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[導(dǎo)讀]電橋測試儀能測試哪些東西_電橋測試儀可以測量磁通量嗎?

電橋測試儀原理

Vx與Vr均是矢量電壓表,Rr是理想電阻。自平衡電橋的意思是:當DUT(Device Under Test)接入電路時,放大器的負反饋配置自動使得OP輸入端虛地。Vx準確測定DUT兩端電壓(DUT的Low電位是0),Vr與Rr測得DUT電流Ix,由此可計算Zx。

HP4275的測試端Hp,Hc,Lp,Lc(下標c代表current, 下標p代表Potentail),Guard(接地)的配置可導(dǎo)致測試的誤差的差異。

提高精度的方法是: 1,Hp,Lp,Hc,Lc盡量接近DUT; 2,減小測試電流Ix的回路面積&磁通量(關(guān)鍵是分析Ix,要配合使用Guard與Cable最小化回路面積);3,使用Gurard與Cable構(gòu)建地平面中斷信號線間的電場連接,雖然會增加信號線的對地電容(對地電容不影響測試結(jié)果),但是會減少信號線的互容。

Guard與Cable的對地寄生阻抗(Zhg,Zlg) 不影響測試結(jié)果,電橋平衡時Zlg的兩端電壓是0,流向Rr的電流不會被Zlg分流,Zhg的分流作用不影響Hp的電壓測量。


電橋測試儀能測試哪些東西_電橋測試儀可以測量磁通量嗎?

電橋測試儀能測試哪些東西

電容電橋測量儀主要是對無功補償裝置的高壓并聯(lián)電容組,以及電抗器的測量,其測量依據(jù),符合SJ-255-10300電容測量儀國家標準。

它主要解決了以下問題:

1. 現(xiàn)場測量電容器不需拆除連接線,減化試驗過程、有效提高工作效率、避免損害電力設(shè)備;

2. 完整參數(shù)測量,極易判別電容器的品質(zhì)變化,及器件間連接導(dǎo)體故障;

3. 大容量數(shù)據(jù)存儲和USB通信,不需現(xiàn)場抄寫數(shù)據(jù),確保了測量數(shù)據(jù)完整。

電橋測試儀可以測量磁通量嗎?

電橋測試儀是可以測量磁通量的。磁通量通常通過通量計進行測量。通量計包括測量線圈以及估計測量線圈上電壓變化的電路,從而計算磁通量。


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電橋測試儀的作用

數(shù)字電橋可用于計量測試部門對阻抗量具的檢定與傳遞,以及在一般部門中對阻抗元件的常規(guī)測量。很多數(shù)字電橋帶有標準接口,可根據(jù)被測值的準確度對被測元件進行自動分檔;也可直接連接到自動測試系統(tǒng),用于元件生產(chǎn)線上對產(chǎn)品自動檢驗,以實現(xiàn)生產(chǎn)過程的質(zhì)量控制。80年代中期,通用的誤差低于0.1%的數(shù)字電橋有幾十種。數(shù)字電橋正向著更高準確度、更多功能、高速、集成化以及智能化程度方面發(fā)展。

電容C,電感L,電阻R是電子工程師在產(chǎn)品設(shè)計中最常用的電子元器件。作為常見的小小的被動器件,確影響著電路的參數(shù),也直接牽扯的電子產(chǎn)品的優(yōu)劣。所以對于每個元器件(電容/電感/電阻),我們要了解其特性參數(shù),也需要時刻準確測量到這些參數(shù)。

LCR測試儀就是用來測試元器件(電容/電感/電阻)參數(shù)的。在一般情況下,電阻只要測量其直流電阻值就可以了,這樣可以使用萬用表(例GDM-8261A)或者電阻測試儀(例GOM-802),另外固緯電子LCR-8000G系列也具有直流電阻測量功能。與普通電阻不同,對于電感和電容,就需要采用交流方式來測量。LCR測試儀就是采用交流電進行測量。對于交流電而言,電壓V與電流I的比值是阻抗Z,直流方式下的電阻R只需用‘大小’來表示,而阻抗Z確包含了‘大小’和‘相位’兩個要素,在數(shù)學(xué)上用復(fù)數(shù)和矢量來表示。

電橋測試儀使用注意事項

1.選擇正確的測試條件。元器件廠商給出的器件參數(shù)值所代表的是在規(guī)定的測量條件下能達到的性能,以及允許出現(xiàn)的偏差值。下圖為部分品牌的電容與頻率的特性曲線。


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我們可以看到在不同的測試頻率下,電容的參數(shù)出現(xiàn)非線性的變化,所以我們對于測量某元器件時候,一定要選擇合適的測量頻率以及測量電壓,另外對于某些器件可能還需要設(shè)置偏置電壓等測試條件。對于需要觀測器件的頻率特性,固緯電子LCR-8000G系列具有頻率掃描測量模式,能直觀的觀測不同頻率情況下器件的參數(shù)變化,這點對于研發(fā)測試中能給工程師帶來便利。

2.選擇合適測量治具。測量治具也是LCR測試儀的重要組成部分,對于封裝方式多樣化的元器件,LCR也有多種測量治具選擇。以下為固緯LCR測試治具以及測量范圍。合適的測量治具不僅帶來測量的便捷,更是測量準確性的保證。

3.正確的零點校正。LCR測試儀的零點漂移會隨著測試條件的變換或者是測試治具的不同而產(chǎn)生改變,所以開路以及短路的零點校正非常必要。所以LCR測試儀都有開路和短路校正的設(shè)置。

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