泰克TLA7SA00系列邏輯分析儀榮獲最佳測試獎

21ic訊 泰克公司日前宣布，其 TLA7SA00系列邏輯分析儀在《Test & Measurement World》的2011年度評獎活動中榮獲“最佳測試獎”（Best in Test Award）。

    在2011年5月4日“嵌入式系統(tǒng)大會”（Embedded Systems Conference）舉行期間進行的頒獎儀式上，TLA7SA00系列邏輯分析儀被授予“總線分析儀”類別的最佳產品獎。“最佳測試”獎分16個類別。參加2011年“最佳測試獎”評選的產品或服務必須是在2009年11月1日至2010年10月31日之間推出的產品或服務。

    “我們再次對各廠商提名的許多出色產品進行了評審”，UBM Electronics旗下雜志《Test & Measurement World》的編輯部主任Rick Nelson表示，“我們向泰克公司取得這一成就表示祝賀。”

    TLA7SA00系列是泰克去年四月推出的綜合性PCI Express 1.0/2.0/3.0測試解決方案，集協(xié)議分析與物理分析于一體。該解決方案包括TLA7SA16和TLA7SA08邏輯協(xié)議分析儀模塊、總線支持軟件及探頭，為PCIe開發(fā)者了解系統(tǒng)行為提供了獨一無二的時間相關視圖，從協(xié)議分析開始一直到物理層分析，幫助查找棘手問題的根本原因。

    “總線速度及復雜性一代勝過一代，我們意識到需要有一種將協(xié)議、邏輯及物理分析結合起來的新解決方案，以便更有效地確定棘手軟硬件問題的原因”，泰克公司邏輯分析產品線總經理Dave Farrell表示，“TLA7SA00系列榮獲最佳測試獎是對我們基于‘客戶第一’原則的肯定，這一原則始終貫穿在我們重新定義總線分析測試儀的過程中。”