嵌入式設(shè)計(jì)技術(shù)在選擇電源FET中的應(yīng)用———北京東方中科集成科技股份有限公司

引言

最新的嵌入式設(shè)計(jì)為各行各業(yè)及各種應(yīng)用提供了大量復(fù)雜的新產(chǎn)品和新服務(wù)。由于精簡(jiǎn)成本的限制及提高性能的預(yù)期，嵌入式設(shè)計(jì)正在為各種包括家電、工具、建筑、服裝及我們周?chē)鷰缀跛形锲吩趦?nèi)的日常應(yīng)用提供更小、更經(jīng)濟(jì)的解決方案。

這些嵌入式設(shè)計(jì)通常會(huì)由一個(gè)微控制器和各種二級(jí)接口構(gòu)成，如電源。能夠放心且迅速簡(jiǎn)便地選擇電源的元器件對(duì)提供可靠的更小、更經(jīng)濟(jì)的解決方案至關(guān)重要。為實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo)，您需要使用直觀(guān)的測(cè)試測(cè)量工具，快速獲得優(yōu)化結(jié)果。那么北京東方中科集成科技股份有限公司在多年與客戶(hù)的交流及自我總結(jié)當(dāng)中，整理出了此解決方案，僅供參考。本文重點(diǎn)介紹了電源分析實(shí)際應(yīng)用，采用特定測(cè)量技術(shù)，為嵌入式設(shè)計(jì)更加高效地選擇和確定相應(yīng)的元器件。

電源分析

在本例中，我們要為開(kāi)關(guān)電源選擇最好的電源FET?？梢愿鶕?jù)FET的電流和開(kāi)點(diǎn)電阻，相對(duì)簡(jiǎn)便地計(jì)算開(kāi)關(guān)電源的靜態(tài)損耗。晶體管的總功率損耗主要是開(kāi)關(guān)損耗，開(kāi)關(guān)損耗計(jì)算起來(lái)要困難得多。

本例的挑戰(zhàn)是為這一應(yīng)用選擇最好的元器件，因?yàn)槌杀竞凸β蕮p耗是一對(duì)矛盾。在這里，我們預(yù)先確定要測(cè)試的四個(gè)晶體管。

部件編號(hào)