬集成電路設(shè)計(jì)類 EDA 工具(“模擬 EDA 工具”)。

電學(xué)中,將連續(xù)變化的電壓、電流等物理量稱為模擬信號(hào),而離散變化的電壓、電流則稱為數(shù)字信號(hào)。數(shù)字電路是用數(shù)字信號(hào)完成對(duì)數(shù)字量進(jìn)行算術(shù)運(yùn)算和 邏輯運(yùn)算的電路。通常數(shù)字電路的單元結(jié)構(gòu)簡單,集成度高,需要對(duì)數(shù)字信號(hào)進(jìn) 行快速處理,通常對(duì)數(shù)字集成電路設(shè)計(jì)的軟件自動(dòng)化程度要求相對(duì)較高;模擬電路是處理外界連續(xù)的模擬信號(hào)(圖像、聲音、觸感、溫度、濕度等)或者雖然不能直接感知但是客觀存在的模擬信號(hào)(微波等)的電路,通常需要更多的人工干預(yù)。

在集成電路行業(yè)發(fā)展早期,芯片的規(guī)模和集成度相對(duì)較低,芯片的功能相對(duì) 單一,數(shù)字電路和模擬電路相對(duì)獨(dú)立,EDA 工具分類也相對(duì)清晰,對(duì)應(yīng) EDA 流程也相對(duì)簡單。

②按設(shè)計(jì)應(yīng)用分類

隨著芯片集成度和功能復(fù)雜度的提升,傳統(tǒng)的單一數(shù)字電路或模擬電路難以滿足高端 SoC 芯片的設(shè)計(jì)需求,大規(guī)模乃至超大規(guī)模集成電路中,往往既存在 數(shù)字電路也存在模擬電路。面對(duì)上述復(fù)雜的設(shè)計(jì)需求,并結(jié)合所采用的工藝平臺(tái) 的特點(diǎn),領(lǐng)先的芯片設(shè)計(jì)和制造公司基于各領(lǐng)先 EDA 公司提供的按照傳統(tǒng)產(chǎn)品 類型分類的數(shù)字 EDA 工具和模擬 EDA 工具進(jìn)行評(píng)估、驗(yàn)證和組合,從而打造針對(duì)各自不同類別芯片的 EDA 設(shè)計(jì)流程,并最終形成相應(yīng)的全流程解決方案。

根據(jù) WSTS 報(bào)告,芯片按設(shè)計(jì)應(yīng)用可分為模擬芯片、微處理器芯片、邏輯芯片、存儲(chǔ)器芯片等四個(gè)細(xì)分門類,各門類芯片產(chǎn)品類型眾多,所對(duì)應(yīng)的 EDA 解決方案所使用的 EDA 工具和 EDA 設(shè)計(jì)流程差異性也較大,均為不同設(shè)計(jì)方法學(xué)的體現(xiàn)和載體。

EDA行業(yè)的競爭格局

1、決定 EDA 行業(yè)競爭格局的關(guān)鍵指標(biāo)

決定 EDA 行業(yè)競爭格局的關(guān)鍵指標(biāo)為 EDA 公司核心產(chǎn)品的國際市場競爭 力,即全球領(lǐng)先集成電路企業(yè)認(rèn)可和量產(chǎn)采用情況。在此基礎(chǔ)上,能否基于自身核心產(chǎn)品及技術(shù)形成的關(guān)鍵流程或全流程解決方案也是影響 EDA 行業(yè)競爭格局 的重要指標(biāo)。

隨著集成電路行業(yè)的技術(shù)迭代,先進(jìn)工藝的復(fù)雜程度不斷提高,下游集成電路企業(yè)設(shè)計(jì)和制造高端芯片的成本和風(fēng)險(xiǎn)急劇上升。從芯片制造端看,在設(shè)備投入方面,以先進(jìn)的 5nm 工藝節(jié)點(diǎn)為例,根據(jù) IBS 的數(shù)據(jù),集成電路制造廠商的設(shè)備投入成本超 150 億美元,是 14nm 工藝的兩倍以上、28nm 工藝的四倍左右。

高額的資本支出給晶圓廠的生存和發(fā)展帶來了嚴(yán)峻的挑戰(zhàn);從芯片設(shè)計(jì)端看,根據(jù) IBS 報(bào)告,以先進(jìn)工藝節(jié)點(diǎn)處于主流應(yīng)用時(shí)期的芯片設(shè)計(jì)成本為例,工藝節(jié)點(diǎn)為 28nm 時(shí),單顆芯片設(shè)計(jì)成本約為 0.4 億美元;工藝節(jié)點(diǎn)為 16nm 時(shí),單顆芯片設(shè)計(jì)成本約為 0.79 億美元;而當(dāng)工藝節(jié)點(diǎn)達(dá)到 5nm 時(shí),單顆芯片設(shè)計(jì)成本上升至約 4.17 億美元,若因設(shè)計(jì)失誤而導(dǎo)致流片失敗,芯片設(shè)計(jì)企業(yè)將額外承擔(dān)更高的設(shè)計(jì)成本。

另一方面,先進(jìn)工藝復(fù)雜程度不斷提高也使得設(shè)計(jì)和制造的技術(shù)難度顯著提升,下游集成電路企業(yè)在設(shè)計(jì)和制造高端芯片時(shí)對(duì) EDA 工具使用的依賴性顯著提高。

從芯片制造端看,隨著工藝節(jié)點(diǎn)的演進(jìn),半導(dǎo)體元器件體積和芯片面積越來越小,單位面積容納的晶體管數(shù)量越來越多。根據(jù) IBS 報(bào)告,以 80mm2面積 的芯片裸片為例,在 16nm 工藝節(jié)點(diǎn)下,單顆裸片可容納的晶體管數(shù)量為 21.12 億個(gè),即每平方毫米 2,640 萬個(gè)晶體管;在 7nm 工藝節(jié)點(diǎn)下,晶體管數(shù)量可增長 到 69.68 億個(gè),即每平方毫米 8,710 萬個(gè)晶體管。

在如此高的芯片密度下,光刻出現(xiàn)誤差的可能性越來越大、越來越難以控制,較大程度上依靠高性能計(jì)算為核心的 EDA 工具對(duì)制造流程進(jìn)行優(yōu)化,對(duì)誤差進(jìn)行預(yù)判和實(shí)時(shí)調(diào)整。從芯片設(shè)計(jì)端看,目前芯片產(chǎn)品市場競爭激烈、更新迭代速度快、產(chǎn)品同質(zhì)化高,產(chǎn)品研發(fā)上市時(shí)間緊張,而芯片設(shè)計(jì)規(guī)模卻不斷增大。以設(shè)計(jì)門級(jí)規(guī)模為例,工藝節(jié)點(diǎn)為 28nm 時(shí),芯片設(shè)計(jì)的門級(jí)規(guī)模為億門級(jí);工藝節(jié)點(diǎn)為 16nm 時(shí),芯片設(shè)計(jì)的門 級(jí)規(guī)模增加至十億門級(jí);而當(dāng)工藝節(jié)點(diǎn)達(dá)到 7nm 時(shí),芯片設(shè)計(jì)的門級(jí)規(guī)??蛇_(dá)百億門級(jí),芯片設(shè)計(jì)人員依靠手工設(shè)計(jì)已不再具有實(shí)際可操作性,且在如此規(guī)模的芯片設(shè)計(jì)過程中,EDA 工具的效率和可靠性直接決定芯片產(chǎn)品能否如期上市且達(dá)到設(shè)計(jì)要求。

在此背景下,作為集成電路設(shè)計(jì)與制造環(huán)節(jié)必不可少的支撐工具,集成電路企業(yè)對(duì) EDA 工具的重視程度與日俱增,在選擇 EDA 工具及其供應(yīng)商時(shí)也極為謹(jǐn)慎。與極高的時(shí)間成本和資金風(fēng)險(xiǎn)相比,領(lǐng)先的集成電路制造廠商和芯片設(shè)計(jì)公司對(duì) EDA 工具的價(jià)格敏感度往往相對(duì)較低,但更加關(guān)注其能否在關(guān)鍵環(huán)節(jié)提供更高的技術(shù)及商業(yè)價(jià)值,且對(duì)其功能、性能和精準(zhǔn)度等方面提出了嚴(yán)苛的標(biāo)準(zhǔn)和要求。

該等企業(yè)在進(jìn)行用于量產(chǎn)使用的規(guī)模化采購前,往往基于對(duì)行業(yè)發(fā)展和 技術(shù)需求的認(rèn)知,優(yōu)先關(guān)注和選擇 EDA 供應(yīng)商具有國際市場競爭力的核心優(yōu)勢(shì) 產(chǎn)品,并對(duì) EDA 工具及其供應(yīng)商在技術(shù)、產(chǎn)品、服務(wù)及持續(xù)發(fā)展能力等多維度 進(jìn)行較長時(shí)間的審慎評(píng)估,以確保相關(guān)工具能長期、有效且可靠地在大規(guī)模量產(chǎn) 中采用,且一經(jīng)采用不會(huì)輕易替換。

此外,當(dāng) EDA 公司擁有的核心優(yōu)勢(shì)產(chǎn)品的數(shù)量逐步增多、國際市場競爭力越來越強(qiáng),并形成關(guān)鍵流程或者全流程的解決方案時(shí),不僅產(chǎn)品銷售協(xié)同效應(yīng)上 具有明顯優(yōu)勢(shì),且豐富多樣的產(chǎn)品種類亦可以滿足客戶的多方面需求,為其提供 一站式采購選擇。因此,這些 EDA 公司能夠利用多元化的產(chǎn)品類型及解決方案 分散研發(fā)和市場風(fēng)險(xiǎn),快速疊加和擴(kuò)大市場份額。

因此,體現(xiàn) EDA 公司技術(shù)水平特點(diǎn)及其先進(jìn)性、衡量企業(yè)市場競爭力和影響市場格局的核心關(guān)鍵指標(biāo)為全球領(lǐng)先集成電路企業(yè)認(rèn)可和量產(chǎn)采用情況,以及 是否擁有基于自身核心產(chǎn)品及技術(shù)形成的具有國際市場競爭力的關(guān)鍵流程或全 流程解決方案。

全球 EDA 行業(yè)競爭格局

目前全球 EDA 市場處于新思科技、鏗騰電子、西門子 EDA 三家廠商壟斷的格 局,行業(yè)高度集中。該等公司均以其在國際市場上具備行業(yè)領(lǐng)導(dǎo)地位的核心 EDA 產(chǎn)品為錨,通過數(shù)十年不間斷的高研發(fā)投入夯實(shí)鞏固其核心產(chǎn)品的技術(shù)領(lǐng)先優(yōu) 勢(shì),并通過不斷拓展、兼并、收購逐步形成全流程解決方案,最終得到全球領(lǐng)先集成電路企業(yè)的充分認(rèn)可使用,確立行業(yè)壟斷地位,并已建立起相當(dāng)完善的行業(yè)生態(tài)圈,形成了較高的行業(yè)壁壘和用戶粘性,占據(jù)了全球主要的 EDA 市場。根據(jù)賽迪顧問,2020 年國際 EDA 巨頭全球市場占有率超過 77%。?

基于國際 EDA 巨頭的核心優(yōu)勢(shì)產(chǎn)品及全流程覆蓋的發(fā)展經(jīng)驗(yàn)及成果,在全 球范圍內(nèi) EDA 公司存在兩種不同的發(fā)展特點(diǎn):優(yōu)先重點(diǎn)突破關(guān)鍵環(huán)節(jié)核心 EDA 工具,在其多個(gè)核心優(yōu)勢(shì)產(chǎn)品得到國際領(lǐng)先客戶驗(yàn)證并形成國際領(lǐng)先地位后, 針對(duì)特定設(shè)計(jì)應(yīng)用領(lǐng)域推出具有國際市場競爭力的關(guān)鍵流程解決方案;或優(yōu)先重點(diǎn)突破部分設(shè)計(jì)應(yīng)用形成全流程解決方案,然后逐步提升全流程解決方案中各關(guān)鍵環(huán)節(jié)核心 EDA 工具的國際市場競爭力。?

其中,以是德科技和 ANSYS 為代表的國際領(lǐng)先 EDA 公司,憑借在細(xì)分領(lǐng)域 取得的技術(shù)領(lǐng)先優(yōu)勢(shì),為客戶實(shí)現(xiàn)更高價(jià)值,再依托細(xì)分領(lǐng)域優(yōu)勢(shì)逐漸向其他 環(huán)節(jié)工具拓展,目前已成功搶占了較為突出的市場份額,在特定的設(shè)計(jì)環(huán)節(jié)或特定領(lǐng)域形成了其壟斷地位。

其中,ANSYS 通過熱分析、壓電分析等核心優(yōu)勢(shì)產(chǎn)品、是德科技通過電磁仿真、射頻綜合等核心優(yōu)勢(shì)產(chǎn)品脫穎而出,并圍繞這些核心優(yōu)勢(shì)產(chǎn)品打造了具有國際市場競爭力的關(guān)鍵流程解決方案,分別成為全球排名第四、五的 EDA 公司。根據(jù)賽迪顧問,2020 年兩家公司合計(jì)全球市場占有率約為 8.1%。前五大 EDA 公司累計(jì)占有了約 85%的全球 EDA 市場份額。

圖:全球前五大 EDA 公司市場份額(內(nèi)圈至外圈分別為 2018-2020 年數(shù)據(jù))?????數(shù)據(jù)來源:賽迪顧問

除上述五家 EDA 公司外,全球范圍內(nèi)的 EDA 企業(yè)中,優(yōu)先突破關(guān)鍵環(huán)節(jié)核心工具的典型公司國際上還有 PDF Solutions 等,國內(nèi)有概倫電子、廣立微等;優(yōu)先突破部分設(shè)計(jì)應(yīng)用全流程解決方案的典型公司國際上有 SILVACO、Jedat Inc. 等,國內(nèi)有華大九天等,如下:

注:以上的分析和統(tǒng)計(jì)僅針對(duì)集成電路設(shè)計(jì)和制造的 EDA 工具和企業(yè),不包括 PCB 等板級(jí) 設(shè)計(jì)的工具和企業(yè)。????圖:EDA 行業(yè)競爭格局示意圖

全球行業(yè) EDA 技術(shù)發(fā)展?fàn)顩r及未來趨勢(shì)

面對(duì)當(dāng)今摩爾定律的困境和集成電路行業(yè)的發(fā)展特點(diǎn),全球主流 EDA 技術(shù) 發(fā)展有兩種思路:持續(xù)和領(lǐng)先集成電路企業(yè)合作,堅(jiān)定的推動(dòng)工藝節(jié)點(diǎn)向前演 進(jìn)和支持不同工藝平臺(tái)的創(chuàng)新應(yīng)用;或不斷挖掘現(xiàn)有工藝節(jié)點(diǎn)的潛能,持續(xù)進(jìn)行流程創(chuàng)新,縮短產(chǎn)品上市時(shí)間,提升產(chǎn)品競爭力。

1、與全球領(lǐng)先集成電路企業(yè)合作,推動(dòng)工藝節(jié)點(diǎn)的持續(xù)演進(jìn)?

集成電路制造行業(yè)經(jīng)歷了數(shù)十年的快速發(fā)展,先進(jìn)光刻與刻蝕技術(shù)等集成 電路制造所需的專用技術(shù)不斷突破,半導(dǎo)體器件也朝著 7nm、5nm、3nm 等先進(jìn)工藝節(jié)點(diǎn)不斷演進(jìn),晶體管尺寸在不斷逼近物理極限。根據(jù)摩爾定律,約每 18 個(gè)月工藝就進(jìn)行一次迭代。而根據(jù) SIA 及 IEEE 報(bào)告,隨著工藝節(jié)點(diǎn)不斷演進(jìn), 現(xiàn)有技術(shù)瓶頸的制約正在加強(qiáng),工藝的迭代速度已經(jīng)有所放緩,自 2015 年起工藝迭代(11/10nm)速度已經(jīng)下降為 24 個(gè)月。未來該趨勢(shì)將進(jìn)一步持續(xù),預(yù)計(jì) 2022 年起工藝迭代(3nm)速度將下降為 30 個(gè)月,目前業(yè)界普遍認(rèn)為集成電路 行業(yè)已經(jīng)進(jìn)入到后摩爾時(shí)代。后摩爾時(shí)代先進(jìn)工藝技術(shù)繼續(xù)突破的難度激增、 設(shè)計(jì)和制造復(fù)雜度和風(fēng)險(xiǎn)的大幅提升均對(duì) EDA 公司提出了新的挑戰(zhàn)和要求,每 一代先進(jìn)工藝節(jié)點(diǎn)的突破,均需由工藝水平最先進(jìn)的晶圓廠、頂尖 EDA 團(tuán)隊(duì)和 設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)豐富的集成電路設(shè)計(jì)企業(yè)三方協(xié)力共同推進(jìn),才有可能盡早實(shí)現(xiàn)。根 據(jù) Yole 報(bào)告,最終能夠成功突破 20nm、14nm、7nm 等工藝節(jié)點(diǎn)并且持續(xù)向 5nm、 3nm 等更先進(jìn)工藝研發(fā)的晶圓廠數(shù)量越來越少,能夠與臺(tái)積電、三星電子、英特 爾、中芯國際等全球領(lǐng)先企業(yè)合作,堅(jiān)持開發(fā)先進(jìn)工藝節(jié)點(diǎn)的 EDA 團(tuán)隊(duì)和集成 電路設(shè)計(jì)企業(yè)數(shù)量也寥寥無幾。

圖:全球晶圓廠先進(jìn)工藝節(jié)點(diǎn)突破情況(截至 2020 年底) 數(shù)據(jù)來源:Yole

根據(jù) IEEE 發(fā)布的國際器件與設(shè)備路線圖(IRDS),摩爾定律發(fā)展到 5nm 及 以下工藝節(jié)點(diǎn)的時(shí)候,繼續(xù)按照傳統(tǒng)工藝,通過傳統(tǒng)的工藝縮小晶體管的尺寸會(huì)變得極為困難。未來先進(jìn)工藝節(jié)點(diǎn)的演進(jìn)將遵循三個(gè)方向進(jìn)行,分別為延續(xù) 摩爾定律(More Moore)、超越摩爾定律(More than Moore)和新型器件(BeyondCMOS)。其中延續(xù)摩爾定律指通過在器件結(jié)構(gòu)、溝道材料、連接導(dǎo)線、架構(gòu)系統(tǒng) 等方面進(jìn)行半導(dǎo)體工藝制造的創(chuàng)新研發(fā)以持續(xù)縮小晶體管尺寸,沿著傳統(tǒng)摩爾 定律的道路繼續(xù)往前推進(jìn)。超越摩爾定律指不再單純依靠縮小晶體管尺寸,而 是通過電路設(shè)計(jì)以及系統(tǒng)算法優(yōu)化、先進(jìn)封裝技術(shù)集成更多數(shù)量的晶體管等方式綜合以提升性能。同時(shí),根據(jù)應(yīng)用場景來實(shí)現(xiàn)芯片功能的多樣化,滿足互聯(lián) 網(wǎng)、物聯(lián)網(wǎng)、生物醫(yī)藥、新能源等各新興領(lǐng)域的發(fā)展應(yīng)用需求,挖掘和研發(fā)傳 感器、功率半導(dǎo)體、可穿戴設(shè)備等各類對(duì)工藝節(jié)點(diǎn)要求相對(duì)較低但市場規(guī)模巨大的非數(shù)字芯片。新型器件是指通過研發(fā)全新的半導(dǎo)體元器件、半導(dǎo)體材料, 甚至全新的工藝系統(tǒng)架構(gòu),以取代現(xiàn)有硅基 CMOS 工藝。

為配合上述技術(shù)發(fā)展趨勢(shì),EDA 行業(yè)需要同步發(fā)展和突破能支撐更先進(jìn)工藝 節(jié)點(diǎn)、更復(fù)雜的設(shè)計(jì)和制造及更多樣化的設(shè)計(jì)應(yīng)用的 EDA 工具和流程,EDA 工具自身也需要不斷的提高速度、精度、可靠性等技術(shù)指標(biāo),并利用新型計(jì)算、人 工智能、云計(jì)算等先進(jìn)技術(shù)等進(jìn)行賦能,綜合提高自動(dòng)化程度和工作效率。2021 年 6 月,新思科技與三星電子合作,宣布其支撐的三星 3nm GAA 工藝 SoC 芯片 已獲得一次性成功流片,有效加速了三星 3nm 工藝研發(fā),得到三星電子的高度 評(píng)價(jià)。以 DARPA 和谷歌為代表的機(jī)構(gòu)和企業(yè)則在探索通過超高效計(jì)算、深度學(xué)習(xí)、云端開源等技術(shù),推動(dòng)敏捷設(shè)計(jì)與 EDA 全自動(dòng)設(shè)計(jì)和自主迭代功能。

2、不斷挖掘工藝潛能,持續(xù)進(jìn)行流程創(chuàng)新

先進(jìn)工藝節(jié)點(diǎn)的開發(fā)需要較長時(shí)間且難度較高,晶圓廠為加快工藝節(jié)點(diǎn)的 開發(fā)速度,需要和集成電路設(shè)計(jì)企業(yè)更緊密地協(xié)同,實(shí)現(xiàn)更快速的工藝開發(fā)和 芯片設(shè)計(jì)過程的迭代;集成電路設(shè)計(jì)企業(yè)需要更早地介入到工藝平臺(tái)開發(fā)階段 中,協(xié)助晶圓廠對(duì)器件設(shè)計(jì)和工藝平臺(tái)開發(fā)進(jìn)行有針對(duì)性的調(diào)整和優(yōu)化。IDM 廠 商由于設(shè)計(jì)和制造環(huán)節(jié)在同一體系內(nèi)完成,在工藝與設(shè)計(jì)協(xié)同優(yōu)化的實(shí)踐上有 著天然的優(yōu)勢(shì)。

類似 DTCO 的理念已在國際領(lǐng)先的 IDM 廠商內(nèi)部進(jìn)行了多年的實(shí) 踐,能夠幫助其在相同工藝節(jié)點(diǎn)下達(dá)到更高的芯片性能和良率,從而極大地增 強(qiáng)盈利能力,成為提高市場競爭力的核心因素。

以英特爾為例,其先進(jìn)節(jié)點(diǎn)的 制造工藝開發(fā)速度雖不及臺(tái)積電和三星電子,但基于其對(duì)工藝潛能的深度挖掘, 可實(shí)現(xiàn)相同工藝節(jié)點(diǎn)下芯片更高的集成度和優(yōu)異的性能。根據(jù) DIGITIMES 的數(shù)據(jù),英特爾基于 10nm 工藝節(jié)點(diǎn)的晶體管密度為每平方毫米 1.06 億個(gè)晶體管, 高于臺(tái)積電和三星電子基于 7nm 工藝節(jié)點(diǎn)的芯片晶體管密度;其基于 7nm 工藝 節(jié)點(diǎn)的芯片晶體管密度為每平方毫米 1.8 億個(gè)晶體管,高于三星電子的基于 3nm 工藝節(jié)點(diǎn)和臺(tái)積電基于 5nm 工藝節(jié)點(diǎn)的芯片晶體管密度。(本文資料精選自上海概倫電子股份有限公司首次公開發(fā)行股票并在科創(chuàng)板上市申請(qǐng)文件審核問詢函的回復(fù))

圖:晶圓廠不同工藝節(jié)點(diǎn)的晶體管密度對(duì)比(單位:億個(gè)晶體管/mm2) 數(shù)據(jù)來源:DIGITIMES

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