IC測試原理解析(第四部分—射頻/無線芯片測試基礎(chǔ))

芯片測試原理討論在芯片開發(fā)和生產(chǎn)過程中芯片測試的基本原理，一共分為四章，下面將要介紹的是最后一章。第一章介紹了芯片測試的基本原理，第二章介紹了這些基本原理在存儲器和邏輯芯片的測試中的應(yīng)用，第三章介紹了混合信號芯片的測試。本文將介紹射頻/無線芯片的測試。

射頻/無線系統(tǒng)會同時包含一個發(fā)射器和接收器分別用于發(fā)送和接收信號。我們先介紹發(fā)射器的基本測試，接下來再介紹接收器的基本測試。

發(fā)射器測試基礎(chǔ)

如圖1所示，數(shù)字通信系統(tǒng)發(fā)射器由以下幾個部分構(gòu)成：

CODEC(編碼/解碼器)

符號編碼

基帶濾波器(FIR)

IQ調(diào)制

上變頻器（Upconverter）

功率放大器

CODEC使用數(shù)字信號處理方法(DSP)來編碼聲音信號，以進行數(shù)據(jù)壓縮。它還完成其它一些功能，包括卷積編碼和交織編碼。卷積編碼復(fù)制每個輸入位，用這些冗余位來進行錯誤校驗并增加了編碼增益。交織編碼能讓碼位錯誤分布比較均勻，從而使得錯誤校驗的效率更高。

符號編碼把數(shù)據(jù)和信息轉(zhuǎn)化為I/Q信號，并把符號定義成某個特定的調(diào)制格式。基帶濾波和調(diào)制整形濾波器通過修整I/Q調(diào)制信號的陡峭邊沿來提高帶寬的使用效率。

IQ調(diào)制器使得I/Q信號相互正交(積分意義上)，因此它們之間不會相互干擾。IQ調(diào)制器的輸出為是IQ信號的組合，就是一個單一的中頻信號。該中頻信號經(jīng)過上變頻器轉(zhuǎn)換為射頻信號后，再通過放大后進行發(fā)射。

Figure 1. 通用數(shù)字通信系統(tǒng)發(fā)射器的簡單模塊圖

先進的數(shù)字信號處理和專用應(yīng)用芯片技術(shù)提高了數(shù)字系統(tǒng)的集成度。現(xiàn)在一塊單一的芯片就集成了從ADC轉(zhuǎn)換到中頻調(diào)制輸出的大部分功能。因此，模塊級和芯片級的射頻測試點會減少很多，發(fā)射器系統(tǒng)級和天線端的測試和故障分析就變得更加重要。

發(fā)射器的主要測試內(nèi)容

信道內(nèi)測試

信道內(nèi)測試采用時分復(fù)用或者碼分復(fù)用的方法來測試無線數(shù)字電路。復(fù)用指的是頻率或者空間上的復(fù)用等。在時分多址(TDMA)技術(shù)中，一個信道可以定義為在一系列重復(fù)出現(xiàn)的幀里面特定的頻段和時隙，而在碼分多址(CDMA)技術(shù)中，信道定義為特定的碼段和頻段。信道內(nèi)和信道外這兩個術(shù)語指的是我們所感興趣的頻段（頻率信道），而不是指頻率帶寬內(nèi)信道的時隙或者碼段。

發(fā)射器信道帶寬是最先進行的測試，它決定了發(fā)射器發(fā)射信號的頻譜特性。通過頻譜的形狀和特性可以發(fā)現(xiàn)設(shè)計上的許多錯誤，并能大概推算出系統(tǒng)符號速率的錯誤率。

載波頻率測試用于測試可能引起相鄰頻段信道干擾或影響接收器載波恢復(fù)的頻率誤差。在大多數(shù)調(diào)制方式中，載波頻率應(yīng)處于頻譜的中心?？梢酝ㄟ^計算3dB帶寬來判斷中心頻率。

信道功率測試用于測試有用信號在頻率帶寬內(nèi)的平均能量。它通常定義為有用信號能量在信號頻率帶寬內(nèi)的平均值，實際的測量方法隨著不同的標(biāo)準(zhǔn)會有所不同。無線系統(tǒng)必須保證每個環(huán)節(jié)消耗的能量最少，這樣的目的主要有兩個：一是可以減少系統(tǒng)的整體干擾，二是能延長便攜系統(tǒng)電池的使用壽命。因此，必須嚴格地控制輸出功率。在CDMA系統(tǒng)中，為了達到最大的容量，系統(tǒng)總的干擾容限也嚴格限制了每個單個移動單元的功率。精確發(fā)射功率控制對系統(tǒng)的容量,覆蓋范圍和信號質(zhì)量至關(guān)重要.

占用帶寬跟信道功率密切相關(guān)，定義為給定總調(diào)制信號功率的百分比所覆蓋多少頻譜。

時間測試常用于TDMA系統(tǒng)中的突發(fā)信號測試。這些測試主要用來評估載波包絡(luò)是否能滿足預(yù)期的要求，它們包括了突發(fā)信號寬度，上升時間，下降時間、開啟時間、關(guān)閉時間、峰值功率、發(fā)射功率、關(guān)閉功率以及占空比等。時間測試可以保證相鄰頻率信道之間的干擾以及信號開啟或者關(guān)閉的時隙切換時的干擾最小。

調(diào)制品質(zhì)的測試通常涉及到發(fā)射信號的精確解調(diào)并與理想的數(shù)學(xué)計算出來的發(fā)射信號或參考信號進行比較。實際的測量隨著不同的調(diào)制方式和不同的標(biāo)準(zhǔn)會有不同的方法。

誤差矢量幅度(EVM)是應(yīng)用最廣泛的數(shù)字通信系統(tǒng)調(diào)制品質(zhì)參數(shù)，它采樣發(fā)射器的輸出端的輸出信號，獲得實際信號的軌跡。通常把輸出信號解調(diào)后得到一個參考信號。矢量誤差是指某個時間理想的參考信號與實際所測的信號的差別，是一個包含幅度分量和相位分量的復(fù)數(shù)。通常，EVM會采用最大的符號幅度分量或者平均符號功率的平方根。

I/Q偏置(固有偏置origin offsets)是由I/Q信號的直流偏置引起的，可能會導(dǎo)致載波反饋。

相位和頻率誤差測試用于等幅調(diào)制方式。通過采樣發(fā)射器的輸出信號并捕獲實際的相位軌跡，解調(diào)后得到一個理想的參考相位軌跡。相位誤差是通過比較實際信號和理想?yún)⒖夹盘柖玫降模⒁杂行е岛头逯档男问奖硎?。大的相位誤差說明發(fā)射器基帶或者輸出放大器有問題，導(dǎo)致信號靈敏度的下降。頻率誤差是指載波頻率的誤差。一個穩(wěn)定的小頻率誤差說明正在使用的載波可能有些問題。不穩(wěn)定的頻率誤差可能是由以下這些原因引起的：本地振蕩器的不穩(wěn)定，使用了不適當(dāng)?shù)臑V波器，放大器的幅度調(diào)制相位調(diào)制轉(zhuǎn)換有問題，或是所使用發(fā)射器模擬頻率調(diào)制器的調(diào)制指數(shù)有問題，

信道外測試

信道外測試是指對那些在系統(tǒng)頻率以外頻段的測量。

信道外測試是對系統(tǒng)頻段內(nèi)的失真或者干擾進行采樣，而不是對傳輸頻率本身進行測試

相鄰信道功率比(ACPR)測試保證發(fā)送器不受相鄰或者間隔通道的干擾。ACPR就是相鄰信道平均功率與發(fā)射信道平均功率的比值。通常是在間隔多個信道的信道之間進行測量(與相鄰信道或間隔信道之間)。當(dāng)進行ACPR測試的時候，要考慮到發(fā)射信號的統(tǒng)計特性非常重要，因為即使對于同一發(fā)射器來說，不同的信號統(tǒng)計會導(dǎo)致不同的ACPR測試結(jié)果。對于不同的標(biāo)準(zhǔn)，該測試通常會具有不同的名字和定義。

雜波信號是由發(fā)射器內(nèi)不同的信號組合而引起的。在系統(tǒng)頻帶內(nèi)這種信號的幅度必須要小于標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的水平，以保證它對其它通信系統(tǒng)的干擾最小。

諧波是由發(fā)送器的非線性而引起的信號失真，這些信號的頻率都是載波頻率的整數(shù)倍。信道外雜波和諧波的測試用于保證本信道對其它通信系統(tǒng)的干擾最小。

接收器基本測試

接收器的功能基本上是發(fā)送器的反向過程，因而它們帶來的測試挑戰(zhàn)也非常相似。接收器必須在有潛在干擾的條件下成功地捕獲RF信號，因此，必須有一個前端選擇濾波器來濾除或減弱由天線接受到的系統(tǒng)頻段以外的信號。低噪聲放大器(LNA)可以放大目標(biāo)信號的幅度，但同時也會保證盡可能少地增加噪聲幅度，下變頻器通過與本振信號混頻把RF信號轉(zhuǎn)換為頻率較低的中頻信號?；祛l器的輸出信號再通過中頻濾波器削弱由混頻器或相鄰?fù)ǖ喇a(chǎn)生的無用的頻率分量。

數(shù)字接收器(圖2)可以用I/Q解調(diào)器或者采樣中頻IF來實現(xiàn)。I/Q解調(diào)是由模擬硬件來實現(xiàn)的，在數(shù)字射頻接收器的設(shè)計中比較常見。盡管這種方法很受歡迎，但它有一個潛在的問題：I/Q路徑上的增益會不太一致，而且相對的相位偏差也很大(大于90度)，進而會導(dǎo)致圖像抑制的問題。因此，I/Q解調(diào)的方式主要用于單通道基站。

Figure 2. 典型的數(shù)字通信接收器

接收器的主要測試內(nèi)容

信道內(nèi)測試用來測試接收器在一定的允許誤碼率的情況下能接受的最小的信號幅度，又稱作靈敏度。接收器能正確捕獲低幅度輸入信號的能力就是該接收器的靈敏度。

比特誤碼率和楨誤碼率是在數(shù)字接收器里面的地位就跟模擬接收器里面的信號與噪聲諧波比(SINAD)一樣，是衡量數(shù)字接收器最重要的性能指標(biāo)，同時也是靈敏度的衡量方式。當(dāng)采用一位數(shù)據(jù)序列進行調(diào)制時,可接受的靈敏度是指在指定誤碼率的條件下最小接收信號的幅度。測量該參數(shù)時需要通過衰減已知的電纜分別把信號源施加到接收器的天線端，以及把接收器的輸出端連接到比特誤碼率檢測設(shè)備上。測試時，如果不知道大概的靈敏度，那就最先把信號的幅度設(shè)置到通常的水平(比如-90dBm),接下來遞減幅度，直到比特誤碼率達到指定值。此時，信號的功率值減去電纜的損耗就是靈敏度。

同道抑制能力測試與靈敏度測試相似。測試時，在相同RF信道上加上干擾信號后檢測接收信號的扭曲水平。接收器能保持對所需信號的靈敏度同時抑制干擾信號的能力就是同道抑制能力。

信道外或阻塞測試用于驗證當(dāng)有信道外信號出現(xiàn)時接收器是否能正常工作以及在此條件下接收器被干擾后所產(chǎn)生的雜波響應(yīng)。通常信道外測試包括：

- 雜波抑制能力，它與同道抑制相似，但是干擾信號是所有頻段的干擾信號而不僅限于同信道內(nèi)的。

- 互調(diào)抑制能力(intermodulation immunity)用于測試當(dāng)接收器的輸入包含多個頻率分量時所產(chǎn)生的失真信號。

- 相鄰信道抑制能力用于測試當(dāng)相鄰信道具有強信號時接收器的接受能力。

檢測雜波抑制能力

雜散響應(yīng)或者雜波是由接收器內(nèi)部或接收器與外部信號的共同作用產(chǎn)生的。這兩種雜波信號都需要被檢測。

在進行雜波信號檢測時，可以用一個負載代替接收器的天線，這樣可以保證接收器的輸入信號沒有干擾信號，接下來把接收器的輸出連接到頻譜分析儀。這樣，系統(tǒng)內(nèi)部產(chǎn)生的毛刺都會在頻譜分析儀上出現(xiàn)。系統(tǒng)內(nèi)部產(chǎn)生的雜波一般源于接收器電源的諧波，系統(tǒng)時鐘或者本振信號。

雜散響應(yīng)抑制能力用于測試接收器抑制在輸出端由雜散響應(yīng)產(chǎn)生的無用信號的能力。在進行此項測試之前，我們必須找出所有的內(nèi)部產(chǎn)生的雜波源,并確保它們沒有超出規(guī)定范圍。接下來，我們再給所需射頻信道施加一個在靈敏度范圍以上的調(diào)制測試信號，同時用第二個信號發(fā)生器提供一個干擾信號。改變干擾信號的頻率，觀察和驗證接收器的雜波抑制能力。

檢測互調(diào)抑制能力

互調(diào)影響是指在輸入信號包含多個頻率分量時由接收器的非線性度而產(chǎn)生一些無用信號。一般用兩個頻率分量的輸入信號來測試接收器的互調(diào)特性。我們需要設(shè)置干擾信號讓三階互調(diào)分量落在接收器的通帶之中。干擾信號的能量與其它信號都相等并設(shè)定在指定的值，接下來再檢測有用信號的比特誤碼率。

測量相鄰?fù)ǖ篮烷g隔通道的選擇性

相鄰和間隔通道的選擇性指接收器接受本信道有用信號并抵制相鄰?fù)ǖ?通常隔一個通道)或間隔通道（通常指相隔兩個通道）較強信號干擾的能力。在一些通信應(yīng)用中，通道比較窄或者間隔通道的能量難于控制，比如說移動無線信號等，這些應(yīng)用中，上述的測試就非常重要。進行這些測試時，通過信號發(fā)生器給待測信道施加一個測試信號，能量與通道靈敏度相關(guān)。同時用第二個信號發(fā)生器給相鄰或者間隔信通也施加一個信號，此信號的能量被設(shè)定在某一特定值，使得測試信號的誤碼率小于某個比例。

除開能量的精度之外，測試信號和干擾信號的頻譜特征也很重要。對于很多接收器來說，用于產(chǎn)生干擾信號的信號發(fā)生器的單邊帶(SSB)相位噪聲非常關(guān)鍵。如果在中頻濾波器頻段范圍內(nèi)的相位噪聲過大，接收器測試可能會不能通過。

大的測試安全系數(shù)對于接收器在信噪比惡化條件下能正常工作增添信心。對于使用新技術(shù)或者變化的頻率系統(tǒng)中，大的測試安全系數(shù)可以用來保證這些不確定性。

衰落測試

用于克服多個隨機的無線信道對單一接受信道的影響。在無線環(huán)境中，無線信號可能由多個途徑從發(fā)送器到達接收器。在接收器的輸入端，這種多徑效應(yīng)可能會增加信號的幅度(同相)或者減小信號的幅度(反相)。因此，會導(dǎo)致被接收信號的衰落，從而影響信號的接受。

快速的線性衰落會使得基帶脈沖失真。這種失真是線性的，并會產(chǎn)生符號間干擾。自適應(yīng)均衡器可以通過消除線性失真來減少符號間干擾。

緩慢的衰落會導(dǎo)致信噪比的降低。糾錯編碼或者接收分級能夠克服緩慢衰減的這種影響。

衰減測試可以通過以下步驟來完成：先把測試信號在傳送到接收器之前通過一個無線信道的仿真器，經(jīng)過仿真器模擬信號的多個路徑，因此到達接收器的信號是多個信號的組合。再有接收器進行信號處理。接收器必須能夠在處理該組合信號時能保證一定的誤碼率。衰落測試的設(shè)置與靈敏度測試很類似，只不過多出一個仿真通道。

結(jié)論

到目前為止，我們介紹了以下幾種基本測試：相對簡單的存儲器和邏輯芯片測試以及比較復(fù)雜的混合信號和射頻/無線芯片測試的獨特測試要求。由此可見，對于不同類型芯片的測試，我們需要根據(jù)相應(yīng)的要求采用不同的測試策略和測試方法。