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[導讀]設(shè)計合理的高速總線測試方法

就在幾年前,許多設(shè)計工程師還在苦苦掙扎于步履沉重的總線和I/O速度,而每12~18個月各種處理器的運行速度就增加一倍。而后,幾乎是一夜之間,總線和I/O技術(shù)開始發(fā)生變化。速度加倍,而后又增加一倍。緊接著,如源同步時鐘等新型解決方案和低壓差分信號(LVDS)的小數(shù)據(jù)有效窗帶來的挑戰(zhàn),使測量、驗證和確認比以往更為重要。而帶來此性能提高的完全相同的力量,也使插入測試設(shè)備變得更具有侵略性。
       
但現(xiàn)在已有新的工具和方法,可盡量減少對設(shè)計的影響。然而,現(xiàn)在必須在設(shè)計的最初階段就仔細地對測試進行規(guī)則。如今不再有可能建造一個原型,而后簡單地在線上進行焊接以連接示波器或邏輯分析儀,測試方法必須是整個設(shè)計規(guī)劃中的一部分。

不幸地是,數(shù)字設(shè)計工程師已采用多年的技術(shù)和工具不再可行?,F(xiàn)今的設(shè)計工程師如果不廣泛建模和采用Spice仿真,甚至根本無法想像進行每秒千兆位總線的設(shè)計。當然,其中也不乏有人繼續(xù)用與4MHz處理器的黃金時期同樣的工具和方法,試圖對高速電路進行故障定位和調(diào)試。

為實現(xiàn)速度上的突破,HyperTransport、InfiniBand和RapidIO等技術(shù),采用了如LVDS等“新”電氣規(guī)范,并以高效點對點總線結(jié)構(gòu)替代了傳統(tǒng)的多點接入(multidrop)總線。突然間,數(shù)字設(shè)計工程師從舒適的0和1的世界,轉(zhuǎn)而挺進到高頻模擬世界。那些在場與波里上了第一課,而后在黑夜中驚呼,現(xiàn)在正在被拉回傳輸線理論、反射以及甚至是S參數(shù)的真實課堂。

由于當今總線的高頻效應(yīng)和新型拓撲結(jié)構(gòu),設(shè)計工程師需要更有效地使用測試設(shè)備,以確定信號完整性和數(shù)據(jù)完整性。同時,仿真和評估工具不斷成熟與改進,新型總線技術(shù)局限了那些工具的使用。

例如,模型是從學習和觀察開始構(gòu)建的。當市場上出現(xiàn)新型總線時,提供給大多數(shù)工程師的信息十分有限。大部分情部下,領(lǐng)先的技術(shù)采用者把它們當作其知識產(chǎn)權(quán),在技術(shù)成為主流技術(shù)之前,不愿與人分享信息。所以,在采用這些技術(shù)的初期,測試工具和采用工具進行調(diào)試和確認的能力十分關(guān)鍵。

利用老式4MHz微處理器或USB1.1設(shè)備,100MHz示波器或任何示波探測手持裝置就足夠用了。它們可以應(yīng)付1.5Mbps/或甚至12Mbps的設(shè)備。而對480Mbps USB速率來說,如示波探測這樣簡單的事情都會動態(tài)影響到系統(tǒng)。

測試設(shè)備測量選擇對如通過1GHz時鐘“兩級泵激”(double-pumping)數(shù)據(jù)的HyperTransport鏈路這樣的先進系統(tǒng)有多大影響呢?由于創(chuàng)建與保持時間減少,數(shù)據(jù)捕獲尤其受到影響。事實上,新技術(shù)的出現(xiàn)已帶來了新的術(shù)語。創(chuàng)建與保持時間現(xiàn)在已經(jīng)是過時的術(shù)語了?,F(xiàn)在,高速數(shù)據(jù)傳輸被稱為“數(shù)據(jù)有效窗”,它是創(chuàng)建、保持和壓擺的結(jié)合。

想當初,1992年的Intel Pentium前端總線(FSB)具有5ns的創(chuàng)建時間和5V的壓擺?,F(xiàn)在,InfiniBand和RapidIO的數(shù)據(jù)有效窗為250ps,差分壓擺為200mV。

相較于1992年Intel FSB,現(xiàn)在InfiniBand規(guī)格數(shù)據(jù)有效窗減小20倍,壓擺減少25倍,delta值為500。換而言之,當今的總線僅消耗了1992年P(guān)entium FSB 0.2%的能量。

從傳統(tǒng)多的多點接入總線到點對點技術(shù)的變化帶來了另一個挑戰(zhàn)。多點接入總線的最佳實例是PCI總線。采用了多個連接器,對總線進行探測相當容易。測試工具或測試連接被插入一個連接器,留下其他連接器以供插入真正的設(shè)備。

但是HyperTransport規(guī)范甚至沒有包括一個連接器。那么設(shè)計工程師如何對總線進行探測呢?這種挑戰(zhàn)并不僅限于HyperTransport。運行于133MHz的 PCI-X也只有一個插槽,如果插入了測試工具,該插槽也無法再提供真正的設(shè)備使用了。

PCI-X和Accelerated Graphics Port2.0(AGP4X)的解決方案為一種內(nèi)插板設(shè)計。這是一塊插入主板上的連接器的卡板,同時為應(yīng)用設(shè)備提供連接器以及為邏輯分析儀提供通道。該解決方案要求極其仔細的內(nèi)插板設(shè)計,以防止信號歪斜和對目標系統(tǒng)產(chǎn)生負載。

內(nèi)插板設(shè)計方法在高達133MHz時鐘速率工作良好,甚至對于如266MTps DDR SDRAM數(shù)據(jù)兩級泵激系統(tǒng)都是一種非常穩(wěn)定的設(shè)計。然而,隨著技術(shù)躍進到533MTps或更高,內(nèi)插板設(shè)計變得太具侵略性,并將產(chǎn)生負載、反射、分支短根(STub)和不可接受的通道延遲。

現(xiàn)在存在一個難題。新技術(shù)意味著仿零點和模型沒有提供讓人對產(chǎn)品產(chǎn)生信心的足夠的技術(shù)細節(jié)。因而,物理測量非常關(guān)鍵,不過通過連接器的簡單連接不再可行了。

下面兩個實例顯示了解決連接難題的不同解決方案。一個實例考察怎樣針對HyperTransport鏈路設(shè)計連接器,另一個則檢查內(nèi)插板式解決方案不再可行的AGP3.0端口。兩個方案都被開發(fā)用以支持分析探測的連接。在每種情況下,設(shè)計工程師進行廣泛的Spice仿真,以及實實在在的物理驗證,以證明所述連接解決方案要的有效性和可靠性。

HyperTransport

作為一個創(chuàng)新型的串行連接接口,HyperTransport可以在理論值為16GBps的速率傳輸數(shù)據(jù)。物理層采用了具有800mV壓擺和200ps數(shù)據(jù)有效窗的LVDS信號技術(shù)。如前所述,由于HyperTransport沒有任何連接器,它也提出了獨特的挑戰(zhàn)。沒有連接器,對于問題根本原因的跟蹤、對于復雜時序的捕獲和對系統(tǒng)穩(wěn)定性的確認,即使不是不可能的,也會變得很困難。

為了接入HyperTransport鏈路,連接器必須被設(shè)計到目標系統(tǒng)中。這里Spice模型顯示了HyperTransport鏈路規(guī)范、80針RobinsON Nugent連接器和Future Plus FS2240 HyperTransport分析探測器的值。此例用于說明目的。

FS2240被設(shè)計用于對兩臺HyperTranspor設(shè)備之間進行采樣。每一個單向連接鏈路安排一個探測連接。8b鏈路包括8個數(shù)據(jù)信令、1個控制信令和1個時鐘信令,而16b鏈路包括16個數(shù)據(jù)信令、1個控制信令和2個時鐘信令。目標設(shè)計的HyperTransport信號被通過孤立的尖端電阻連至探測器。當探測器附著于目標時,它在每個鏈路的差分對之間僅呈現(xiàn)標稱負載。

利用前一代嵌入式總線,對于設(shè)計工程師而言典型的測試解決方案是,在板布局設(shè)計中包含一個測試連接器。在較低的頻率上,所產(chǎn)生的分支短根(stub)對總線的影響極小。但在現(xiàn)今差分總線的頻率上,分支短根就成為不可接受的反射源。一種簡單的解決方案是對連接器連接端和鏈路之間,以尖端電阻器進行橋接。當不再需要測試連接時,只要去掉尖端電阻器以消除分支短根相關(guān)的問題。

當需要從設(shè)計走向制造時,只要不加載尖端電阻器和連接器,僅留下連接器的連接端。該解決方案還有一個隱藏的好處:如果產(chǎn)品在現(xiàn)場失效,或整個產(chǎn)品系列出現(xiàn)問題,很容易連至總線以驗證操作。簡單地加載連接器和尖端電阻,板就準備好可以進行測試了。

為使對目標HyperTransport的影響降至最小,必須仔細地將連接設(shè)計到電路中。這些通過采用Spice模型作為電路仿真的一部分而實現(xiàn)。正確的尖端電阻值、連接器的放置和線路長度,對于組合連接器和減小對鏈路的影響都很重要。目標設(shè)計要求包括:從驅(qū)動設(shè)備到連接器的延遲得到補償;到連接器的最大刻蝕長度有限;從目標信號到尖端電阻器的分支短根長度最小。

圖1顯示了從驅(qū)動器到的Robinson Nugent連接器的推薦的刻蝕長度。注意,在數(shù)據(jù)鏈路和時鐘線之間線路長度之差必須在±0.02英寸范圍內(nèi)。還有,差分對之間的線路長度之差限制在±0.02英寸??傊?,從驅(qū)動器到連接器之間的線路長度被定義在小于4英寸。
       
為幫助設(shè)計工程師對設(shè)計進行的優(yōu)化,也確定了線路的阻抗值。在226Ω尖端電阻輸入側(cè)的最小信號電壓應(yīng)為550mV標稱值,如HyperTransport規(guī)范。給出的值基于1GHz的時鐘頻率,如果時鐘頻率低于1GHz,可以采用更長的線路長度。

仿真得出的預計顯示了設(shè)計中沒有連接器或尖端電阻器的數(shù)據(jù)線的信號特性(圖2a),和在設(shè)計中加入連接器和226Ω尖端電阻器的信號特性(圖2b)。scope-like波形顯示增加連接器、226Ω尖端電阻器以及我們的分析探測裝置,導致小于7%的信號減弱。

如同工程學中的每件情一樣,該解決方案也有折衷。它要求在板上留有空間以安裝連接器,包括禁用區(qū)以連接FS2240測試連接器的外殼。選擇80針RobinsonNugent連接器的原因之一在于它小巧的外型尺寸和高頻特性。到目前為止,最大的折衷是在連接器內(nèi)設(shè)計所要做的工作。

增加測試連接器要求進行規(guī)劃。不事先考慮好就意味著你將無法對電路進行測試,或者你以后需要增加連接器。第一種情況將導致出售沒有進行完整特性定義的產(chǎn)品,在第二種情況下,增加連接器會嚴重延遲產(chǎn)品開發(fā)。像生活中的大多數(shù)事情一樣,開始時的一點點計劃,將在后來節(jié)省大量的時間和金錢。

AGP3.0

這一代產(chǎn)品具有800mV壓擺,266MTps(4X)和533MTps(8X)的數(shù)據(jù)速率。前一代產(chǎn)品AGP2.0具有266MTps最大數(shù)據(jù)速率,但壓擺為1.5V。采用533MTps的速率,壓擺減小50%,使采用AGP4X內(nèi)插板極為困難,甚至是不可能的。

給定AGP信號特性和總線帶寬,與針對HyperTransport所做的相類似,另一款連接器的設(shè)計將非常困難。所以,我們開發(fā)出一種獨特的探測解決方案,利用現(xiàn)在PCI連接器的長處,同時防止了內(nèi)插板可能引致的信號延遲和負載。

連接解決方案為一種柔性/局部柔性(stiffened-flex)性PCB,它直接焊接到目標AGP連接器后端(焊接端)。如圖3所示,探測器適配器將包括獨立的尖端電阻器和用于探測器線纜適配器的連接器,見圖4的說明。

探測器適配器的所有元件安裝在與目標相對的一側(cè),這支持了目標上適配器的嵌入安裝。采用柔性電路以附著于連接器,最大限度地利用了板空間,并保持了信號的完整性。它也提供了一種能夠被用于量產(chǎn)系統(tǒng)和原型板的連接系統(tǒng)。

該解決方案必須要求在目標AGP連接器附近有一小塊元件禁用區(qū)。由于新型主板的密度增加,這一要求對于一些量產(chǎn)產(chǎn)品也許很困難。此外,從連接器的穿孔必須足夠長以焊上柔性電路。一旦附著了柔性電路,就很難去掉而不在不經(jīng)意之間損壞探測器適配器。這樣,鑒于所有實際的原因,探針應(yīng)當被當作消耗品。

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