NI第十五屆圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)征文競賽全面啟動
美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI) “第十五屆圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)征文競賽”已于近日正式啟動。此次大賽針對所有使用NI產(chǎn)品的用戶,旨在進(jìn)一步推動圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)在國內(nèi)的發(fā)展和應(yīng)用,使更多的工程師們能更快更好地開發(fā)符合特定要求的測控應(yīng)用。
從2000年開始,該活動已經(jīng)成功舉辦了十四屆,得到廣大NI新老用戶的熱情支持,每年都收集到數(shù)量眾多的優(yōu)秀創(chuàng)新應(yīng)用方案,使得大賽獲獎應(yīng)用方案文集備受青睞?;顒右坏┱綀竺麉⑴c,即有獎勵。入圍決賽者更將有機(jī)會獲得豐厚的獎金、超值產(chǎn)品升級與培訓(xùn)獎勵,以及免費(fèi)參加 NIDays技術(shù)盛會的機(jī)會。決賽獲獎文章還將發(fā)表在權(quán)威期刊《儀器儀表學(xué)報》增刊上 。
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