在嵌入式系統(tǒng)開發(fā)中,監(jiān)控CPU溫度是一項至關(guān)重要的任務,它直接關(guān)系到系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性。CPU溫度過高可能會導致系統(tǒng)性能下降、硬件損壞甚至系統(tǒng)崩潰。因此,能夠?qū)崟r、準確地獲取CPU溫度,并采取相應的散熱措施,對于嵌入式系統(tǒng)的穩(wěn)定運行至關(guān)重要。本文將介紹幾種使用嵌入式C語言獲取CPU溫度的實用代碼片段,并探討其背后的原理和實現(xiàn)方法。
在嵌入式系統(tǒng)開發(fā)中,處理文件是常見的任務之一。了解文件的大小對于優(yōu)化存儲空間管理、執(zhí)行文件傳輸或驗證文件完整性等方面至關(guān)重要。雖然嵌入式系統(tǒng)的資源通常比桌面或服務器系統(tǒng)有限,但通過使用高效的C語言代碼,我們可以輕松地實現(xiàn)獲取文件大小的功能。本文將探討幾種在嵌入式環(huán)境中使用C語言獲取文件大小的實用方法,并展示相應的代碼片段。
其原理為閱讀器與標簽之間進行非接觸式的數(shù)據(jù)通信,達到識別目標的目的。RFID 的應用非常廣泛,典型應用有動物晶片、汽車晶片防盜器、門禁管制、停車場管制、生產(chǎn)線自動化、物料管理。
在數(shù)字圖像處理領域,圖像反轉(zhuǎn)作為一種基礎且強大的技術(shù),被廣泛應用于各種圖像處理系統(tǒng)中。通過FPGA(現(xiàn)場可編程門陣列)實現(xiàn)圖像灰度反轉(zhuǎn)與彩色反轉(zhuǎn),不僅可以加速處理速度,還能實現(xiàn)高效的并行處理。本文將深入探討FPGA在圖像灰度反轉(zhuǎn)與彩色反轉(zhuǎn)中的應用,并附上關(guān)鍵代碼實現(xiàn)。
電阻溫度檢測器(RTD)溫度測量系統(tǒng)是否有一致的誤差?高精度的RTD溫度測量系統(tǒng)可以設計而不需要校準嗎?本文介紹了一種高精度RTD溫度測量系統(tǒng),該系統(tǒng)采用誤差補償?shù)姆椒?在不需要校準的情況下,在-25℃到+140℃的范圍內(nèi),實現(xiàn)了等于。
一般來說,勵磁電流越大,溫度測量的靈敏度就越高,從而提高了溫度測量的性能。然而,較大的勵磁電流并不總是更好的。一方面,激發(fā)電流在RTD上產(chǎn)生的熱能與電流的平方成正比,電流越大,自熱效應越大,這可能對溫度測量產(chǎn)生重大影響。另一方面,它受到電流源的順應電壓的限制.因此,在選擇勵磁電流值時,必須同時考慮自熱效應和順應性電壓。
在計算系統(tǒng)的理論性能后,有必要通過測量驗證系統(tǒng)的實際性能。對于溫度測量系統(tǒng),最重要的性能指標是測量溫度值與真實溫度值之間的誤差。因此,為了測量這一規(guī)格,需要一個精確的、大范圍的溫度源。偶然校準具有豐富的溫度校準經(jīng)驗,其產(chǎn)品為各種溫度測量場景提供了可靠的標準。
接上一篇,盡管14條RTD測量通道的溫度測量誤差曲線具有一致的趨勢,但由于產(chǎn)量的變化,它們的斜率和截流量在一定程度上有所不同。為了對這一過程產(chǎn)生的所有RTD測量通道進行誤差補償,需要找到14條溫度測量誤差曲線所包圍的區(qū)域的中間曲線。更合適的方法是使用一個分段函數(shù)來描述錯誤函數(shù),它分為兩個部分:零和零。
在本節(jié)中,我們將探究集成模式的數(shù)組,每個模式都是為了提供無縫集成解決方案而定制的。這些模式作為結(jié)構(gòu)化的框架,促進了不同系統(tǒng)之間的聯(lián)系和數(shù)據(jù)交換。它們大致分為三類:
數(shù)據(jù)治理 是一個由具有不同角色和責任的個人協(xié)作制定的框架。該框架旨在建立有助于各組織實現(xiàn)其目標的流程、政策、程序、標準和衡量標準。這些目標包括為業(yè)務運作提供可靠數(shù)據(jù)、建立問責制和權(quán)威性、開發(fā)評估業(yè)績的準確分析方法、遵守監(jiān)管要求、保護數(shù)據(jù)、確保數(shù)據(jù)隱私以及支持數(shù)據(jù)管理生命周期。
當電流型DAC(IDAC)驅(qū)動它們的負載時,通道供電電壓(PVDS)和輸出負載電壓之間的差異會在負載上下降。這導致芯片內(nèi)功率耗散,因此可能導致模具溫度過高,影響可靠性,并降低整體系統(tǒng)效率。
在不斷追求系統(tǒng)更高性能的過程中,集成設備制造商(IDMS)已經(jīng)非常擅長開發(fā)數(shù)字接口,能夠在充滿挑戰(zhàn)的電力環(huán)境中高速運行。標準接口,如SPI和I2C,提供了一種相對簡單的方式,以可靠和有效的方式連接來自不同供應商的設備。其他類型的接口也是如此。
在嵌入式系統(tǒng)中,使用單片機(MCU)通過SPI(Serial Peripheral Interface)接口與ADC(模擬到數(shù)字轉(zhuǎn)換器)通信時,優(yōu)化SPI驅(qū)動程序以提高ADC的吞吐量是一個重要的任務。以下是一些關(guān)鍵步驟和策略,可以幫助你實現(xiàn)這一目標:
近年來,我看到了嵌入式開發(fā)人員在使用單元測試和測試驅(qū)動開發(fā)(TDD)方面的興趣顯著提高。測試驅(qū)動開發(fā)有可能降低時間到市場和成本,同時提高整體產(chǎn)品質(zhì)量。使用TDD的開發(fā)人員通常編寫測試,使其失敗,然后只編寫生產(chǎn)代碼使測試通過。失敗的測試驅(qū)動代碼開發(fā)。
當嵌入式開發(fā)人員測試他們的軟件時,多種力量正在發(fā)揮作用。系統(tǒng)的復雜性越來越大--這是由于對計算工作量的要求越來越大、連通性越來越廣泛以及安全性和可靠性的提高--這使得開發(fā)人員更難根據(jù)需求驗證代碼。隨著發(fā)布時間的縮減,測試團隊很難適應傳統(tǒng)測試方法更大的復雜性和規(guī)模。